Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "74.78.Bz" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Study of Excimer Laser Irradiation Effects on Properties of Crystalline YBaCuO Thin Films
Autorzy:
Abal'oshev, A.
Abal'osheva, I.
Lewandowski, S. J.
van der Beek, C. J.
Konczykowski, M.
Rizza, G.
Barbanera, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2038396.pdf
Data publikacji:
2004-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
74.25.Fy
74.72.Bk
74.78.Bz
81.15.Fg
Opis:
The influence of UV laser irradiation on the physical properties of epitaxial YBa$\text{}_{2}$Cu$\text{}_{3}$O$\text{}_{7-δ}$ thin (<1μm) films fabricated by laser ablation was studied. The samples were irradiated by pulsed excimer laser beam at different incident energy densities E$\text{}_{ir}$≤130 mJ/cm$\text{}^{2}$, i.e. 2-3 times below the ablation threshold of YBaCuO. The analysis of the sample cross-section using transmission electron microscope shows that such irradiation forms a disordered layer on the top of the crystalline film. Sample surface amorphization was observed also by atomic force microscope. Due to strong UV irradiation absorption in YBaCuO this surface layer acts like a protective cover for the sample interior. Only a small reduction of superconducting critical temperature T$\text{}_{c}$ was observed. Both transport measurements in normal state and magneto-optical studies in superconducting state indicate that between the disordered layer and the bottom non-modified part of the film there exists a wide transitional region with reduced carrier concentration.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2004, 106, 5; 681-685
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Strain Relaxation in Thin Films of La$\text{}_{1.85}$Sr$\text{}_{0.15}$CuO$\text{}_{4}$ Grown by Pulsed Laser Deposition
Autorzy:
Zaytseva, I.
Cieplak, M. Z.
Abal'oshev, A.
Berkowski, M.
Domukhovski, V.
Paszkowicz, W.
Shalimov, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2047252.pdf
Data publikacji:
2007-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.-a
74.62.-c
74.72.Dn
74.78.Bz
74.25.Fy
Opis:
X-ray diffraction, resistivity, and susceptibility measurements are used to examine the effects of film thickness d (from 17 to 250 nm) on the structural and superconducting properties of La$\text{}_{1.85}$Sr$\text{}_{0.15}$CuO$\text{}_{4}$ films grown by pulsed laser deposition on SrLaAlO$\text{}_{4}$ substrates. For each d the film sgrow with a variable strain, ranging from a large compressive strain in the thinnest films to a negligible or tensile strain in thick films. Our results indicate that the tensile strain is not caused by the off-stoichiometric layer at the substrate-film interface. Instead, it may be caused by the extreme oxygen deficiency in some of the films.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2007, 111, 1; 185-188
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies