Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Lentka, G." wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej z wykorzystaniem CPS
High impedance spectroscopy analyzer using DSP
Autorzy:
Hoja, J.
Lentka, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153824.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
pomiar impedancji
spektroskopia impedancyjna
cyfrowe przetwarzanie sygnałów
impedance measurement
impedance spectroscopy
digital signal processing
Opis:
W artykule przedstawiono opracowany i wdrożony do produkcji seryjnej analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej. Dzięki zastosowaniu obwodu wejściowego w postaci sondy pomiarowej (2 i 3 zaciskowej) analizator umożliwia pomiary w zakresie 100 Ω < |Zx| < 100 GΩ. Do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych wykorzystano technikę cyfrowego przetwarzania sygnałów. Pozwoliła ona na pomiary w szerokim zakresie częstotliwości od bardzo niskich 100 ΜHz do 1 MHz. Analiza rzeczywistych parametrów sond, umożliwiła wyznaczenie zależności korygujących wyniki pomiaru, które zaimplementowane w oprogramowaniu analizatora, zwiększyły dokładność pomiaru impedancji.
The paper presents the developed high impedance spectroscopy analyzer which was putted into production. The analyzer allows to measure in the range of 100Ω < |Zx| < 100 GΩ thanks to the usage of the input circuitry in form of the measurement probe (2 and 3 terminal). The digital signal processing technique was used to determine orthogonal parts of the measurement signals. This allows measuring in a wide frequency range from very low 100 ΜHz up to 1 MHz. The analysis of the real-life parameters of the probes made possible evaluation of correction formulas which were implemented in analyzer software and increased accuracy of the impedance measurement.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 3, 3; 102-105
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ograniczenia wirtualnego miernika impedancji opartego na karcie akwizycji danych
The limitations of virtual impedance meter based on a data acquisition card
Autorzy:
Hoja, J.
Lentka, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/152316.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
pomiar impedancji
pomiary elementów RLC
karta akwizycji danych
cyfrowe przetwarzanie sygnałów
impedance measurement
RLC measurement
data acquisition card
digital signal processing
Opis:
W artykule przedstawiono wirtualny miernik parametrów elementów RLC, zrealizowany w oparciu o komputer PC z zainstalowaną kartą akwizycji danych (PCI-6040E) wyposażoną w przetworniki a/c i c/a. Analizowano właściwości metrologiczne miernika zależne od parametrów zastosowanej karty. Przeprowadzono badania symulacyjne błędu pomiaru pojemności uwzględniające rozdzielczość i częstotliwość próbkowania przetwornika a/c oraz jego czas konwersji wpływający na przesunięcie fazowe pomiędzy próbkowanymi na przemian sygnałami pomiarowymi. Analizowano także wpływ przecieku widma na dokładność pomiaru, spowodowanego nie spełnieniem warunku zbierania próbek w całkowitej liczbie okresów sygnału pomiarowego.
The paper presents virtual meter of impedance parameters of RLC elements based on personal computer with installed data acquisition card (PCI-6040E) equipped with AD and DA converters. The metrological properties of the instruments depending on the parameters of the used card have been analysed. Simulation tests of the capacitance measurement error have been performed taking into account the resolution and sampling frequency of the AD converter and the conversion time influencing the phase shift between measurement signals which are sampled sequentially. The influence of the spectral leakage caused by missed condition of collecting samples in the integer number of periods of measurement signal on the measurement accuracy has been also analysed.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 657-660
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies