Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Frankiewicz, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Overheat protection circuit for high frequency processors
Autorzy:
Frankiewicz, M.
Kos, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/200992.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
PTAT
overheat
CMOS
VLSI
full-custom design
Opis:
The paper describes design and structure of the overheat protection circuit based on the PTAT sensors. The digital core of the system is driven by a 3-bit information generated by the structure. As a result, behaviour of the core differs for each temperature. The circuit was designed in LF CMOS 0.15 ěm technology using full-custom technique. The presented paper focuses especially on the structure of the overheat protection circuit and simulations results of the functional blocks of the system. Layout and some parameters of the circuit are also considered.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2012, 60, 1; 55-59
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Investigation of heat transfer in integrated circuits
Autorzy:
Frankiewicz, M.
Gołda, A.
Kos, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220533.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
temperature
heat transfer
VLSI
electric analogy
Opis:
The paper analyzes the phenomenon of heat transfer and its inertia in solids. The influence of this effect on the operation of an integrated circuit is described. The phenomenon is explained using thermal analogy implemented in the Spice environment by an R-C thermal model. Results from the model are verified by some measurements with a chip designed in CMOS 0.7 μm (5 V) technology. The microcontroller-based measurement system structure and experiment results are described.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2014, 21, 1; 111-120
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies