Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Grodecki, W." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
CVD Growth of Graphene Stacks on 4H-SiC (0001) Surface - X-ray Diffraction and Raman Spectroscopy Study
Autorzy:
Tokarczyk, M.
Kowalski, G.
Grodecki, K.
Urban, J.
Strupiński, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1399073.pdf
Data publikacji:
2013-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.48.Gh
61.72.Dd
63.22.Rc
Opis:
Features associated with short and prolonged growth time in the chemical vapor deposition process of growth of graphene stacks on SiC (0001) substrate are reported. In particular general bimodal (as far as $d_{002}$ interlayer spacing is concerned) distribution of graphene species across the surface of the samples is observed. It consists of thin few layer graphene coverage of most of the sample surface accompanied by thick graphite-like island distribution. It points to the two independent channels of graphene stacks growth with two characteristic growth rates.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2013, 124, 5; 768-771
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Raman Studies of Defects in Graphene Grown on SiC
Autorzy:
Grodecki, K.
Bożek, R.
Borysiuk, J.
Strupinski, W.
Wysmolek, A.
Stępniewski, R.
Baranowski, J. M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2047919.pdf
Data publikacji:
2011-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.48.Gh
78.30.Fs
Opis:
The Raman scattering studies of multi-layer graphene obtained by high temperature annealing of carbon terminated face of 4H-SiC(000-1) substrates are presented. Intensity ratio of the D and G bands was used to estimate the average size of the graphene flakes constituting carbon structures. The obtained estimates were compared with flake sizes from atomic force microscopy data. We found that even the smallest structures observed by atomic force microscopy images are much bigger than the estimates obtained from the Raman scattering data. The obtained results are discussed in terms of different average flake sizes inside and on the surface of the multi-layer graphene structure, as well as different type of defects which would be present in the investigated structures apart from edge defects.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 5; 595-596
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies