Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "32.30.Rj" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Measurement of L Shell X-Ray Production and Average L Shell Fluorescence Yields for Some Heavy Elements at 123.6 keV
Autorzy:
Apaydin, G.
Aylikçi, V.
Kaya, N.
Cengiz, E.
Tiraşoğlu, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1812352.pdf
Data publikacji:
2008-06
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
32.30.Rj
32.50.+d
32.80.Fb
Opis:
The $L_{3l},$ $L_{3α},$ $L_{3β},$ $L_{2β},$ $L_{2γ},$ $L_{2η},$ $L_{1β}$ and $L_{1γ}$ X-ray production cross-sections and L shell average fluorescence yields were measured for the elements from Re to U using excitation energy of 123.6 keV. Measurements were performed using an $\text{}^{57}Co$ annular radioactive source and a Si(Li) detector. The theoretical values of the cross-sections were calculated using theoretically tabulated values of subshell photoionization cross-sections;the Coster-Kronig transition probabilities were based on the Dirac-Hartree-Slater theory and radiative emission rates. Experimental results were compared with the theoretically calculated values of L shell X-ray cross-sections. The present experimental results are in agreement with theoretical values.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 6; 1629-1638
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Investigation on Zinc Selenide and Copper Selenide Thin Films Produced by Chemical Bath Deposition
Autorzy:
Durdu, B.
Alver, U.
Kucukonder, A.
Söğüt, Ö.
Kavgacı, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1399499.pdf
Data publikacji:
2013-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
32.30.Rj
78.70.En
32.30.-r
32.80.Fb
Opis:
The zinc selenide and copper selenide thin films were deposited by chemical deposition technique on glass substrates. For both films, sodium selenosulphate was used as a selenide ion source in an alkaline solution. The X-ray diffraction patterns show that the ZnSe has a cubic structure and $ Cu_3Se_2 $ film has a tetragonal structure. The relative intensity $ K_β / K_α $ of zinc and copper selenide thin films has been measured by using a $ \text{}^{241}Am$ radioisotope source (75 mCi). The obtained results were compared with the theoretical values.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2013, 124, 1; 41-45
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Examination of the change of the characteristic X-rays of the zinc in fluorine- and boron-doped ZnO thin films
Autorzy:
Söğüt, Ö.
Kerli, S.
Cengiz, E.
Apaydın, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1050909.pdf
Data publikacji:
2018-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
32.30.Rj
78.70.En
32.30.-r
32.80.Fb
Opis:
In this study, K_{β}/K_{α} X-ray intensity ratios of zinc in pure zinc, undoped ZnO thin film and boron and fluorine-doped ZnO thin films have been investigated. These samples have been excited by 59.5 keV γ-rays from a ^{241}Am annular radioactive source. K X-rays emitted by the samples have been counted using an Ultra-LEGe detector with a resolution of 150 eV at 5.9 keV. The K_{β}/K_{α} X-ray intensity ratios of the doped ZnO thin films have been compared with that of the undoped ZnO thin film. The deviations between the results can be explained by delocalization and/or charge transfer phenomena causing change in valence electronic configuration of zinc.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2018, 133, 5; 1124-1128
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies