Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Jaglarz, J." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Ellipsometric and Spectrophotometric Investigations of Porous Silica Thin Films Produced by Sol-Gel Method
    Autorzy:
    Skoczek, E.
    Jaglarz, J.
    Karasiński, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1493259.pdf
    Data publikacji:
    2011-10
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    81.20.Fw
    83.80.Jx
    07.60.Fs
    07.60.Rd
    Opis:
    The work presents the optical properties of porous silica thin films prepared by TEOS sol-gel method. The films were deposited onto glass substrate using dip-coating technique. The spectroscopic ellipsometry measurements have been performed to determine the optical constants of the films. This technique also enabled evaluation of the depolarization for the investigated layers. Additionally, the spectrophotometric measurements of transmittance and reflectance by the use of integrating sphere and reflectance probe have been made with the aim of possible application of the films as antireflective coatings.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 4; 732-735
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Thermo-Optical Parameters of Amorphous a-C:N:H Layers
    Autorzy:
    Pieczyńska, E.
    Jaglarz, J.
    Marszalek, K.
    Tkacz-Śmiech, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1377543.pdf
    Data publikacji:
    2014-12
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    07.60.Fs
    78.20.-e
    78.20.Ci
    78.20.N-
    78.30.Ly
    81.05.U-
    81.15.Gh
    Opis:
    Thermo-optical properties of hydrogenated amorphous carbon nitride layers (a-C:N:H) deposited on crystalline silicon by plasma assisted chemical vapour deposition were studied. The layers were characterized by the Fourier transform infrared spectroscopy and their chemical composition, i.e. [N]/[C] ratio, was determined by energy dispersive X-ray technique. The optic measurements were made by spectroscopic ellipsometer Wollam M2000 equipped with a heated vacuum chamber. The measurements of ellipsometric angles were carried out during heating the sample from room temperature to 300°C. Refractive index, extinction coefficient and the layer thicknesses were calculated by fitting the model of the layer to the ellipsometric data. The results confirm that at about 23°C the layer properties are changed. The measured thermo-optical parameters, dn/dT and dk/dT, show abrupt change from negative to positive values which can be explained by structure graphitization. Simultaneously, the bandgap decreases from 2.5 to 0.7 eV and the layer thickness drops to about 50% of the initial value.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2014, 126, 6; 1241-1245
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Influence of Rare Earth Ions on the Optical Properties of Tellurite Glass
    Autorzy:
    Burtan, B.
    Reben, M.
    Cisowski, J.
    Wasylak, J.
    Nosidlak, N.
    Jaglarz, J.
    Jarząbek, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1493034.pdf
    Data publikacji:
    2011-10
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    07.60.Fs
    81.05.Pj
    42.70.Ce
    78.66.Jg
    Opis:
    The goal of this work was to investigate the influence of rare-earth ions such as $Nd^{3+}$ and $Er^{3+}$ on the optical properties of tellurite glass of the $TeO_2-WO_3-PbO-La_2O_3$ system. The optical studies of the glasses comprised spectrophotometry (reflectance and transmittance) and spectroscopic ellipsometry. The spectrophotometric measurements yield a number of narrow absorption bands which correspond to characteristic transitions between the ground- and consecutive excited states of rare-earth ions. From ellipsometric studies, in turn, the dispersion of the refraction coefficient has been obtained which appears to be practically the same for the tellurite glass matrix and the matrix doped with $Nd^{3+}$ and $Er^{3+}$ ions.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 4; 579-581
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies