Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Tomczyk, M" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Badania mikropołączeń spawanych laserem metodą termowizji aktywnej
Investigations of laser welded joints using active thermography
Autorzy:
Świątczak, T.
Tomczyk, M.
Więcek, B.
Pawlak, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/154528.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
mikropołączenia elektryczne spawane laserem
badania nieniszczące
termografia aktywna
laser welded joints
non-destructive examination
active thermography
Opis:
W pracy opisano badania mikropołączeń elektrycznych spawanych metodą laserową z wykorzystaniem techniki termografii aktywnej. Zaproponowana nowa metoda badawcza jest nieniszcząca, pozwala zbadać jakość połączenia (w tym wykryć defekt wewnętrzny) bez ingerencji w próbkę. Przeprowadzono badania termowizyjne, proponując przyporządkowanie badanych połączeń do dwóch grup: połączenia prawidłowe oraz zawierające wewnętrzny defekt. Wybrane parametry określające jakość badanego połączenia to stała czasowa odpowiedzi termicznej w dziedzinie czasu oraz zespolona faza odpowiedzi termicznej (po zastosowaniu transformaty Fouriera). Rezultatem prac jest nieniszcząca metoda badań termowizyjnych, pozwalająca na określenie jakości mikropołączeń połączeń elektrycznych spawanych laserem.
Formation of gas voids inside wire joints during laser welding may cause internal defects (cracks and porosity) invisible from outside (Fig. 1). The authors propose application of active thermography to detection of such defects. The proposed new method is non-destructive and allows detection of internal defects in materials as well as evaluation of thermal properties. A thermal camera was used to acquire sequences of thermograms showing the joints during transient heating (Figs. 3 and 4). Electrical connections between two nickel wires of 0.5 mm diameter made by laser welding were used as a subject of the research. The samples with and without internal defects were chosen for investigations (Fig. 1). One of the parameters which can be used to describe quality of the investigated connection is time constant τ (Fig. 6) . In the paper the authors divided the samples in two groups: defective and non-defective. Next, the fast Fourier transform (FFT) for all samples was calculated. There were obtained the thermal impedance values in the frequency domain [11]. The Fourier analysis enabled calculation of the phase value, which is different for defective and non-defective samples (Fig. 7.) and confirmed the applied "time constant method". By means of the active thermography technique, it was possible to estimate the quality of the investigated laser welded joints.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 10, 10; 1214-1217
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ocena dokładności pomiarów w mikrotechnologiach materiałowych
Estimation of measurement accuracy in materials microtechnologies
Autorzy:
Pawlak, R.
Klimek, L.
Kawczyński, R.
Tomczyk, M.
Walczak, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158244.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
dokładność pomiarów
laserowe mikrotechnologie materiałowe
measurements accuracy
materials laser microtechnologies
Opis:
Pomiar różnorodnych wielkości fizycznych, określających cechy materiałowe elementów, podlegających obróbce przestrzennej lub modyfikacji w wyniku oddziaływania wiązki laserowej jest trudny ze względu na mikroskopijne wymiary elementów finalnych. W artykule omówiono wybrane zagadnienia dokładności pomiarów w trakcie opracowywania nowej technologii w skali mikrometrowej (pomiary parametrów wiązki laserowej, określania właściwości strukturalnych i mikrotwardości jako wybranej cechy funkcjonalnej).
Majority of material technologies making use of a laser beam are micro-technologies in micrometer- or even nanoscale. Such technological processes, considering that the volume of materials undergoing modification or synthesis as a result of laser treatment is extreme small, are very difficult to control in real time ("on line"). Therefore, proper elaboration of the microtechnology in order to prevent a measurement of large number of parameters during its multiple reproduction is the task of great importance. Direct use of measuring methods for macroscopic material objects is not acceptable. Generally, there are not many sophisticated measuring methods and systems for micro- or nanoscale. Problems of measurement accuracy are discussed in the paper. The authors tried to solve them during their research at different stages of new laser microtechnologies. The presented issues include measurements of selected laser beam parameters, structural evaluation, among other, electron microanalysis and some functional properties of elements produced by laser technology.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 10, 10; 1213-1216
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Hierarchie dynamicznej dokładności systemów pomiarowych dla błędu całkowo-kwadratowego
Dynamic accuracy hierarchies of measuring systems for the integral-square error
Autorzy:
Tomczyk, K.
Sieja, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151738.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
błąd dynamiczny
hierarchia dokładności
algorytm genetyczny
dynamic error
hierarchy of accuracy
genetic algorithm
Opis:
W artykule przedstawiono zastosowanie teorii błędów maksymalnych do wyznaczania hierarchii dynamicznej dokładności systemów pomiarowych dla przypadku kryterium całkowo-kwadratowego. Przedstawiono procedurę wyznaczania sygnałów maksymalizujących powyższe kryterium z wykorzystaniem algorytmu genetycznego i w odniesieniu do wzorca realizującego transformację niezniekształcającą. Ograniczenia nałożone na sygnały maksymalizujące dotyczą amplitudy i prędkości narastania. W [1] zamieszczono wyniki badań dolnoprzepustowych układów czwartego rzędu dla przypadku dziedziny czasu ciągłego, natomiast poniższy artykuł przedstawia rozwiązania dotyczące układów trzeciego rzędu uzyskane dla przypadku czasu dyskretnego w oparciu o relacje omówione szczegółowo w [2].
The paper presents an application of maximum error theory for determining the dynamic accuracy hierarchies of measurement systems in case of the integral-square criterion. The calibration procedure presented by means of the maximum errors is independent of the input signal shape in such a sense that a signal of any shape which could appear at the investi-gated system input can generate the error which will always be less than this maximum value or, at most, equal to it. In such a way, the values of maximum errors can create the basis for the dynamic accuracy hierarchy, just like class indexes create the basis for hierarchies of accuracy of the instruments applied for static measurements. The constraints imposed on the input signal refer to the magnitude as well as maximum rate of a signal change. For the considered error criterion, no analytic solution referring to the maximizing signal shape has been found so far, because the space of possible solutions is infinite and of infinite dimension. For that reason the solution of this problem presented in the paper is based on application of the genetic algorithm method. The dynamic accuracy hierarchies are presented as a result of research of low-pass measuring systems by means of a computer program imple-mented in MatLab.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 11, 11; 927-929
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies