Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Mrozek, A." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-7 z 7
    Tytuł:
    Schedulability timing analysis of exchange information for real-time system
    Analiza czasowa zadań wymiany informacji w systemie czasu rzeczywistego
    Autorzy:
    Mrozek, M.
    Majcher, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/256719.pdf
    Data publikacji:
    2006
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    system czasu rzeczywistego
    analiza czasowa
    protokół komunikacyjny
    real-time system
    timing analysis
    communications protocol
    Opis:
    This paper presents a schedulability timing analysis for a two-processor real-time system. This system enables to work with other devices in the dispersed industrial network with a protocol of data transmission Modbus RTU. A method of transmission information between a master microprocessor and a slave microprocessor of the system was described. An optimisation method, with the help of specialist software TimesTool, was done, which is used for modelling and schedulability analysis of embedded real-time systems.The simulation tests shortened the time needed for working out the method and decreased the numbers of errors in the designed system.
    W artykule przedstawiono analizę czasową zadań wykonywanych w dwuprocesorowym systemie czasu rzeczywistego. System ten charakteryzuje się możliwością współpracy z innymi urządzeniami w rozproszonej sieci przemysłowej z odpowiednim protokołem transmisji danych (Modbus RTU). Dokonano analizy czasowej zadań wymiany informacji między mikroprocesorem głównym i mikroprocesorem komunikacyjnym. Przy wykorzystaniu specjalistycznego oprogramowania TimesTool do modelowania i analizy zadań w systemach czasu rzeczywistego zoptymalizowano metodę wymiany informacji między mikroprocesorem głównym i mikroprocesorem komunikacyjnym systemu. Zastosowanie badań symulacyjnych skróciło czas opracowywania metody, zmniejszając liczbę błędów w projektowanym systemie.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2006, 4; 49-58
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Hardware and software correction method of piezo scanner nonlinearity in scanning microscope
    Sprzętowo-programowa metoda korekcji nieliniowości piezoskanera w mikroskopie skaningowym
    Autorzy:
    Pawłowski, S.
    Majcher, A.
    Mrozek, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/256178.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    scanning microscope
    piezo scanner
    piezo scanner nonlinearity correction
    mikroskop skaningowy
    piezoskaner
    korekcja nieliniowości piezoskanera
    Opis:
    An inherent feature of the piezo scanner in scanning probe microscopy is their time-varying nonlinear. This results in a distortion of images and a difficulty of the measurements that require adequate control of the current position of the cantilever with respect to the sample surface. This paper presents methods of correcting a nonlinear piezo scanner. The advantages and disadvantages of each solution are pointed out, and the developed hardware and software correction methods are described. The correction is performed by a digital system made up of high-speed analogue-to-digital converters and a FPGA programmable system in which the correction algorithms are implemented. These algorithms determine, on the basis of actual measurement data, a set of correction factors for different areas and scanning speed. This set can be modified during each scanning process. This method of hardware and software use does not slow down scanning speed, and it maintains high resolution measurements.
    Inherentną cechą piezoskanerów w mikroskopach skanujących jest ich zmienna w czasie nieliniowość. Skutkuje ona zniekształceniami uzyskiwanych obrazów oraz trudnościami prowadzenia pomiarów wymagających adekwatnej kontroli aktualnego położenia cantilevera w stosunku do powierzchni próbki. W artykule przedstawiono metody korekcji nieliniowości piezoskanera. Wskazano zalety i wady poszczególnych rozwiązań oraz opisano opracowaną sprzętowo-programową metodę korekcji. Korekcja realizowana jest przez system cyfrowy złożony z szybkich przetworników analogowo-cyfrowych oraz układu programowalnego FPGA, w którym zaimplementowane są odpowiednie algorytmy. Algorytmy te wyznaczają, na podstawie rzeczywistych danych pomiarowych, zbiór współczynników korekcyjnych dla różnych szybkości i obszarów skanowania. Zbiór ten może być modyfikowany podczas każdego procesu skanowania. Metoda sprzętowo-programowa nie spowalnia szybkości skanowania, przy zachowaniu wysokiej rozdzielczość pomiarów.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2013, 1; 67-76
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Układ do zsynchronizowanych pomiarów sygnałów z czujników tensometrycznych
    Strain gauges synchronized measurement system
    Autorzy:
    Majcher, A.
    Mrozek, M.
    Przybylski, J.
    Zbrowski, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/257978.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    monitorowanie udarów
    udar o dużej prędkości
    wyzwalanie pomiarów
    czujnik tensometryczny
    programowanie LabView
    impact monitoring
    high velocity impact
    measurement trigger
    strain gauge
    LabView programming
    Opis:
    W artykule przedstawiono rozwiązanie układu do zsynchronizowanego dynamicznego pomiaru sygnałów z rezystancyjnych czujników tensometrycznych. Synchronizacja korzysta z trzech metod: wyzwalania sygnałem cyfrowym (zdarzeniem), wykrywania odpowiedniej wartości mierzonego sygnału analogowego, wyzwalania sygnałem aktywacji, po którym następuje zmienny interwał czasowy do chwili odpowiedzi czujników. Scharakteryzowano każdą z metod w aspekcie zastosowania układu do pomiarów efektów uderzeń obiektów o dużych prędkościach. Opisany układ może znaleźć zastosowanie w monitorowaniu i analizie uszkodzeń, pracach związanych z dynamiką płynów i gazów, akustyką, badaniami wytrzymałościowymi materiałów i obiektów.
    The article describes system for synchronised measurements of signals from strain gauges. Synchronization utilises three methods: event driven triggering by digital signal, detecting the suitable value of measured analog signal, triggering by the starting of the pulse used to activate the actuator after which stochastic interval follows till the moment of the answer of sensors. The methods were characterised in terms of the application of the system in the measurement of impact effects of high velocity objects. The described system can be used in monitoring and fault detection, in works connected with dynamics of liquids and gases, acoustics, the analysis of materials the and objects damages.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2010, 4; 59-66
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System sterowania procesem spiekania proszków metodą impulsowo-plazmową
    Pulse-plasma sintering process control system
    Autorzy:
    Majcher, A.
    Gospodarczyk, A.
    Mrozek, M.
    Przybylski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/257637.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    system sterowania
    technologia
    spiekanie proszków
    metoda PPS
    zasilacz impulsowy dużej mocy
    ignitron
    process control system
    sintering technology
    PPS method
    high power pulse supply
    Opis:
    W artykule przedstawiono system sterowania nowatorskim procesem spiekania proszków metodą impulsowo-plazmową (PPS). Opracowano go z wykorzystaniem normy sterowania procesów wsadowych. Opisano model procesu, model proceduralny systemu sterowania oraz funkcje realizowane przez system, związane głównie z opracowanym specjalizowanym zasilaczem dużej mocy do ładowania kondensatorów. System zastosowano w urządzeniu technologicznym wdrożonym na Wydziale Inżynierii Materiałowej Politechniki Warszawskiej.
    The paper presents a control system for innovative pulse plasma sintering process (PPS). It was designed on the basis of the batch control standard. The process model, procedural model of control system, system functions mainly connected with its own designed dedicated high power supply for capacitors load was described. This control system was put into practice in a technological apparatus made for the Materials Engineering Faculty of Warsaw Technical University.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2007, 1; 127-136
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Układ do precyzyjnego zasilania magnetronowych źródeł plazmy
    Precision power supply for magnetron plasma source
    Autorzy:
    Gospodarczyk, A.
    Majcher, A.
    Mrozek, M.
    Przybylski, J.
    Neska, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/256822.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    zasilacz
    magnetronowe źródło plazmy
    zasilacz polaryzacji podłoża
    zasilacz impulsowy
    przetwornica mocy DC/DC
    power supply
    magnetron plasma source
    bias power supply
    switched power supply
    high power DC/DC converter
    Opis:
    W artykule przedstawiono opracowany w ITeE - PIB układ do precyzyjnego zasilania magnetronowych źródeł plazmy z układem szybkiej reakcji na dynamiczne zmiany parametrów wyjściowych. Przeprowadzono badania opracowanego zasilacza. Wykorzystano w nich autorski symulator mikrozwarć, który umożliwia efektywne testowanie modułu blokowania mikrozwarć na wyjściu zasilacza. Opracowaną konstrukcję charakteryzuje szybka odpowiedź na dynamiczne zmiany obciążenia oraz duża rozdzielczość regulacji przebiegu wyjściowego, co zapewnia właściwą pracę w urządzeniach technologicznych przeznaczonych m.in. do konstytuowania powłok nanometrycznych oraz powłok kompozytowych o dokładnie określonym składzie.
    The paper presents, developed in ITeE - PIB, precision power supply with fast response to dynamic change in output parameters for magnetron plasma source . Investigation of this power supply are described. Used in them original micro short circuit simulator, which allows efficient testing of the short circuit block output module of the power supply. The designed device is characterized by fast dynamic response to load changes and high resolution output. It allows proper operation of technological equipment for such processes as the constitution of the nano-scale coatings and composite coatings with a well defined composition.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2011, 4; 149-159
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Mikroskop STM/AFM do zastosowań badawczych w zaawansowanych technologiach w przemyśle oraz w dydaktyce szkół wyższych
    STM/AFM microscope for application in industrial advanced technologies and the high schools education
    Autorzy:
    Majcher, A.
    Mrozek, M.
    Zbrowski, A.
    Olejniczak, W.
    Pawłowski, S.
    Piskorski, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/256874.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    mikroskop STM/AFM
    magistrala VME
    konstrukcja modułowa
    microscope STM/AFM
    VME bus
    modular construction
    Opis:
    W artykule przedstawiono zagadnienia konstrukcyjne związane z budową i oprogramowaniem tunelowego mikroskopu skaningowego oraz mikroskopu sił atomowych. Opracowane urządzenie łączy obydwie funkcje, a dostosowanie do spełniania jednej z nich odbywa się przez wymianę jednej z części głowicy pomiarowej oraz uruchomienia odpowiedniego fragmentu oprogramowania. Z uwagi na przeznaczenie mikroskopu do badań przemysłowych oraz do nauczania podstaw nanotechnologii w szkołach wyższych zostały zastosowane rozwiązania ułatwiające obsługę, a zwłaszcza proces wstępnej regulacji aparatury. Dzięki zastosowaniu modularnej konstrukcji aparatury oraz oprogramowania możliwe jest przystosowanie urządzenia do dalszej rozbudowy rozszerzającej zakres aplikacji.
    Construction matters connected with software of scanning tunneling microscope and atomic force microscope have been presented in the article. Those presented devices connect both functions and adaptation of one of the functions which is held by an exchange of one of the parts of the measure heads and by setting an appropriate part of the software in motion. Taking into consideration the fact that the microscope is going to be used in industrial tests as well as to teach basis of nanotechnology at universities, some solutions that made the operation easier have been used - especially the process of initial regulation of the device. Thanks to the implementation of modular construction of the device and the software it is possible to accommodate the device to extend the range of applications.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2011, 3; 177-188
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Imaging system using higher-harmonic in the tapping mode of the ”Terra AFM” microscope
    System obrazowania wykorzystujący wyższe harmoniczne w trybie kontaktu przerywanego mikroskopu „Terra AFM”
    Autorzy:
    Pawłowski, S.
    Dobiński, G.
    Smolny, M.
    Majcher, A.
    Mrozek, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/258328.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    atomic force microscope
    tapping mode
    synchronous detection
    phase imaging
    mikroskop sił atomowych
    tryb kontaktu przerywanego
    detekcja synchroniczna
    obrazowanie fazowe
    Opis:
    Terra AFM is the atomic force microscope designed and built by the authors as a device for research applications in advanced technologies in industry and in teaching. In tapping-mode, in atomic force microscopy, the interaction between the tip and the sample is, in fact, non-linear and consequently higher harmonics of the fundamental resonance frequency of the oscillating cantilever are generated. In this paper, we present the Terra AFM system using the method of synchronous detection that allows simultaneously recording the amplitudes and phases of the fundamental resonance frequency and of the higher harmonics. The used detection system, composed of 16 bit 100 mega-samples per second (MSPS) analogue-to-digital converter (ADC) and field-programmable gate array (FPGA) device, allows measuring the amplitude and phase of the cantilever within one oscillation cycle and with good signal-to-noise ratio. As a result, good-quality images at higher harmonics could be obtained with the use of conventional cantilevers. The obtained results prove that higher-harmonics imaging can be used to distinguish between different materials. High spatial resolution (about 1 nm) of the presented system is also demonstrated.
    Mirroskop Terra AFM jest mikroskopem sił atomowych opracowanym i zbudowanym przez autorów jako urządzenie do zastosowań badawczych, przemysłowych i edukacyjnych w obszarze zaawansowanych technologii. W każdym mikroskopie sił atomowych pracującym w trybie kontaktu przerywanego oddziaływanie pomiędzy sondą i próbką ma charakter nieliniowy, co powoduje powstawanie wyższych harmonicznych częstotliwości podstawowej drgań sondy. W artykule przedstawiono system mikroskopu Terra AFM wykorzystujący metodę detekcji synchronicznej umożliwiającą jednoczesne wyznaczanie amplitudy i fazy wyższych harmonicznych przebiegu podstawowego. Głównymi elementami opracowanego systemu detekcji są przetwornik analogowo-cyfrowy o rozdzielczości 16 bitów i szybkości próbkowania 100 MSPS oraz układ programowalny FPGA pozwalający na pomiar amplitudy i fazy w okresu przebiegu podstawowego drgań sondy z dobrą wartością stosunku sygnału do szumu. Prowadzi to do otrzymywania dobrej jakości obrazów przy wyższych harmonicznych z użyciem typowej sondy mikroskopu AFM. Przedstawiono przykłady uzyskiwanych obrazów, które wskazują na przydatność systemu do rozróżniania obszarów próbek zbudowanych z różnych materiałów. Potwierdzają one również wysoką rozdzielczość przestrzenną (około 1 nm) opracowanego systemu.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2015, 3; 27-38
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-7 z 7

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies