Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "X-ray photoelectron spectroscopy" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Analiza składu chemicznego i fazowego cienkich warstw metalicznych
Autorzy:
Lukaszkowicz, K.
Staszuk, M.
Nuckowski, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/274354.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Roble
Tematy:
dyfraktometria rentgenowska
XPS
spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
GDS/GDOES
emisyjna spektroskopia optyczna z wyładowaniem jarzeniowym
cienkie warstwy metaliczne
X-ray diffractometry
x-ray photoelectron spectroscopy
glow discharge optical emission spectrometry
metallic thin layers
Źródło:
LAB Laboratoria, Aparatura, Badania; 2017, 22, 5; 24-29
1427-5619
Pojawia się w:
LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies