- Tytuł:
- Analiza składu chemicznego i fazowego cienkich warstw metalicznych
- Autorzy:
-
Lukaszkowicz, K.
Staszuk, M.
Nuckowski, P. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/274354.pdf
- Data publikacji:
- 2017
- Wydawca:
- Roble
- Tematy:
-
dyfraktometria rentgenowska
XPS
spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
GDS/GDOES
emisyjna spektroskopia optyczna z wyładowaniem jarzeniowym
cienkie warstwy metaliczne
X-ray diffractometry
x-ray photoelectron spectroscopy
glow discharge optical emission spectrometry
metallic thin layers - Źródło:
-
LAB Laboratoria, Aparatura, Badania; 2017, 22, 5; 24-29
1427-5619 - Język:
- polski
- Prawa:
- Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
- Artykuł
Menu główne
Wyszukiwarka
Treść główna