Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Raoux, D." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
X-Ray Resonant Magnetic Scattering: Application to Thin Films and Multilayers
Autorzy:
Raoux, D.
Jaouen, N.
Tonnerre, J. M.
Bontempi, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2014370.pdf
Data publikacji:
2000-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.28.+d
78.70.Ck
71.27.+a
Opis:
This paper reports on the use of a new technique to investigate the magnetic properties of thin films, multilayers and artificial structures, the X-ray resonant magnetic scattering at small values of the scattering vector. It can be used either by registering the reflectivity pattern or in a diffraction mode. In comparison with magneto-optical Kerr effect or neutron scattering, it offers an atomic selectivity due to the resonant excitation of a core electron, and even an electronic shell one. Examples are presented mainly in the soft X-range allowing to probe the 3d band of transition metals. They demonstrate the promising possibilities of the method to measure the magnetic moments carried by each of the atomic components in complex systems, as well as their distribution through thin layers, with an atomic resolution.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2000, 98, 5; 483-494
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Interpretation of Differential Anomalous X-Ray Scattering Data for Amorphous Cd-As
Autorzy:
Burian, A.
Lecante, P.
Mosset, A.
Galy, J.
Tonnerre, J. M.
Raoux, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1931688.pdf
Data publikacji:
1994-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.70.Dm
61.10.-i
Opis:
The computational procedure, based on Warren's exact method for an amorphous sample with more than one atom, was developed to obtain the short-range order structural parameters from the differential anomalous X-ray scattering data, collected using the synchrotron radiation. The experimental differential radial distribution functions were fitted with the true distribution functions expressed in an analytical form and broadened by convolution with the pair functions. It was found that atoms in the amorphous Cd-As films remain almost tetrahedrally coordinated and the investigated alloys are chemically ordered.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1994, 86, 4; 633-640
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Application of Third Generation Synchrotron Source to Studies of Non-Crystalline Materials: In-Se Amorphous Films
Autorzy:
Burian, A.
Jabłońska, A.
Burian, A. M.
Le Bolloc'h, D.
Metzger, H.
Proux, O.
Hazemann, J. L.
Mosset, A.
Raoux, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2030649.pdf
Data publikacji:
2002-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.10.-i
61.43.Dq
Opis:
The local structure of vacuum evaporated In-Se amorphous films, containing 50, 60, and 66 at.% Se, was studied using differential anomalous X-ray scattering and extended X-ray absorption fine structure. Both intensity and absorption spectra were measured in the vicinity of the absorption K-edge of Se. The differential anomalous X-ray scattering data were converted to real space by the inverse Fourier transform yielding the differential radial distribution functions. The obtained results provide evidence for the presence of Se-In spatial correlations for In$\text{}_{50}$Se$\text{}_{50}$ and Se-In and Se-Se correlations for In$\text{}_{40}$Se$\text{}_{60}$ and In$\text{}_{34}$Se$\text{}_{66}$ within the first coordination sphere.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2002, 101, 5; 701-708
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies