Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Czerwosz, E." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Temperature-induced changes in the topography and morphology of C–nPd films deposited on fused silica
    Autorzy:
    Diduszko, R.
    Kowalska, E.
    Kozłowski, M.
    Czerwosz, E.
    Kamińska, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/174476.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
    Tematy:
    carbonaceous-palladium film
    PVD
    XRD
    SEM
    FTIR
    Opis:
    Changes in superficial and structural properties in carbonaceous–palladium (C–Pd) films prepared by PVD method, induced by annealing them in an inert atmosphere were studied. C–Pd films with different Pd content in a carbon matrix were investigated. SEM observation after heat treatment showed the agglomeration of palladium nanograins into bigger grains and significant changes in a topography and morphology of C–Pd films. XRD studies confirmed the formation of big (more than 100 nm in diameter) Pd nanograins as a result of the annealing process. FTIR studies showed that C–Pd films from PVD process contained fullerene C60 and palladium acetate (films precursors), which were decomposed during the annealing process.
    Źródło:
    Optica Applicata; 2013, 43, 1; 133-141
    0078-5466
    1899-7015
    Pojawia się w:
    Optica Applicata
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Morphological, topographical and FTIR characterizations of Pd–C films
    Autorzy:
    Rymarczyk, J.
    Kamińska, A.
    Kęczkowska, J.
    Kozłowski, M.
    Czerwosz, E.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/173595.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
    Tematy:
    palladium nanocrystals
    fullerene
    PVD
    Opis:
    The structure, topography and morphology of Pd–C films were studied by AFM (atomic force microscopy), SEM (scanning electron microscopy), Raman and FTIR (Fourier transform infrared spectroscopy) methods. It was found that an increasing content of palladium in films causes a decrease in their roughness and size of nanograins. The topography and morphology of Pd–C films depend on the content of palladium in the film, what was found from the analysis of SEM and AFM images. FTIR and Raman spectra show that the content of fullerene and palladium in the film strongly depends on technological parameters of PVD (physical vapor deposition) process.
    Źródło:
    Optica Applicata; 2013, 43, 1; 123-132
    0078-5466
    1899-7015
    Pojawia się w:
    Optica Applicata
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Annealing time effects on the surface morphology of C–Pd films prepared on silicon covered with SiO2
    Autorzy:
    Kozlowski, M.
    Radomska, J.
    Wronka, H.
    Czerwosz, E.
    Firek, P.
    Sobczak, K.
    Dluzewski, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/949412.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
    Tematy:
    Pd
    carbon
    film
    SEM
    TEM
    Opis:
    Morphology changes of C–Pd films prepared in physical vapor deposition (PVD) process and next annealed in a temperature of 650 °C during different time were studied. These studies were performed with electron microscopy methods (scanning SEM and transmission TEM). It was found that not annealed films are flat and they are composed of grains with composite character and size of 100–200 nm. Pd nanocrystallite of a diameter of a few nanometers in some carbon matrix was placed in these grains. For annealed films, a formation of palladium nanograins with different sizes and shapes as well as a porous carbon matrix were observed. High resolution TEM investigation was used to determine a structure of all these grains. An increase in duration time of annealing process led to diminishing of the porosity of carbon matrix and a number of Pd grains situated on the film surface. It was also stated that covering of Si with SiO2 layer prevents formation of palladium silicide.
    Źródło:
    Optica Applicata; 2013, 43, 1; 81-89
    0078-5466
    1899-7015
    Pojawia się w:
    Optica Applicata
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies