- Tytuł:
-
Układ optyczny w długofalowych kamerach termowizyjnych przeznaczonych do obserwacji mikroelementów
Optical system in long wave infrared cameras for microelements observation - Autorzy:
-
Dziarski, K.
Parzych, J. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/378355.pdf
- Data publikacji:
- 2018
- Wydawca:
- Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
- Tematy:
-
termowizja
metrologia
obudowy SMD
detektory podczerwieni - Opis:
-
W niniejszym artykule przedstawiono dostępne na rynku rozwiązania zastosowane
w długofalowych kamerach termowizyjnych pozwalających na obserwacje elementów
zamkniętych w obudowach przeznaczonych do montażu powierzchniowego SMD (Surface
Mounted Device). Omówiono podstawowe parametry zastosowanych matryc detektorów
promieniowania podczerwonego oraz ich wpływ na wykonywany pomiar. Zestawiono
omawiane matryce pod względem wykorzystywanych zjawisk oraz omówiono
wykorzystywane zjawiska. Przedstawiono również układ optyczny stosowany we
współczesnych długofalowych kamerach termowizyjnych. Zaproponowano takie ustawienia
układu optycznego, które pozwolą na uzyskanie wystarczającej ostrości obrazu.
This article presents solutions available on the market used in long-wave infrared cameras that allow observation of elements enclosed in housings designed for SMD (Surface Mounted Device). The basic parameters of the applied infrared radiation detector matrices and their influence on the measurement are discussed. The matrices and the phenomena used by them are written. The optical system used in modern long-wave thermovision cameras is also presented. The settings of optical system that will allow obtain a sufficient image sharpness have been proposed. - Źródło:
-
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2018, 96; 83-94
1897-0737 - Pojawia się w:
- Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł