Układ optyczny w długofalowych kamerach termowizyjnych przeznaczonych do obserwacji mikroelementów Optical system in long wave infrared cameras for microelements observation
W niniejszym artykule przedstawiono dostępne na rynku rozwiązania zastosowane
w długofalowych kamerach termowizyjnych pozwalających na obserwacje elementów
zamkniętych w obudowach przeznaczonych do montażu powierzchniowego SMD (Surface
Mounted Device). Omówiono podstawowe parametry zastosowanych matryc detektorów
promieniowania podczerwonego oraz ich wpływ na wykonywany pomiar. Zestawiono
omawiane matryce pod względem wykorzystywanych zjawisk oraz omówiono
wykorzystywane zjawiska. Przedstawiono również układ optyczny stosowany we
współczesnych długofalowych kamerach termowizyjnych. Zaproponowano takie ustawienia
układu optycznego, które pozwolą na uzyskanie wystarczającej ostrości obrazu.
This article presents solutions available on the market used in long-wave infrared
cameras that allow observation of elements enclosed in housings designed for SMD
(Surface Mounted Device). The basic parameters of the applied infrared radiation detector
matrices and their influence on the measurement are discussed. The matrices and the
phenomena used by them are written. The optical system used in modern long-wave
thermovision cameras is also presented. The settings of optical system that will allow
obtain a sufficient image sharpness have been proposed.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00