Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "lock" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Optical and ultrasound lock-in thermography systems for detection of structural defects
Optyczny i ultradźwiekowy system termografii synchronicznej do wykrywania strukturalnych defektów
Autorzy:
Gralewicz, G.
Owczarek, G.
Więcek, B.
Tomalczyk, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/256743.pdf
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
termografia strukturalna
ultradźwięki
system termograficzny
system optyczny
defekt
lock-in thermography
ultrasound
optical system
Opis:
This paper presents optical and ultrasound excitation lock-in thermography systems for the detection of structural defects. Both systems can be used for the remote monitoring of thermal features like cracks, delaminations and other irregularities. The method consists of the excitation of thermal effects in a tested structure with the use of external heat or an ultrasound source. These effects result from propagation and reflection of thermal waves, which are input through the surface into the tested structure by absorption of modulated heat radiation or ultrasound waves.
W pracy przedstawiono optyczny i ultradźwiekowy system termograficzny do wykrywania defektów strukturalnych. Obydwa z prezentowanych systemów poprzez monitorowanie termicznych parametrów struktury pozwalają wykryć pęknięcia, rozwarstwienia oraz inne nieciągłości materiału. Metoda polega na wywołaniu zmian rozkładu pola temperatury w miejscu występowania defektu poprzez zewnętrzne modulowane źródła ciepła (lampy halogenowe) lub ultradźwiękowe żródła energii.
Źródło:
Problemy Eksploatacji; 2006, 4; 129-136
1232-9312
Pojawia się w:
Problemy Eksploatacji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
System wymiany i pozycjonowania podłoży w urządzeniach PVD/CVD
The system of positioning substrates in PVD devices
Autorzy:
Samborski, T.
Kozioł, S.
Matecki, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/257288.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
komora próżniowa
procesy PVD/CVD
śluza próżniowa
manipulator
vacuum chamber
PVD processes
load lock
substrate transporters
Opis:
W artykule przedstawiono rozwiązanie techniczne systemu wymiany i pozycjonowania podłoży w urządzeniach do badania i opracowywania technologii PVD. Składa się on z zespołu manipulatorów oraz ze śluzy do wprowadzania próbek do komory próżniowej, co pozwala na selektywną identyfikację efektów wybranych etapów procesów.
The article presents technical solutions of positioning substrates in devices for examining and developing PVD technologies. It is composed of a load lock for placing samples in a vacuum chamber and a system of substrate transporters which allow for the identification of the effects of selected process stages.
Źródło:
Problemy Eksploatacji; 2008, 2; 129-137
1232-9312
Pojawia się w:
Problemy Eksploatacji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies