Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Sosnowski, J." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-8 z 8
    Tytuł:
    Testing schemes for systems based on FPGA processor cores
    Testowanie systemów FPGA wykorzystujących rdzenie procesorów
    Autorzy:
    Węgrzyn, M.
    Sosnowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153733.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    testing processor cores
    application driven testing
    FPGA
    testowanie rdzeni procesorowych
    testowanie aplikacyjne
    Opis:
    Many systems implemented in FPGAs are based on embedded processor cores (the so called soft cores). Testing such systems is a challenging task due to possible faults in functional blocks, configuration memory and relevant circuitry. The paper deals with software-based self-test schemes taking into account an important requirement on test memory and time overheads. Special attention is paid to configuration faults caused by SEUs (single event upsets). The effectiveness of the proposed method has been verified in fault injection experiments.
    W systemach wbudowanych realizowanych na bazie struktur FPGA coraz częściej wykorzystuje się skonfigurowane rdzenie procesorów. Testowanie takich systemów jest dość dużym wyzwaniem ze względu na dość szeroką klasę możliwych błędów w blokach funkcjonalnych, pamięci konfiguracyjnej i związanej z nią logiką. W pracy przedstawiono koncepcje testowania programowego rdzeni procesorów (podejście funkcjonalne, strukturalne, pseudo przypadkowe i aplikacyjne). Szczególna uwagę poświęcono błędom pamięci konfiguracji wynikającym z błędów przemijających, których źródłem jest promieniowanie kosmiczne, szczątkowe promieniowanie użytych materiałów w systemie, czy tez zakłócenia elektryczne. Dokładniej omówiono koncepcje testów złożonych z sekwencji instrukcji, w których wyniki są jednocześnie argumentami wejściowymi dla kolejnych sekwencji (tzw. sekwencje bijektywne). Rozpatrzono problem optymalizacji takich testów biorąc pod uwagę narzut pamięci i czasowy testu oraz pokrycie błędów. Efektywność testów została zweryfikowana w eksperymentach z symulacją błędów. Podane przykłady dotyczą rdzenia procesora 8 bitowego PicoBlaze. Przedstawiona metodyka może być rozszerzona na inne procesory.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 7, 7; 483-485
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Remote software reprogramming in embedded systems
    Zdalne rekonfigurowanie oprogramowania w systemach wbudowanych
    Autorzy:
    Iwiński, M.
    Sosnowski, J
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151374.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    embedded systems
    reprogrammable software
    systemy wbudowane
    reprogramowanie systemów
    Opis:
    In many applications basing on embedded systems we have the problem with limited access for servicing. During the exploitation of such systems it happens that various errors can appear in hardware or software. Many of these errors can be eliminated (e.g. single event upsets), avoided or repaired (e.g. software bugs) by reprogramming the system partially or completely, locally or remotely. The paper discusses strategies of this approach taking into account various limitations and presents a case study solution designed for a satellite microcontroller.
    W systemach wbudowanych dość często pojawia się problem ograniczonej ich dostępności dla serwisowania. Jest to typowe dla systemów przemysłowych, telekomunikacyjnych i kosmicznych. Podczas eksploatacji takich systemów mogą się pojawiać różne błędy w sprzęcie i oprogramowaniu. Wiele spośród tych błędów może być wyeliminowanych, maskowanych lub naprawianych poprzez reprogramowanie częściowe bądź pełne, lokalne albo zdalne. W pracy przedstawiono strategie reprogramowania uwzgledniające szereg spotykanych ograniczeń (np. wymagania przetwarzania w czasie rzeczywistym, ciągłość pracy, ograniczone zasoby pamięciowe i komunikacyjne). Problem ten odniesiono do proponowanych rozwiązań w literaturze oraz wykorzystano tu zdobyte doświadczenia z projektowanymi systemami wbudowanymi pomiarowymi i kontrolera satelitarnego. Ponadto przedstawiono bardziej szczegółowo studium mikrokontrolera dla satelity. Bazuje ono na doświadczeniu zdobytym przy satelicie PW-SAT. W pracy została zaproponowana koncepcja podziału programu na segmenty celem zmniejszenia rozmiaru pliku aktualizacyjnego. Dla omówionego przykładu mikrokontrolera satelitarnego oraz wybranych scenariuszy aktualizacji zostały przedstawione wynikowe rozmiary plików aktualizacyjnych przed i po zastosowaniu proponowanej segmentacji.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 8, 8; 769-771
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Symulacja błędów przemijających w mikrokontrolerze satelitarnym
    Transient fault simulation in a satellite microcontroller
    Autorzy:
    Iwiński, M.
    Sosnowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155157.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    systemy wbudowane
    mikrokontrolery
    symulacja błędów
    niezawodność
    embedded systems
    microcontrollers
    fault simulation
    reliability
    Opis:
    W wielu zastosowaniach mikrokontrolerów należy brać pod uwagę wpływ na ich pracę błędów przemijających (zakłócenia elektromagnetyczne, promieniowanie kosmiczne itp.). Artykuł przedstawia metodę badania odporności na błędy przemijające w mikrokontrolerach. Bazuje ona na opracowanej platformie symulatora sprzężonego z obiektem badanym poprzez interfejs RS232C. Technika ta została zweryfikowana w badaniu mikrokon-trolera przeznaczonego do sterowania zasilaniem pokładowym satelity. W artykule przedstawiono wyniki eksperymentów oraz wskazano możliwości programowego zwiększania odporności na błędy.
    In many microcontroller applications the impact of transient faults (electromagnetic disturbances, cosmic radiation, etc.) on their operation has to be taken into account. The paper presents a new methodology of testing transient fault robustness in microcontrollers. It is based on the developed fault injection platform which is coupled to the tested object via RS 232C interface. A tested object (microcontroller) cooperates with real or modelled environment (partially controlled by a simulator). This technique has been successfully applied to testing a microcontroller used for managing the satellite on-board power subsystem (solar cells, batteries, power accumulation and distribution), Many transient fault simulation experiments have been performed and their results interpreted. In particular, there has been analysed the impact of faults on correct control flow of the program. Some simple fault detection and error recovery mechanisms have been included in the considerations. The presented methodology can be easily extended for other microcontrollers and communication interfaces. Time and code overheads are negligible so the simulation results are quite realistic.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 8, 8; 822-824
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Fault injection in embedded systems using GNU Debugger
    Symulacja błędów w systemach wbudowanych z wykorzystaniem GDB
    Autorzy:
    Mosdorf, M.
    Sosnowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155163.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    symulacja błędów
    interfejs JTAG
    projekt GDB
    mikrokontrolery
    fault injection
    JTAG interface
    GDB project
    microcontrollers
    Opis:
    The paper presents the technique of simulating faults in embedded systems. It consists of PC software that performs fault injection through the JTAG interface controlled by GNU Debugger (GDB) server for a chosen platform. This approach can be easily adopted to various platforms due to a wide support of GDB project for many architectures. The experimental results for ARM architecture show high controllability of the fault injection process and measured time overhead in the implemented injector.
    Praca przedstawia technikę symulacji błędów dla systemów wbudowanych wykorzystującą interfejs JTAG sterowany za pomocą oprogramowania "GNU Debugger" przygotowanego dla danej platformy mikro-procesorowej. Opracowana architektura symulatora błędów została przedstawiona na rys. 1. Zaprezentowane rozwiązanie umożliwia symulację błędów typu bit-flip oraz błędów trwałych za pomocą mechanizmów breakpoint oraz watchpoint. Obserwacja wyników symulacji została zrealizowana za pomocą programowego mechanizmu breakpoint. W ramach pracy zweryfikowano koncepcję dla współczesnych mikroprocesorów z rdzeniem ARM7TDMI oraz zaprezentowano rezultaty symulacji błędów dla wybranych obszarów pamięci SRAM oraz rejestru PC procesora. Podejście to może być łatwo dostosowane do różnych platform systemów wbudowanych wspieranych przez projekt GDB. Przeprowadzone eksperymenty symulacyjne potwierdziły ich dużą sterowalność. W pracy przedyskutowano również efektywność opracowanej metody symulacji błędów oraz przedstawiono wyniki pomiarów opóźnień związanych z symulacją błędów oraz obserwacją wykonywania programu wynoszące odpowiednio 52ms i 42ms.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 8, 8; 825-827
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Checking of fault susceptibility of cryptographic algorithms
    Analiza wrażliwości na błędy algorytmów kryptograficznych
    Autorzy:
    Nazimek, P.
    Sosnowski, J.
    Gawkowski, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156090.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    bezpieczeństwo i kryptografia
    ewaluacja ryzyka
    modelowanie i symulacja
    security and cryptography
    risk evaluation
    modelling and simulation
    Opis:
    The paper deals with the problem of evaluating of the operation of software implemented cryptographic algorithms in the presence of transient faults. For this purpose we use an original fault simulator. We have also proposed fault-hardening schema to increase dependability of cryptographic techniques. They were verified in many experimental studies.
    Praca przedstawia analizę wrażliwości oprogramowania implementującego popularne algorytmy kryptograficzne na błędy przemijające. Wykorzystywany w tym celu jest oryginalny system wstrzykiwania błędów. Rozdział 2 omawia analizowane algorytmy kryptograficzne, DES i RSA, również w kontekście różnych ich implementacji komercyjnych (biblioteki kryptograficzne). Użyty w pracy system symulatora błędów (o nazwie FITS) zaprezentowano w rozdziale 3. W sposób automatyczny przeprowadza on serie wykonań aplikacji testowanej, podczas których generuje pojedynczy błąd w wybranych zasobach systemu w ramach kontekstu testowanej aplikacji. Symulator obserwuje wpływ wygenerowanego błędu na wykonywanie się testowanej aplikacji (m.in. odnotowuje wystąpienie sytuacji wyjątkowych, komunikatów od aplikacji [15, 16]) i dokonuje automatycznej oceny poprawności ewentualnego wyniku jej działania (w tym przypadku weryfikuje zaszyfrowaną wiadomość). W rozdziale 4 przedstawiono wrażliwość na błędy implementacji podstawowych analizowanych algorytmów (bez jakichkolwiek mechanizmów detekcji lub tolerowania błędów - tab. 1). Wartym podkreślenia jest fakt, iż oprócz błędnych szyfrogramów zaobserwowano też przypadki krytyczne, w których nastąpił wypływ (częściowy lub całkowity) szyfrowanego komunikatu w wiadomości wynikowej. W kolejnym kroku zaproponowano więc sposoby programowego uodpornienia algorytmów na analizowane błędy (rys. 1). Zostały one zweryfikowane eksperymentalnie, potwierdzając skuteczność zaproponowanej metody zabezpieczenia (tab. 2, 3).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 10, 10; 827-830
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Dependability issues in the PPLD-PSU subsystem for the BRITE-PL Hevelius microsatellite
    PPLD-PSU dla mikrosatelity BRITE-PL Heweliusz
    Autorzy:
    Iwiński, M.
    Graczyk, R.
    Sosnowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156666.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    satellite
    dependability
    reprogramming
    satelita
    niezawodność
    aktualizacja oprogramowania
    Opis:
    Due to specific conditions for electronic equipment in satellites and high launching costs, dependability issues of satellite subsystems are of great importance. This paper presents the PPLD-PSU subsystem designed for Polish payload of the BRITE-PL Hevelius microsatellite. When developing software for this system, we have assured some dependability requirements related to testing this equipment before launching (exhaustive external and internal self-testing) and during the whole mission (on-line monitoring). Moreover, special mechanisms have been included to support remote reprogramming. In the paper we also analyze various possible fault effects (transient, intermittent and permanent) and methods of mitigating them locally or remotely.
    Rozwój systemów wbudowanych na potrzeby misji kosmicznych jest ostatnio częstym tematem badań w Polsce na świecie. Mając na uwadze środowisko pracy podsystemów elektronicznych oraz wysokie koszty wystrzelenia kwestie niezawodnościowe pełnią kluczową rolę w tego typu zastosowaniach. Celem niniejszej pracy jest przybliżenie podsystemu PPLD-PSU (Polish PayLoaD – Power Supply Unit) opracowanego na potrzeby polskiego ładunku użytecznego dla mikrosatelity BRITEPL Heweliusz. Głównym jego celem jest zarządzanie polskimi eksperymentami. Posiada on własne niezależne od całego satelity zasilanie z paneli słonecznych oraz akumulatora Li-Ion. Nie jest on jednak wyposażony we własny moduł do komunikacji z Ziemią. Połączenie zapewnia moduł radiowy satelity Heweliusz. Sercem podsystemu jest popularny mikrokontroler ATmega128L. Rozwój oprogramowania dla podsystemu niósł za sobą szereg wymagań niezawodnościowych. Przeprowadzane były liczne testy w trudnych warunkach środowiskowych (komora klimatyczna, komora próżniowa). Przygotowane zostały również funkcje pozwalające zdalnie monitorować poprawną pracę systemu gdy znajdzie się on już na orbicie. Dodatkowo przewidziana została możliwość zdalnej aktualizacji oprogramowania. Wzięte zostały przy tym pod uwagę możliwe problemy komunikacyjne utrudniające poprawne załadowanie nowego oprogramowania. W pracy poruszana jest też kwestia możliwości występowania błędów i radzenia sobie z nimi zdalnie lub lokalnie.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 7, 7; 447-449
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Gas-flow computer with SBST
    Komputerowy przelicznik przepływu gazu z wbudowanym SBST
    Autorzy:
    Mosdorf, M.
    Grochowski, K.
    Sosnowski, J.
    Gawkowski, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156571.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    systemy wbudowane
    mikrokontrolery
    symulacja błędów
    niezawodność
    embedded systems
    microcontrollers
    fault simulation
    reliability
    Opis:
    The paper deals with the problem of improving dependability in industrial embedded systems. This problem is considered in relevance to the developed gas flow computer. It is implemented around ARM microcontroller which performs complex measurements and calculations of gas flow with embedded software based self-test mechanisms (SBST) assuring fault detection and fault handling. These mechanisms do not interfere with the normal operation neither in time nor in space. The effectiveness of these approaches has been practically verified in specialised experiments.
    Ostatnio obserwuje się coraz większe zainteresowanie inteligentnymi urządzeniami pomiarowymi. Wykorzystują one bardzo wydajne mikroprocesory lub mikrokontrolery i złożone oprogramowanie. Urządzenia te zwykle pracują w środowisku przemysłowym lub otwartym terenie, gdzie są narażone na różne zakłócenia (elektromagnetyczne, termiczne, niestabilne zasilanie itp.). Stąd istotnym jest zapewnienie dużej wiarygodności ich pracy. Problem ten uwidocznił się w produkowanych przelicznikach gazu ziemnego [9]. Dane producenta wskazują na 8% problemów serwisowych (rozdz. 2). Autorzy podjęli się rozwiązania tego problemu poprzez opracowanie programowych mechanizmów autotestowania (SBST) zintegrowanych z oprogramowaniem operacyjnym urządzeń pomiarowych. Pozwalają one monitorować w sposób ciągły (rys. 1) poprawność pracy urządzenia (rozdz. 3). W szczególności wbudowano mechanizm kontroli poprawności i autonaprawy kodu przelicznika, obsługę sytuacji wyjątkowych, autotestowanie krytycznych procedur spreparowanymi zestawami danych itd. (rozdz. 3). Pozwalają one na detekcję zarówno błędów przemijających (i ograniczone ich tolerowanie) jak i błędów trwałych. Efektywność tego rozwiązania została zweryfikowana przy wykorzystaniu techniki symulacji błędów ([1, 3]) oraz generowanie logów operacyjnych i liczników zastosowanych w nowym prototypie przelicznika. W porównaniu z innymi przelicznikami gazu osiągnięto istotną poprawę wiarygodności (rozdz. 4). Przedstawione mechanizmy mogą być zastosowane również w innych urządzeniach z mikrokontrolerami.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 7, 7; 665-667
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Zautomatyzowane stanowisko do wyznaczania wartości parametrów i kalibracji obserwacyjnych kamer termowizyjnych
    A test stand for evaluation and calibration of thermal camera parameters
    Autorzy:
    Sosnowski, T.
    Madura, H.
    Firmanty, K.
    Bareła, J.
    Bieszczad, G.
    Kubicki, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/152556.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    termowizja
    kamera termowizyjna
    thermal vision
    thermal imaging camera
    Opis:
    Kamery termowizyjne znajdują zastosowanie w coraz większej liczbie dziedzin nauki, techniki i życia. Wynikiem tego jest produkcja względnie niedrogich kamer termowizyjnych, które muszą zostać poddane kalibracji i ocenie zakładanych parametrów. W artykule zostało przedstawione zautomatyzowane stanowisko do pomiaru parametrów i kalibracji kamery termowizyjnej. Zostały opisane wszystkie elementy stanowiska takie jak moduł przemieszczeń liniowych i techniczne ciała doskonale czarne. Opisano również algorytmy i procedury wyznaczania parametrów i współczynników kalibracyjnych kamery termowizyjnej.
    Technological development in the field of infrared and thermal imaging has caused that thermal imaging cameras are used in more and more fields of science, technology and life. In the paper there is presented an automatic measurement and calibration stand capable of measuring the fundamental parameters of a thermal imaging camera. All components of the module, such as a linear motion controller and an actuator or a technical perfect black body are described. An algorithm for determining calibration parameters of the thermal imaging camera is presented. In the paper there are discussed the basic parameters of the calibrated infrared camera, the IR Capture device to capture data from the infrared camera via a specialized bus called the VideoBus. The UPCD and VideoBus standards are described. The paper presents the IRDiag software for recording the measurement data and determining the parameters and NUC correction factors used for infrared cameras. The software also allows control of all elements of the measurement stand and automation of most tasks performed by a user during the standard calibration procedure. The measurement stages are described and presented in the form of software window screenshots. The measurement stand was tested with regard to the accurate evaluation of parameters and calibration coefficients.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 9, 9; 962-965
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-8 z 8

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies