Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Gołda, M." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Investigation of heat transfer in integrated circuits
Autorzy:
Frankiewicz, M.
Gołda, A.
Kos, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220533.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
temperature
heat transfer
VLSI
electric analogy
Opis:
The paper analyzes the phenomenon of heat transfer and its inertia in solids. The influence of this effect on the operation of an integrated circuit is described. The phenomenon is explained using thermal analogy implemented in the Spice environment by an R-C thermal model. Results from the model are verified by some measurements with a chip designed in CMOS 0.7 μm (5 V) technology. The microcontroller-based measurement system structure and experiment results are described.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2014, 21, 1; 111-120
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Low voltage integrated converter for waste heat thermoelectric harvesters
Autorzy:
Dziurdzia, P.
Mysiura, M.
Gołda, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221706.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
charge pump
DC-DC conversion
thermoelectric conversion
energy harvesting
Opis:
The paper deals with an application-specific integrated circuit (ASIC) facilitating voltage conversion in thermoelectric energy harvesters. The chip is intended to be used to boost up the voltage coming from a thermoelectric module to a level that is required by electronic circuits constituting wireless sensor nodes. The designed charge pump does not need any external parts for its proper operation because all the capacitors, switches and oscillator are integrated on the common silicon die. The topography of the main functional blocks and post-layout simulations of the designed integrated circuit are shown in the article.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2012, 19, 1; 159-168
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies