Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Tkach, L." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
ZnO films: propeties determined by electronic microscopy and ellipsometry
Autorzy:
Rakov, M.
Poperenko, L.
Tkach, V.
Yurgelevich, I.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/385183.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Tematy:
reactive magnetron sputtering
Beattie’s method
semi-infinite medium
AFM
SEM
nanostructures
Opis:
Zinc oxide is a good material for application in nanoand optoelectronics due to its notable features, for example, large band gap. In this work ZnO films deposited by reactive magnetron sputtering at various pressure of residual gases and different temperatures of the substrate are investigated. The spectral dependences of ellipsometric parameters and of the films are determined by ellipsometry. The effective values of optical constants and are calculated. The roughness and the texture of the surfaces are obtained by Atomic-Force Microscopy (AFM) and Scanning Electronic Microscopy (SEM). One indicates that the refractive index decreases when reducing the pressure of residual gases, and the roughness decreases when elevating the temperature of the substrate. Thus, the behavior of some properties of the films at various conditions of deposition is determined.
Źródło:
Journal of Automation Mobile Robotics and Intelligent Systems; 2009, 3, 4; 112-114
1897-8649
2080-2145
Pojawia się w:
Journal of Automation Mobile Robotics and Intelligent Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies