Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Szczepanska, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Application of Graphics Processing Unit for In-Line Electron Holography
Autorzy:
Morawiec, K.
Dłużewski, P.
Kret, S.
Szczepańska, A.
Li, T.
Sloan, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1033020.pdf
Data publikacji:
2017-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.37.Lp
68.37.Og
68.55.Nq
42.30.Rx
61.05.jp
07.05.Pj
42.30.-d
42.30.Wb
Opis:
In the present work, software for exit electron wave reconstruction based on the iterative approach was implemented and a new method for drift-correction of the focal series was proposed.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2017, 131, 5; 1353-1356
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Impact of Thin LT-GaN Cap Layers on the Structural and Compositional Quality of MOVPE Grown InGaN Quantum Wells Investigated by TEM
Autorzy:
Ivaldi, F.
Kret, S.
Szczepańska, A.
Czernecki, R.
Kryśko, M.
Grzanka, S.
Leszczyński, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2048084.pdf
Data publikacji:
2011-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.35.bg
68.37.Lp
68.65.Fg
Opis:
Two samples containing InGaN quantum wells have been grown by metal-organic vapor phase epitaxy on high pressure grown monocrystalline GaN (0001). Different growth temperatures have been used to grow the wells and the barriers. In one of the samples, a low temperature GaN layer (730°C) has been grown on every quantum well before rising the temperature to standard values (900°C). The samples have been investigated by transmission electron microscopy and X-ray diffraction. Photoluminescence spectra have been measured as well. The influence of the LT-GaN has been investigated in regard to its influence on the structural and compositional quality of the sample.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 5; 660-662
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
TEM Study of the Structural Properties of Nanowires Based on Cd, Zn, Te grown by MBE on Silicon Substrates
Autorzy:
Kaleta, A.
Kret, S.
Sanchez, A.
Bilska, M.
Kurowska, B.
Szczepańska, A.
Płachta, J.
Wojnar, P.
Wojciechowski, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1032910.pdf
Data publikacji:
2017-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.05.Dz
81.07.-b
61.46.-w
62.23.Hj
81.07.Gf
61.46.Km
78.67.Uh
07.10.Pz
68.35.Gy
68.37.Lp
68.37.Og
68.37.Ma
Opis:
In this work we report on the atomic structures, elemental distribution, defects and dislocations of three types of semiconductor nanowires: ZnTe, CdTe, and complex ZnTe/(Cd,Zn)Te core/shell hetero-nanowires grown by a molecular beam epitaxy on (111) Si substrate using a vapor-liquid-solid mechanism. The structural properties and the chemical gradients were measured by transmission electron microscopy methods. The nanowires reveal mainly sphalerite structure, however wurtzite nanowires were also observed.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2017, 131, 5; 1399-1405
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Electron Microscopy and X-ray Structural Investigations of Incommensurate Spin-Ladder Sr$\text{}_{4.1}$Ca$\text{}_{4.7}$Bi$\text{}_{0.3}$Cu$\text{}_{17}$O$\text{}_{29}$ Single Crystals
Autorzy:
Dłużewski, P.
Pietraszko, A.
Kozłowski, M.
Szczepańska, A.
Górecka, J.
Baran, M.
Leonyuk, L.
Babonas, G.-J.
Lebedev, O.
Szymczak, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2014560.pdf
Data publikacji:
2000-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.72.Nn
61.72.Mm
74.72.-h
61.16.Bg
61.10.-i
Opis:
Transmission electron microscopy and X-ray diffraction proved chain ladder incommensurate single crystal structure of investigated samples. The incommensurate ratio was determined from the X-ray and electron diffraction being equal to 0.704. Diffuse scattering intensities localised on the planes perpendicular to the c*-axis and passing through the spots originating from the periodicity of chain sublattice were detected. High-angle grain boundary or twinning formed by rotation of 33.3° around [100] direction was observed. High-resolution electron microscopy images revealed the stacking faults in ac planes.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2000, 98, 6; 729-737
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies