Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "lasery półprzewodnikowe" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Injection lasers in metrological applications
Lasery półprzewodnikowe w zastosowaniach metrologicznych
Autorzy:
Manak, I.
Wójcik, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/152354.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
injection lasers
metrology
lasery półprzewodnikowe
metrologia
Opis:
Opportunities of realization labor and exemplary measuring instrument, based on injection lasers with energy and time parameters, spectrum radiations line width in oscillating mode, power density distribution in beams cross-section of sources with astigmatism regulation are considered.
W pracy omówiono możliwość realizacji laboratoryjnego instrumentu pomiarowego wykorzystującego lasery półprzewodnikowe. Analizowane są przy tym jego parametry energetyczne i czasowe, szerokość linii widmowej, rozkład gęstości mocy dla źródeł z korekcją astygmatyzmu.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 281-284
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Termograficzne badania mikroskopowe elementów laserów półprzewodnikowych
Autorzy:
Bednarek, M.
Rybiński, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/136414.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Szkoła Główna Służby Pożarniczej
Tematy:
lasery półprzewodnikowe
wykrywanie różnic temperatury
termograficzne badania mikroskopowe
Opis:
Zaprojektowano i wykonano stanowisko pomiarowe do badań mikroskopowych defektów przypowierzchniowych metodą termografii w podczerwieni. Stanowisko umożliwia wykrywanie i identyfikowanie defektów z rozdzielczością przestrzenną 8 m i wykrywanie różnic temperatury o wartości 0,025K. Umożliwia badanie zmian temperatury z częstotliwością próbkowania do ponad 5 kHz. Na stanowisku wykonano badania elementów laserów półprzewodnikowych. Określono miejsca wydzielania ciepła i efektywność jego odprowadzania w tych elementach.
The stand for microscopic testing of near − surface defects, using the thermography method, has been designed and built. The stand makes possible detection and identification of defects with the 8 m special definition as well as detection of temperature differences of 0.025 K value. The stand makes possible testing temperature changes with sampling frequency up to 6 kHz. Testing of semiconductor laser elements have been tested there. The points of heat emission have been defined as well as the efficiency of carrying it away.
Źródło:
Zeszyty Naukowe SGSP / Szkoła Główna Służby Pożarniczej; 2007, 35; 53-61
0239-5223
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe SGSP / Szkoła Główna Służby Pożarniczej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Comparison of methods for simulation of the optical properties of VCSELs
Porównanie metod symulacji właściwości optycznych laserów VCSEL
Autorzy:
Więckowska, M.
Dems, M.
Czyszanowski, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/296403.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
Tematy:
modelling of semiconductor devices
semiconductor lasers
vertical-cavity surface-emitting lasers
VCSELs
modelowanie elementów półprzewodnikowych
lasery półprzewodnikowe
lasery o emisji powierzchniowej z pionową wnęką rezonansową
VCSEL
Opis:
This paper presents the differences arising from the use of scalar (Effective Frequency Method) and vector (Fourier’s and Bessel’s Admittance Methods) calculation methods in optical analysis of arsenide Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers (VCSELs). Discussed results demonstrate that the vector methods are more accurate than the scalar one, but also they are more time consuming. By comparing two vector methods, it can be seen that the Bessel’s Admittance Method allows to obtain similar qualitatively and quantitatively results in a slightly shorter time. The calculations were performed for structures with varied aperture radius and its location in the resonant cavity. Moreover, this paper includes the comparison of calculation results for a structure in which there are layers with gradually changing refractive index, and the structure in which these layers are replaced by a layer with a constant average refractive index.
W niniejszej pracy przedstawiono wyniki obliczeń propagacji emitowanej fali elektromagnetycznej (jej długości i czasu życia fotonów) dla arsenkowego lasera typu VCSEL. Celem pracy jest przedstawienie różnic płynących z zastosowania skalarnych i wektorowych metod obliczeniowych. Omówione wyniki pokazują, iż metody wektorowe są dużo dokładniejsze od metody skalarnej, ale jednocześnie bardziej czasochłonne. Obliczenia przeprowadzono dla struktur różniących się wartością średnicy apertury oraz jej położeniem wzdłuż wnęki rezonansowej. Ponadto metodą skalarną wykonano obliczenia dla struktury, w której występują warstwy o gradientowo zmieniającym się współczynniku załamania, oraz dla struktury, w której warstwy te zastąpiono warstwą pośrednią o stałym współczynniku załamania. Celem pracy jest również pokazanie różnic w wynikach otrzymanych dla powyższych przypadków.
Źródło:
Scientific Bulletin. Physics / Technical University of Łódź; 2017, 38; 71-80
1505-1013
2449-982X
Pojawia się w:
Scientific Bulletin. Physics / Technical University of Łódź
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Działalność polskiego komitetu optoelektroniki stowarzyszenia elektryków polskich
Activity of Polish Optoelectronics Committee, Association of Polish Electrical Engineers
Autorzy:
Woliński, W.
Romaniuk, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1199081.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Napędów i Maszyn Elektrycznych Komel
Tematy:
optoelektronika
optyka
optyka zintegrowana
technika laserowa
technika światłowodowa
lasery półprzewodnikowe
telekomunikacja światłowodowa
czujniki światłowodowe
optoelektronika medyczna
optoelektronika informacyjna
optoelektronika obrazowa
fotowoltaika
metrologia optoelektroniczna
fotonika
ogólnokrajowe projekty i programy naukowo-techniczne z obszaru optoelektroniki
optoelectronics
optics
integrated optics
laser technology
optical fibre technology
semiconductor lasers
optical fibre communications
optical fibre sensors
medical optoelectronics
optoelectronic metrology
information optoelectronics
image optoelectronics
photovoltaics
photonics
research and technical projects and programs in optoelectronics in Poland
Opis:
The paper presents, in a concise manner, activities of the Polish Optoelectronics Committee of the Association of Polish Electrical Engineers (PKOpto SEP) since its establishment in 1985. Aim of the paper is to gather and remind chosen historical data concerning Polish optoelectronics experiencing tempestuous technological development during this time period. The authors were insightful observers, active participants and initiators of many of these developments, and among others were founder members of the Committee. PKOpto SEP was then very important and active, centrally located, opinion-forming and action-initiating community body. It played an important role in the life and development of the Polish optoelectronics technical and research communities, recurrent professional education and lifelong learning of experts in optoelectronics, local integration and opening of Polish research community to wide international cooperation. Traces of this early, exceptionally operative Committee activities may be observed in Polish optoelectronics research and technical community till today. These early activities of the Committee gave birth to numerable initiatives, undertakings, projects and programs, out of which some last till today in the form of recognized series of conferences, realized, implemented, and practically applied research projects for science, industry, safety, defense and medicine, but also for active research and technical community and social organizations. Introduction to the paper marks the area of PKOpto activities. Persons involved in Committee establishing are reminded. Working groups of the Committee embraced more than 200 persons and covered the whole area of optoelectronics. PKOpto SEP was undertaking continuously various domestic and international initiatives. It initiated and was engaged in organization of National Optoelectronics Schools, conferences, symposia, supported professional publishing in the area of laser technology, optoelectronics applications in medicine, telecommunications, industry and research. The paper is ended with a short reflection concerning PKOpto activities today and perspectives in the nearest future.
Artykuł przedstawia w znacznym skrócie działalność Polskiego Komitetu Optoelektroniki Stowarzyszenia Elektryków Polskich (PKOpto SEP) od momentu jego powstania w roku 1985. Celem artykułu jest zebranie i przypomnienie wybranych danych historycznych dotyczących krajowej optoelektroniki przeżywającej burzliwy rozwój technologiczny w tym okresie. Autorzy artykułu byli obserwatorami, aktywnymi uczestnikami i inicjatorami wielu z tych procesów rozwojowych. PKOpto SEP, jako bardzo ważne i aktywne, opiniotwórcze i inicjatywne ciało społeczne, odegrał istotną rolę w życiu i rozwoju krajowego środowiska naukowo-technicznego optoelektroniki w Polsce, kształceniu ustawicznym kadr zawodowych, integracji lokalnej i otwarciu tego środowiska na współpracę międzynarodową. Wyraźne ślady tej wczesnej, niezwykle aktywnej i pożytecznej działalności Polskiego Komitetu Optoelektroniki obserwowane są w polskim środowisku naukowo-technicznym do dzisiaj. Z ówczesnej działalności Komitetu narodziło się wiele inicjatyw, przedsięwzięć, projektów które trwają do dnia dzisiejszego w postaci ustabilizowanych serii konferencji, zrealizowanych projektów badawczych na rzecz nauki i przemysłu, a także aktywnych społecznych organizacji naukowotechnicznych. We wstępie artykułu zasygnalizowano obszar działalności Komitetu. W dalszej kolejności przedstawiono osoby zaangażowane w jego powstanie. Zespoły robocze Komitetu, w których działało łącznie ponad 200 osób, obejmowały cały obszar optoelektroniki. Komitet podejmował inicjatywy krajowe i międzynarodowe na rzecz środowiska naukowo – technicznego optoelektroniki, angażował się w organizację Krajowych Szkół Optoelektroniki, sympozjów i konferencji, wspierał wydawnictwa zawodowe w obszarze techniki laserowej, zastosowań optoelektroniki w medycynie, telekomunikacji, przemyśle i badaniach naukowych. Artykuł podsumowano krótką refleksją dotyczącą całości dorobku historycznego oraz działalności Komitetu w dniu dzisiejszym i perspektywom w najbliższej przyszłości.
Źródło:
Maszyny Elektryczne: zeszyty problemowe; 2017, 4, 116; 205-211
0239-3646
2084-5618
Pojawia się w:
Maszyny Elektryczne: zeszyty problemowe
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies