Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Kerli, S." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Electro-Optical Properties of Liquid Crystals Composite with Zinc Oxide Nanoparticles
Autorzy:
Eskalen, H.
Özğan, Ş.
Alver, Ü.
Kerlı, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1398924.pdf
Data publikacji:
2015-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.20.Jq
77.84.Nh
78.20.Fm
Opis:
In this study, zinc oxide (ZnO) nanoparticles were synthesized by spray pyrolysis method. The properties of ZnO nanoparticles are determined by means of scanning electron microscope (SEM), X-ray diffraction (XRD) and UV-vis spectroscopy. Nematic liquid crystal mixture E7 was doped with 1, 2, and 4% ZnO. We investigate electrical and optical parameters of pure and doped nematic liquid crystal mixture E7. The experiments related to voltage dependence and light transmittance of the pure and doped E7 were carried out. The values of threshold voltage, total phase retardation and birefringence are examined. The results show that doping zinc oxide nanoparticles into liquid crystal mixture E7 decreases threshold voltage significantly.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2015, 127, 3; 756-760
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Examination of the change of the characteristic X-rays of the zinc in fluorine- and boron-doped ZnO thin films
Autorzy:
Söğüt, Ö.
Kerli, S.
Cengiz, E.
Apaydın, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1050909.pdf
Data publikacji:
2018-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
32.30.Rj
78.70.En
32.30.-r
32.80.Fb
Opis:
In this study, K_{β}/K_{α} X-ray intensity ratios of zinc in pure zinc, undoped ZnO thin film and boron and fluorine-doped ZnO thin films have been investigated. These samples have been excited by 59.5 keV γ-rays from a ^{241}Am annular radioactive source. K X-rays emitted by the samples have been counted using an Ultra-LEGe detector with a resolution of 150 eV at 5.9 keV. The K_{β}/K_{α} X-ray intensity ratios of the doped ZnO thin films have been compared with that of the undoped ZnO thin film. The deviations between the results can be explained by delocalization and/or charge transfer phenomena causing change in valence electronic configuration of zinc.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2018, 133, 5; 1124-1128
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies