Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "przetworniki C/A" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Wybrane zagadnienia z cyfrowego przetwarzania sygnałów - prezentacja witryny internetowej
    Chosen problems of digital signals processing - the presentation of the web side
    Autorzy:
    Noga, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/268643.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    modulacje analogowe i cyfrowe
    filtry
    przetworniki A/C
    przetworniki C/A
    analog and digital modulations
    DAC converter
    ADC converter
    filters
    Opis:
    W artykule przedstawiono opis strony internetowej, która prezentuje wybrane zagadnienia z zakresu cyfrowe-go przetwarzania sygnałów. Strona ta stanowi pomoc dydaktyczną, która powstała w KAO Akademii Morskiej w Gdyni.
    This paper presents the description of the webpage which describes selected problems from the Digital Signal Processing field. This webpage is a didactic tool for Gdynia Maritime University students.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2012, 31; 105-108
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
    Realization of self-testing of analog parts of electronic embedded systems based on XMEGA A family microcontrollers
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/157716.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    mikrokontrolery
    przetworniki A/C
    samotestowanie
    układy BIST
    microcontrollers
    ADCs
    self-testing
    measurement
    BISTs
    Opis:
    Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikrokontrolera. Licznik mikrokontrolera ustala czas trwania impulsu oraz momenty próbkowania.
    A measurement microsystem based on hardware resources of the ATXmega32A4 microcontroller working as a BIST (Built-in Self Tester) used for self-testing of analog parts of embedded electronic systems is presented in the paper. Self-testing is based on the fault method [5], in which a tested analog part is stimulated by a single square pulse and its time response is sampled K times (K = 3) by the ADC (Analog to Digital Converter) (Fig. 1). A microcontroller timer determines the duration time of the square pulse and sets the sample moments of the ADC. The self-testing approach consists of: the pre-testing stage of fault dictionary creation (the fault dictionary has the form of a family of identification curves (Fig. 2)), the measurement procedure and the fault classification procedure. The proposed BIST consists of one timer working in the Compare Mode, an event system and a 12-bit ADC of the microcontroller (Fig. 3). The events generated by channels CHA, CHB and CHC compare matches of the timer are routed via the event system to the ADC (Fig. 7). They trigger measurements on three ADC channels CH0, CH1 and CH2 adequately (Fig. 4). The channel CHD compare match event is used to set up the duration time of the stimulant pulse. The BIST works according to the measurement procedure whose timing is shown in Fig. 5 and the algorithm in Fig. 6. The main advantages of the presented solution are better BIST parameters and the simpler measurement algorithm in comparison to the previous solutions [5-7].
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 4, 4; 368-371
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Laboratoryjny przetwornik a/c typu "floating-point" na bazie karty DAQ
    Floating-point laboratory A/D converter based on DAQ card
    Autorzy:
    Lentka, G.
    Boński, T.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/209138.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
    Tematy:
    przetworniki A/C
    przetworniki floating-point
    kwantowanie nierównomierne
    karty akwizycji danych
    A/D converters
    floating point
    non-equal quantization
    data acquisition cards
    Opis:
    W artykule przedstawiono zrealizowany przetwornik a/c typu "floating-point" na bazie karty akwizycji danych typu PCI-6221 uzupełnionej o wzmacniacz wejściowy o programowanym wzmocnieniu. Opisywany przetwornik jest podstawą ćwiczenia w laboratorium studenckim. W skład ćwiczenia wchodzi dodatkowo program symulacyjny pozwalający zapoznać się z ideą pracy przetworników typu "floating-point", a następnie przejść do realizacji przetwornika w systemie na bazie karty akwizycji danych.
    The paper presents the performed floating-point A/D converter based on PCI-6221 DAQ card with the added input programmable gain amplifier. The converter is a main object in a student lab. The laboratory exercise additionally contains a simulation program, which allows us to familiarize with an idea of floating-point converters and then follow up with the converter based on DAQ card.
    Źródło:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2008, 57, 2; 256-267
    1234-5865
    Pojawia się w:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Generowanie i akwizycja sygnałów testowych w metodach pomiarowych elementów toru audio
    Generating and acquisition of test signals in measuring methods of audio devices
    Autorzy:
    Król, D.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/158161.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    metody pomiarowe
    przetworniki
    A/C
    C/A
    MLS
    measurement technology
    converters
    ADC
    DAC
    Opis:
    W artule przedstawiono wyniki badań dotyczących wpływu sposobu generowania oraz akwizycji sygnałów testowych na dokładność metod pomiarowych elementów toru audio. Sygnał testowy generowano za pomocą efektywnej metody MLS (Maximum Length Sequence). Do pełnego wykorzystania jej zalet muszą jednak zostać spełnione określone wymagania odnośnie przetworników analogowo-cyfrowych i cyfrowo-analogowych. W badaniach wykorzystano przetworniki z modulacją Sigma-Delta oraz typu SAR (Successive Approximation Register). W artykule zaprezentowano analizę porównawczą wyników otrzymanych w eksperymentach z wykorzystaniem dwóch torów pomiarowych bazujących na różnych typach przetworników.
    The paper describes research results concerning influence of generating and acquisition test signals in precision measurements methods of audio devices. The test signal was generated by effective algorith MLS (Maximum Length Sequence). However for full take advantage of MLS alforithm, specified requirements must be fulfilled regarding of analog-to-digital and digital-to-analog converters. In research was used converters with Sigma-Delta modulation and SR (Successive Approximation Register) type. Superior performance of the SAR analog to digital converters over Sigma Delta ones has been shown.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 209-212
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies