Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Schumacher, H." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Charge Carrier Dynamics in $Ga_{1-x}Mn_{x}As$ Studied by Resistance Noise Spectroscopy
Autorzy:
Lonsky, M.
Teschabai-Oglu, J.
Pierz, K.
Sievers, S.
Schumacher, H.
Yuan, Y.
Böttger, R.
Zhou, S.
Müller, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1397018.pdf
Data publikacji:
2018-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.50.Pp
73.50.Td
73.50.-h
73.61.-r
64.60.ah
61.72.-y
Opis:
We report on electronic transport measurements of the magnetic semiconductor Ga_{1-x}Mn_{x}As, whereby the defect landscape in various metallic thin films (x=6%) was tuned by He-ion irradiation. Changes in the distribution of activation energies, which strongly determine the low-frequency 1/f-type resistance noise characteristics, were observed after irradiation and can be explained by deep-level traps residing in the As sublattice. Various other kinds of crystalline defects such as, for instance, Mn interstitials, which possibly form nanoscale magnetic clusters with a fluctuating spin orientation, also contribute to the 1/f noise and can give rise to random telegraph signals, which were observed in films with x=7%. In addition, we neither find evidence for a magnetic polaron percolation nor any features in the noise near the Curie temperature.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2018, 133, 3; 520-522
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies