Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Oskwarek, Ł." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Zastosowanie zagadnienia odwrotnego EEG do oceny aktywności elektrycznej kory mózgowej na użytek interfejsu BCI
    Application of EEG inverse problem to evaluation of electrical activity of the cerebral cortex for the use of Brain-Computer Inter-face
    Autorzy:
    Oskwarek, Ł.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/152362.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    elektroencefalografia
    aktywność mózgu
    zagadnienie odwrotne EEG
    interfejs mózg-komputer (BCI)
    electroencephalography
    brain activity
    EEG inverse problem
    Brain-Computer Interface (BCI)
    Opis:
    Treścią artykułu jest ocena aktywności elektrycznej kory mózgowej w badaniach wykonywanych na potrzeby interfejsu mózg-komputer (BCI). Analiza ta może być przydatna do optymalizacji liczby i rozmieszczenia elektrod oraz wyboru cech najlepiej separujących określone klasy zadań myślowych. Wyniki rozwiązania zagadnienia odwrotnego EEG pokazują, że w tej mierze najbardziej predysponowane są centralne obszary kory (pod elektrodami: C3, C4 i Cz), w paśmie alfa (8-12 Hz).
    The subject of the paper is evaluation of the brain electrical activity associated with imagining some specific motor actions assigned to the specific classes in an asynchronous brain-computer interface (BCI) (Section 1, [1, 2, 3, 4]). These analyzes, called as inverse problems of EEG, can be useful to optimize the number and placement of electrodes and also to select the features which best separate the considered classes. Dedicated calculations were carried out using the algorithm sLORETA (Section 3, [7, 8, 9, 10]). Evaluation of brain activity in the time domain indicates the regular activation of the: frontal, temporal, occipital, and the central part of the cerebral cortex (Section 5, Fig. 5). However, the evaluation of activity in the frequency domain provides reliable information about the differences between the selected classes. The obtained results lead to the conclusion that in this matter the most important differences are observed in the central parts of the cortex, over which the electrodes: C3, C4 and Cz are located; in the alpha band, i.e. 8-12 Hz (Section 6, Fig. 6-8). Limitation of the analysis to 8 EEG time series confirms the correctness of the electrodes selection applied in the dedicated system g.tec, used in the Department of Information and Measuring Systems of the Warsaw University of Technology (Section 7, Fig. 9, [1, 2]). All the onclusions from performed calculations are consistent with the general neurobiological knowledge [5, 6].
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 5, 5; 275-278
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wpływ redukcji liczby elektrod w systemie BCI na ocenę aktywności elektrycznej mózgu
    The impact of reducing the number of electrodes in the BCI system on evaluation of the brain electrical activity
    Autorzy:
    Oskwarek, Ł.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155070.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    interfejs mózg-komputer
    BCI
    elektroencefalografia
    EEG
    aktywność mózgu
    zagadnienie odwrotne EEG
    Brain-Computer Interface
    electroencephalography
    brain activity
    EEG inverse problem
    Opis:
    W artykule zaprezentowano wyniki analiz dotyczących aktywności elektrycznej mózgu ukierunkowanych na możliwość redukcji liczby elektrod w badaniu EEG wykonywanym na potrzeby asynchronicznego interfejsu mózg-komputer (BCI). Stosowne obliczenia potwierdzają zasadność wyboru zestawu 8 elektrod (tzn. F3, T7, C3, Cp1, C4, T8, F4 i Cz) w systemie BCI, wykorzystującym wyspecjalizowany wzmacniacz EEG firmy g.tec, skonstruowanym w IETiSIP Politechniki Warszawskiej.
    The subject of the paper is evaluation of the brain electrical activity associated with imagining some specific motor actions for the needs of asynchronous Brain-Computer Interface (BCI) [1-4]. These analysis, called EEG inverse problems, can be useful among others to optimize the number and placement of electrodes. Dedicated calculations were carried out using the algorithm sLORETA (Section 3) [5-13]. The basis of the BCI interface is the ability to detect differences between the considered classes of tasks. In the case of asynchronous interfaces, the evaluation of brain activity in the frequency domain provides much more conclusive information than the time-domain analysis. These indicate that, although the best conditions for synchronous neuronal activity are in the range of delta waves (up to 4 Hz), the biggest differences between the compared classes are apparent in the alpha band (8-12 Hz) in the central parts of the cortex (Section 5; pic. 2,3). Moreover, the performed calculations show no significant difference in the location of the brain activity sources for the results obtained using the set of 32 electrodes and after the fourfold reduction in the number of electrodes. Thus, they confirm the relevance of the set of 8 electrodes (i.e. F3, T7, C3, CP1, C4, T8, F4, and Cz) in the BCI system constructed and used in the Department of Information and Measuring Systems of the Warsaw University of Technology (Sections 6,7; Fig. 5; Tab. 2).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 9, 9; 718-721
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Przykłady zastosowań metod planowania i oceny eksperymentu w tomografii impedancyjnej i mikroskopii elektronowej
    Selected applications of experiment planning and evaluation in the area of impedance tomography and electron microscopy
    Autorzy:
    Oskwarek, Ł.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155833.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    planowanie i ocena eksperymentu
    hipotezy statystyczne
    istotność wpływu czynnika
    równanie regresji
    experiment planning and evaluation
    statistical hypotheses
    significance of the impact factor
    regression equation
    Opis:
    Przedmiotem artykułu są wybrane zagadnienia z teorii eksperymentu, takie jak: testowanie hipotez statystycznych, ocena istotności wpływu czynników oraz ocena postaci równania regresji. Wiedza z tego zakresu została wykorzystana do oceny wyników pomiarów wykonanych na potrzeby impedancyjnej tomografii komputerowej (ocena krzywych poprawek, ocena wpływu czynników związanych z układem pomiarowym) oraz skaningowej mikroskopii elektronowej (ocena równania opisującego zniekształcenia obrazów pod wpływem zewnętrznego pola zakłócającego).
    In the paper selected problems of the theory of experiment like: statistical hypotheses testing, assessment of the significance of impact factors and evaluation of a regression equation [1, 2, 3, 4, 5, 6] are presented. Knowledge of this area may be useful for engineers when assessing the method of measurement and operation of a developed system. From the analysis performed for impedance tomography [7, 8, 9], using planning and evaluation of experiment methods, one can draw the following conclusions: although it is necessary to introduce corrections to the raw measurements, their values can be approximated by a linear regression curve, it is possible to follow the same correction curves (Fig.1) and the associated uncertainty for measurement results obtained by excitation of different pairs of electrodes, most of parameters relating to the measurement system, in the examined range of variation, had no significant effect on the obtained results - thanks to that, conclusions presented in the paper are more universal. In turn, the calculations performed for microscopic research [10, 11] showed that the derived forms of the regression equation (Fig. 2) describe correctly the empirical data, and the reproducibility of performed experiments was satisfactory. This improves reliability of the results concerning evaluation of the impact of the external magnetic field on the distortion level of observed images.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 11, 11; 1289-1292
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Ocena wpływu zewnętrznych pól magnetycznych i elektromagnetycznych na działanie skaningowego mikroskopu elektronowego
    Estimation of external magnetic and electromagnetic fields influence on Scanning Electron Microscope operation
    Autorzy:
    Płuska, M.
    Oskwarek, Ł.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151432.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    mikroskopia elektronowa
    skaningowy mikroskop elektronowy
    zakłócenia elektromagnetyczne
    indukcja magnetyczna
    scanning electron microscopy (SEM)
    electromagnetic distortions
    magnetic induction
    Opis:
    Tematyka artykułu odnosi się do aktualnych zagadnień z zakresu skanin-gowej mikroskopii elektronowej. Odkształcenia obrazu struktury badanego obiektu spowodowane wpływem zewnętrznych pól magnetycznych lub elektromagnetycznych są jednym z najczęstszej spotykanych niepożądanych efektów w mikroskopii. Prowadzone w tym zakresie analizy i badania mają na celu przede wszystkim uzyskanie oceny ilościowej dotyczącej indukcji pola magnetycznego przenikającego przez komorę mikroskopu oraz jej wpływu na wartość odchylenia wiązki padającej na obiekt badany (np. element półprzewodnikowy).
    In the paper some tasks deal with Scanning Electron Microscope (SEM) are presented. Image deformation caused by electromagnetic interference (EMI) is one of the most frequent undesirable effects in practical scanning electron microscopy. They usually appear as a constant or periodic deformation of vertical edges of an observed specimen. Available, but still very expensive methods for decreasing their influence are shielding and electromagnetic field compensation. The other approach is digital image processing for its correction. However, elimination of the distortions (with hardware or software methods) would be more effective when their influence on microscope system are known or predictable. The main goal of current investigations is work out a method for quantitative measurement of magnetic field in the microscope chamber and estimation of its influence on electon beam deflaction. The results obtained by the use of scanning electron microscope were verified by comparing its with the ones obtained using alternative magnetic field meter.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9, 9; 61-64
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies