Autor: Mueller, L. - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Comparison of deep seepage estimations of a virtual with a real lysimeter by means of TDR-measurements
Autorzy:: Schindler, U.
Mueller, L.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/24500.pdf
Data publikacji:: 2005
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Agrofizyki PAN
Tematy:: lysimeter
deep seepage
measurement
soil
unsaturated hydraulic conductivity
time domain reflectometry
Źródło:: International Agrophysics; 2005, 19, 1
0236-8722
Pojawia się w:: International Agrophysics
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: The Impact of Noise and Mismatch on SAR ADCs and a Calibratable Capacitance Array Based Approach for High Resolutions
Autorzy:: Mueller, J. H.
Strache, S.
Busch, L.
Wunderlich, R.
Heinen, S.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/226396.pdf
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog-digital conversion
analog-digital integrated circuits
calibration
CMOS integrated circuits
mathematical model
MATLAB
mixed analog digital integrated circuits
noise
numerical simulation
prediction methods
Opis:: This paper describes widely used capacitor structures for charge-redistribution (CR) successive approximation register (SAR) based analog-to-digital converters (ADCs) and analyzes their linearity limitations due to kT/C noise, mismatch and parasitics. Results of mathematical considerations and statistical simulations are presented which show that most widespread dimensioning rules are overcritical. For high-resolution CR SAR ADCs in current CMOS technologies, matching of the capacitors, influenced by local mismatch and parasitics, is a limiting factor. For high-resolution medium-speed CR SAR ADCs, a novel capacitance array based approach using in-field calibration is proposed. This architecture promises a high resolution with small unit capacitances and without expensive factory calibration as laser trimming.
Źródło:: International Journal of Electronics and Telecommunications; 2013, 59, 2; 161-167
2300-1933
Pojawia się w:: International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Informacja

Wyszukujesz frazę "Mueller, L." wg kryterium: Autor

Źródło danych

Dostawca treści

Kolekcja

Rok wydania

Wydawca

Temat

Autor

Typ dokumentu

Język