Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Markevich, V." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Hole-Related Electrical Activity of InAs/GaAs Quantum Dots
Autorzy:
Kruszewski, P.
Dobaczewski, L.
Markevich, V.
Mitchell, C.
Missous, M.
Peaker, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1811950.pdf
Data publikacji:
2008-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
73.21.La
79.40.+z
Opis:
We present the hole-related electrical activity of the InAs quantum dots embedded in the n-type GaAs. We performed our experiments with the use of the Laplace and conventional deep level transient spectroscopies combined with the above GaAs band-gap illumination. We observed that depending on temperature and electric field the hole emission process is an interplay between the pure thermal emission and tunnelling processes. The tunnelling was quantitatively described by a simple model of the potential barrier.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 5; 1201-1206
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Role of Ionic Processes in Degradation of Wide-Gap II-VI Semiconductor Materials
Autorzy:
Borkovskaya, L.V.
Dzhymaev, B.R.
Korsunskaya, N.E.
Markevich, I.V.
Singaevsky, A.F.
Sheinkman, M.K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1858211.pdf
Data publikacji:
1998-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.55.Jv
78.55.Et
Opis:
A role of mobile defects in processes responsible for II-VI compound semiconductor characteristic instability is under consideration. These defects have been shown to be responsible for electron-enhanced reactions in these materials, in particular, shallow donor creation in CdS crystals. Accumulation of mobile defects near dislocations results in some specific effects: anisotropy of conductivity induced by electric field and distortion of edge emission spectrum shape. These effects side by side with electron-enhanced defect reactions have been found to influence considerably semiconductor device characteristics.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1998, 94, 2; 255-259
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies