Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Žuk, T. S." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
The influence of tool composite’s structure during process of diamond grinding of ceramic materials
Autorzy:
Gawlik, J.
Niemczewska-Wójcik, M.
Krajewska, J.
Sokhan, S. V.
Paščenko, E. A.
Žuk, T. S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/407111.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
ceramic materials
modified diamond tools
surface geometric structure
Opis:
This paper presents the results of the tests performed during the grinding process of the ceramic materials: - polycrystalline ceramics (Zirconium ZrO2) and mono-crystalline ceramics (sapphire -Al2O3) by the diamond tools. Studies have shown that the concentration (thickening) of the tool composite changes the tool’s pore structure when using suitable wetted adamantine additives. Such modified composite has positive impact on tribological properties of the subsurface layer of the machined components. This is manifested by the reduction of the surface roughness and reduction of the vibration amplitude of the coefficient of friction. The possibilities of the positive effects when using wetted additives on the tool’s composite during the pressing (briquetting) stage confirm the study results.
Źródło:
Management and Production Engineering Review; 2014, 5, 4; 9-17
2080-8208
2082-1344
Pojawia się w:
Management and Production Engineering Review
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Optical Pattern Fabrication in Amorphous Silicon Carbide with High-Energy Focused Ion Beams
Autorzy:
Tsvetkova, T.
Takahashi, S.
Sellin, P.
Gomez-Morilla, I.
Angelov, O.
Dimova-Malinovska, D.
Zuk, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1503892.pdf
Data publikacji:
2011-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
41.75.Ak
42.70.Ln
68.37.Uv
73.61.Jc
Opis:
Topographic and optical patterns have been fabricated in a-SiC films with a focused high-energy (1 MeV) $H^{+}$ and $He^{+}$ ion beam and examined with near-field techniques. The patterns have been characterized with atomic force microscopy and scanning near-field optical microscopy to reveal local topography and optical absorption changes as a result of the focused high-energy ion beam induced modification. Apart of a considerable thickness change (thinning tendency), which has been observed in the ion-irradiated areas, the near-field measurements confirm increases of optical absorption in these areas. Although the size of the fabricated optical patterns is in the micron-scale, the present development of the technique allows in principle writing optical patterns up to the nanoscale (several tens of nanometers). The observed values of the optical contrast modulation are sufficient to justify the efficiency of the method for optical data recording using high-energy focused ion beams.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 1; 56-59
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies