Wszystkie pola: electron holography - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Application of Graphics Processing Unit for In-Line Electron Holography
Autorzy:: Morawiec, K.
Dłużewski, P.
Kret, S.
Szczepańska, A.
Li, T.
Sloan, J.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1033020.pdf
Data publikacji:: 2017-05
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 68.37.Lp
68.37.Og
68.55.Nq
42.30.Rx
61.05.jp
07.05.Pj
42.30.-d
42.30.Wb
Opis:: In the present work, software for exit electron wave reconstruction based on the iterative approach was implemented and a new method for drift-correction of the focal series was proposed.
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 2017, 131, 5; 1353-1356
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:: Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Off-Axis Electron Holography of Magnetic Nanostructures: Magnetic Behavior of Mn Rich Nanoprecipitates in (Mn,Ga)As System
Autorzy:: Barańska, M.
Dłużewski, P.
Kret, S.
Morawiec, K.
Li, Tian
Sadowski, J.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1033003.pdf
Data publikacji:: 2017-05
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 61.05.jp
68.37.Lp
07.05.Pj
75.50.Pp
Opis:: The Lorentz off-axis electron holography technique is applied to study the magnetic nature of Mn rich nanoprecipitates in (Mn,Ga)As system. The effectiveness of this technique is demonstrated in detection of the magnetic field even for small nanocrystals having an average size down to 20 nm.
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 2017, 131, 5; 1406-1408
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:: Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Advanced microstructure diagnostics and interface analysis of modern materials by high-resolution analytical transmission electron microscopy
Autorzy:: Neumann, W.
Kirmse, H.
Hausler, I.
Mogilatenko, A.
Zheng, C.
Hetaba, W.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/199872.pdf
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: electron microscopy
energy dispersive X-ray spectroscopy
electron energy loss spectroscopy
electron holography
Opis:: Transmission electron microscopy (TEM) is a powerful diagnostic tool for the determination of structure/property relationships of materials. A comprehensive analysis of materials requires a combined use of a variety of complementary electron microscopical techniques of imaging, diffraction and spectroscopy at an atomic level of magnitude. The possibilities and limitations of quantitative TEM analysis will be demonstrated for interface studies of the following materials and materials systems: Nickel-based superalloy CMSX-10, (Zn,Cd)O/ZnO/Al2O3, (Al,Ga)N/AlN/Al2O3, GaN/LiAlO2 and FeCo-based nanocrystalline alloys.
Źródło:: Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2010, 58, 2; 237-253
0239-7528
Pojawia się w:: Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Informacja