Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "difference interferometer" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
The Influence of a Nanometric Layer with a High Refracting Index οn the Sensitivity οf the Difference Interferometer
Autorzy:
Gut, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1811550.pdf
Data publikacji:
2008-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
42.82.Et
07.07.Df
42.79.Pw
Opis:
Planar waveguides in which some range of the waveguide was modified by depositing on it a layer of some other dielectric, are called composite optical waveguides. Such a structure is based on a planar waveguide obtained by means of ion exchange $K^+-Na^+$ on glass, and covered by an adequately profiled dielectric layer. This kind of structure is of much interest due to considerable possibilities of taking measurements, which may contribute to a further development of the optoelectronic sensor. Especially required are sensor systems in chemistry, biochemistry, biotechnology, and others. Investigations on the properties of composite layers constitute a continuation of investigations concerning the construction of interferometers, which are very sensitive, cheap and easy to be produced.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 6A; A-121-A-126
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Differential interference in a polymer waveguide
Autorzy:
Gut, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/200139.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
planar waveguides
interferometers
integrated optical sensors
difference interferometer
Opis:
The paper presents the results of investigations concerning the measurement of the refractive index and the thickness of planar waveguide structures, obtained by photo polymerization of the polymer SU8. In the paper the mode sensitivity has been calculated as a function of the thickness in a single-mode structure. The thickness of the layer has been determined in the case when the interferometer is most sensitive to changes of the refractive index.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2011, 59, 4; 395-399
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wyznaczanie długości i względnej niestabilności fali światła diody laserowej w układzie interferometru Michelsona ze stabilizowaną różnicą dróg optycznych
Determination of wavelength and wavelength relative instability of laser by means of optical path difference stabilized Michelson interferometer
Autorzy:
Żaba, M.
Dobosz, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158456.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
interferometr Michelsona
stabilizacja różnicy dróg optycznych
zerowa różnica dróg optycznych
Michelson interferometer
stabilization of ihe optica) path
difference
null optical path difference
Opis:
W artykule przedstawiono budowę i działanie stanowiska do pomiaru długości oraz względnej niestabilności długości fali światła diody laserowej. Idea pomiaru polega na wyznaczeniu i porównaniu absolutnej wartości fazy rozkładu prążków interferencyjnych lasera badanego i wzorcowego w układzie interferometru Michelsona z systemem automatycznej stabilizacji różnicy dróg optycznych. Wiązki obu laserów są spolaryzowane względem siebie pod kątem prostym i wprowadzone są do układu interferometru po tym samym torze. Prostopadła polaryzacja wiązek laserowych, pozwala na późniejsze rozdzielenie i identyfikację pól interferencyjnych. W interferometrze określana jest zerowa różnica dróg optycznych a następnie jej wartość jest zwiększana z jednoczesnym pomiarem rzędów interferencji dla obu laserów. Po osiągnięciu zamierzonego rzędu interferencji lasera wzorcowego, uruchamiana zostaje procedura automatycznej stabilizacji różnicy dróg optycznych. Znajomość bezwzględnej wartości faz prążków obu laserów i długości fali lasera wzorcowego pozwala wyznaczyć długość fali diody laserowej, oraz względną niestabilność długości fali.
The method of laser diode wavelength and wavelength instability determination for metrological application is presented. The measurement idea is based on absolute phase change measurement in the Michelson interferometer having optical path difference stabilization. Laser diode beam and He-Ne laser beam are used simultaneously as a source of light referring to the zero optical path difference are located. Next optical path lights are evaluated by counting fringe method. Increase of the optical path difference is stoped when fringe order of He-Ne laser is equal about to 10000. At point the optical path difference is stabilized using He-Ne laser light. Relation of the fringes phases values of both laser appoints wavelength and its relative wavelength instability.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 329-331
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies