- Tytuł:
- Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w diagnostyce warstwy wierzchniej
- Autorzy:
-
Bramowicz, Mirosław.
Kłysz, Sylwester. - Powiązania:
- Prace Naukowe Instytutu Technicznego Wojsk Lotniczych 2007, nr 22, s. 159-166
- Data publikacji:
- 2007
- Tematy:
-
Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych (Warszawa) badania naukowe
Inżynieria powierzchni
Mikroskop elektronowy skaningowy stosowanie
Technika sił powietrznych - Opis:
- Rys., tab.; Bibliogr.; Streszcz.
- Dostawca treści:
- Bibliografia CBW
Artykuł