Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "physics of failure" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Failure-based sealing reliability analysis considering dynamic interval and hybrid uncertainties
    Autorzy:
    Sun, Bo
    Yang, Xi
    Ren, Yi
    Wang, Zili
    Antosz, Katarzyna
    Loska, Andrzej
    Jasiulewicz-Kaczmarek, Małgorzata
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1841699.pdf
    Data publikacji:
    2021
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    reliability analysis
    dynamic interval
    hybrid uncertainty
    physics of failure
    sealing
    Opis:
    In the reliability analysis of a sealing structure, radial clearance of the contact surface is usually regarded as a failure criterion, and the sample size is usually quite small, which brings great challenges to uncertainty quantification. Therefore, this paper proposes a reliability analysis method based on the leakage mechanism of the sealing. With the application of dynamic interval, the proposed method can be used to deal with problem of degradation in small sample to evaluate reliability. Moreover, the dynamic reliability with the mixture of the probabilistic and non-probabilistic variables can be obtained using the proposed method. An illustrative numerical case study of a spool valve is conducted in order to validate the proposed method and the implemented reliability sensitivity analysis. The proposed method is of great help in evaluating and predicting reliability with small degradation sample and hybrid uncertainties.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2021, 23, 2; 278-284
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A combined universal generating function and physics of failure Reliability Prediction Method for an LED driver
    Autorzy:
    Fan, Liming
    Wang, Kunsheng
    Fan, Dongming
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1841791.pdf
    Data publikacji:
    2021
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    reliability prediction
    LED driver
    reliability modelling
    physics of failure
    universal generating function
    Opis:
    The accurate and effective reliability prediction of light emitting diode (LED) drivers has emerged as a key issue in LED applications. However, previous studies have mainly focused on the reliability of electrolytic capacitors or other single components while ignoring circuit topology. In this study, universal generating function (UGF) and physics of failure (PoF) are integrated to predict the reliability of LED drivers. Utilizing PoF, lifetime data for each component are obtained. A system reliability model with multi-phase is established, and system reliability can be predicted using UGF. Illustrated by a two-channel LED driver, the beneficial effects of capacitors and MOSFETs for the reliability of LED drivers is verified. This study (i) provides a universal numerical approach to predict the lifetime of LED drivers considering circuit topology, (ii) enhances the modelling and reliability evaluation of circuits, and (iii) bridges the gap between component and circuit system levels.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2021, 23, 1; 74-83
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Zmodyfikowany model prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych
    A modified model of electronic device reliability prediction
    Autorzy:
    Zeng, S.
    Sun, B.
    Tong, Ch.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301431.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    prognozowanie niezawodności
    modyfikacja modelu
    fizyka uszkodzeń
    urządzenie elektroniczne
    test K-S
    testy cenzurowania losowego
    reliability prediction
    model modification
    physics of failure
    electronic device
    K-S test
    random censored tests
    Opis:
    Prognozowanie niezawodności urządzeń elektronicznych oparte na modelu fizyki uszkodzeń (PoF) jest obarczone niepewnościami. Opierając się na połączeniu testu Kołmogorowa-Smirnowa (testu K-S) i metody symulacji Monte Carlo, w niniejszej pracy zaprezentowano zmodyfikowaną metodę prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych, która bierze pod uwagę ograniczoną liczbę danych testowych o uszkodzeniach. Ilościową charakterystykę głównych czynników niepewności modelu stworzono na podstawie wskaźnika zdolności procesu (Cpk). W pierwszej części pracy badano stopień dopasowania pomiędzy teoretycznym rozkładem podobieństwa uszkodzeń urządzeń elektronicznych obliczanym w oparciu o PoF przy użyciu metody symulacji Monte-Carlo a empirycznym rozkładem podobieństwa uszkodzeń urządzeń elektronicznych uzyskanym na podstawie testowych lub terenowych danych o uszkodzeniach przy życiu metody K-S. W części drugiej, dokonano optymalizacji skorygowanego współczynnika modelu. Wreszcie, na podstawie przykładu modelu oceny termicznej wytrzymałości zmęczeniowej połączenia lutowanego oraz wybranych danych testowych o uszkodzeniach dokonano weryfikacji proponowanej metody. Wyniki prognoz uzyskane na podstawie zmodyfikowanego modelu są zgodne z wynikami testowymi.
    There exist uncertainties in the prediction of electronic device reliability based on PoF (physics of failure) model. Based on the combination of Kolmogorov-Smirnov test (KS-test) and Monte-Carlo simulation method, this paper presents a modified method for reliability prediction of electronic devices considering limited test failure data. The process capability index (Cpk) is used to quantitatively characterize the main factors of model uncertainties. Firstly the degree of fitting between the theoretical probability distribution of electronic device failures based on PoF by using the Monte-Carlo simulation method and the practical probability distribution of electronic device failures based on test or field failure data is tested by using K-S test method. Secondly the corrected coefficient of the model is optimized. Finally, a solder thermal fatigue life assessment model and some test failure data are used to verify the proposed method in the illustrative example. The prediction results calculated by modifi ed model are consistent with test results.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2009, 4; 4-9
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Physics-of-failure and computer-aided simulation fusion approach with a software system for electronics reliability analysis
    Metoda i oprogramowanie do analizy niezawodności urządzeń elektronicznych oparte na połączeniu metodologii fizyki uszkodzeń i symulacji komputerowej
    Autorzy:
    Sun, Bo
    Li, Yu
    Wang, Zili
    Li, Zhifeng
    Xia, Quan
    Ren, Yi
    Feng, Qiang
    Yang, Dezhen
    Qian, Cheng
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301540.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    physics of failure
    reliability analysis
    electronics
    prognostics and health management
    computeraided simulation
    software system
    fizyka uszkodzeń
    analiza niezawodności
    urządzenia elektroniczne
    prognostyka i zarządzanie zdrowiem
    symulacja komputerowa
    system oprogramowania
    Opis:
    Electronics, such as those used in the communication, aerospace and energy domains, often have high reliability requirements. To reduce the development and testing cost of electronics, reliability analysis needs to be incorporated into the design stage. Compared with traditional approaches, the physics of failure (PoF) methodology can better address cost reduction in the design stage. However, there are many difficulties in practical engineering applications, such as processing large amounts of engineering information simultaneously. Therefore, a flexible approach and a software system for assisting designers in developing a reliability analysis based on the PoF method in electronic product design processing are proposed. This approach integrates the PoF method and computer-aided simulation methods, such as CAD, FEM and CFD.The software system integrates functional modules such as product modeling, load-stress analysis and reliability analysis, which can help designers analyze the reliability of electronic products in actual engineering design. This system includes software and hardware that validate the simulation models. Finally, a case study is proposed in which the software system is used to analyze the filter module reliability of an industrial communication system. The results of the analysis indicate that the system can effectively promote reliability and can ensure the accuracy of analysis with high computing efficiency.
    Urządzenia elektroniczne, na przykład te używane w łączności, lotnictwie i energetyce, często muszą spełniać wysokie wymagania dotyczące niezawodności. Aby zmniejszyć koszty rozwoju i testowania tego typu urządzeń, należy opracować metodę analizy niezawodności, którą można wykorzystywać już na etapie projektowania. Metodologia fizyki uszkodzeń (PoF) pozwala, lepiej niż tradycyjne podejścia, rozwiązywać problemy związane z niezawodnością już na etapie powstawania projektu. Jednak jej zastosowanie w praktyce inżynierskiej nastręcza wielu trudności, związanych, między innymi, z koniecznością jednoczesnego przetwarzania dużych ilości informacji inżynieryjnych. W związku z tym, w przedstawionej pracy zaproponowano elastyczne podejście oraz system oprogramowania, które mogą być wykorzystywane przez projektantów do opracowania analizy niezawodności produktu elektronicznego w opaciu o PoF na etapie projektowania. Podejście to stanowi połączenie metody PoF i metod symulacji komputerowej, takich jak CAD, FEM i CFD. System oprogramowania zawiera moduły funkcjonalne, takie jak modelowanie produktu, analiza obciążeń, analiza niezawodności i inne, które mogą wspomagać projektantów w analizie niezawodności projektowanych przez nich produktów elektronicznych. Na system ten, oprócz oprogramowania składa się także sprzęt komputerowy, który służy do walidacji modeli symulacyjnych. W artykule przedstawiono studium przypadku, w którym zaproponowany system oprogramowania wykorzystano do analizy niezawodności modułu filtra wykorzystywanego w systemie łączności przemysłowej. Wyniki analizy pokazują, że opracowane oprogramowanie skutecznie poprawia niezawodność urządzeń jak też zapewnia dokładność analizy przy jednoczesnej wysokiej wydajności obliczeniowej.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2020, 22, 2; 340-351
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies