Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Czaja, Z." wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-15 z 47
Tytuł:
An Implementation of a Compact Smart Resistive Sensor Based on a Microcontroller with an Internal ADC
Autorzy:
Czaja, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221453.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
microcontrollers
resistance measurement
ADC
time-domain measurements
Opis:
In the paper a new implementation of a compact smart resistive sensor based on a microcontroller with internal ADCs is proposed and analysed. The solution is based only on a (already existing in the system) microcontroller and a simple sensor interface circuit working as a voltage divider consisting of a reference resistor and a resistive sensor connected in parallel with an interference suppression capacitor. The measurement method is based on stimulation of the sensor interface circuit by a single square voltage pulse and on sampling the resulting voltage on the resistive sensor. The proposed solution is illustrated by a complete application of the compact smart resistive sensor used for temperature measurements, based on an 8-bit ATxmega32A4 microcontroller with a 12-bit ADC and a Pt100 resistive sensor. The results of experimental research confirm that the compact smart resistive sensor has 1°C resolution of temperature measurement for the whole range of changes of measured temperatures.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2016, 23, 2; 225-238
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
Realization of self-testing of analog parts of electronic embedded systems based on XMEGA A family microcontrollers
Autorzy:
Czaja, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157716.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
mikrokontrolery
przetworniki A/C
samotestowanie
układy BIST
microcontrollers
ADCs
self-testing
measurement
BISTs
Opis:
Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikrokontrolera. Licznik mikrokontrolera ustala czas trwania impulsu oraz momenty próbkowania.
A measurement microsystem based on hardware resources of the ATXmega32A4 microcontroller working as a BIST (Built-in Self Tester) used for self-testing of analog parts of embedded electronic systems is presented in the paper. Self-testing is based on the fault method [5], in which a tested analog part is stimulated by a single square pulse and its time response is sampled K times (K = 3) by the ADC (Analog to Digital Converter) (Fig. 1). A microcontroller timer determines the duration time of the square pulse and sets the sample moments of the ADC. The self-testing approach consists of: the pre-testing stage of fault dictionary creation (the fault dictionary has the form of a family of identification curves (Fig. 2)), the measurement procedure and the fault classification procedure. The proposed BIST consists of one timer working in the Compare Mode, an event system and a 12-bit ADC of the microcontroller (Fig. 3). The events generated by channels CHA, CHB and CHC compare matches of the timer are routed via the event system to the ADC (Fig. 7). They trigger measurements on three ADC channels CH0, CH1 and CH2 adequately (Fig. 4). The channel CHD compare match event is used to set up the duration time of the stimulant pulse. The BIST works according to the measurement procedure whose timing is shown in Fig. 5 and the algorithm in Fig. 6. The main advantages of the presented solution are better BIST parameters and the simpler measurement algorithm in comparison to the previous solutions [5-7].
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 4, 4; 368-371
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Fault localization in analog parts of embedded electronic systems taking into account tolerances of elements
Autorzy:
Czaja, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153112.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
detekcja i lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers
Opis:
W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Następnie mikrokontroler wykonuje detekcję i lokalizację uszkodzeń opierając się na algorytmie bazującym na słowniku uszkodzeń, wygenerowanym na podstawie rodziny pasów lokalizacyjnych opisującej właściwości układu badanego.
In the paper the new method of soft fault detection and localisation of passive elements in analog parts of electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. The method enables to detect and to localize faults in circuits with tolerances. In the measurement part of the method the tested circuit is stimulated by a square impulse generated by the microcontroller, and its response is sampled by the internal ADC of the microcontroller. Next, the microcontroller realizes the fault detection and localisation according to the algorithm, which bases on the fault dictionary. The fault dictionary was generated from the family of localisation belts, which describes proprieties of the tested circuit.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 731-734
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów
An input-output fault detection method of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements
Autorzy:
Czaja, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/328736.pdf
Data publikacji:
2004
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
Tematy:
detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
analogowy układ elektroniczny
fault detection
fault localization
analog electronic circuits
Opis:
W artykule przedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy i algorytm wyznaczania szerokości pasa lokalizacyjnego. W drugim etapie omówiono algorytm detekcji i lokalizacji uszkodzeń.
In the paper a new approach of fault detection and localisation of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements is described. It consists of two stages. In the first stage a fault dictionary consisting of description of an ellipse, which approximates a nominal area representing a fault-free circuit, and coefficients defining widths of localisation bells are created. A new algorithm of generation of the ellipse and the algorithm of determination of the width of localisation bell are presented. In the second stage the algorithm of fault detection and localisation is described.
Źródło:
Diagnostyka; 2004, 30, T. 1; 119-122
1641-6414
2449-5220
Pojawia się w:
Diagnostyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Samotestowanie toru analogowego ze wzmacniaczem w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami
Self-testing of an analog part based on fully differential op-amps in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
Autorzy:
Czaja, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153396.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
samotestowanie
mikrokontroler
wzmacniacze w pełni różnicowe
self-testing
microcontrollers
fully differential op-amps
Opis:
Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego opartego na wzmacniaczu w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie "ujemnym" impulsem prostokątnym na wejściu Vocm na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.
A new self-testing method of analog parts based on fully differential op-amps in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It bases on a new fault diagnosis method based on transformation of voltage samples of the time response of a tested part on a "negative" square pulse at the Vocm input into localization curves placed in the measurement space. The stimulation pulse is generated by the short circuit of the signal at the Vocm input to the ground. The method can be used for fault detection and single soft fault localization. For the method there were developed: the measurement procedure whose algorithm is partly implemented in the program code of the microcontroller and partly included in the configuration of its peripheral devices, the ways of selection of diagnosis method parameters such as: the duration time T of the stimulation, that is short circuit of the signal Vocm to the ground signal, the size K of the measurement space and voltage sample moments, and also the fault dictionary determined experimentally. The approach is illustrated on the microsystem controlled by the ATXmega32A4 microcontroller. A low-pass 2nd order filter in the MFB topologies was selected as the tested analog part.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 9, 9; 737-740
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A random signal generation method for microcontrollers with DACs
Autorzy:
Czaja, Z.
Kowalewski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220983.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
noise generators
LFSR
microcontrollers
ADC
DAC
Opis:
A new method of noise generation based on software implementation of a 7-bit LFSR based on a common polynomial PRBS7 using microcontrollers equipped with internal ADCs and DACs and a microcontroller noise generator structure are proposed in the paper. Two software applications implementing the method: written in ANSI C and based on the LUT technique and written in AVR Assembler are also proposed. In the method the ADC results are used to reseed the LFSR after its each full work cycle, what improves randomness of generated data, which results in a greater similarity of the generated random signal to white noise, what was confirmed by the results of experimental research. The noise generator uses only the internal devices of the microcontroller, hence the proposed solution does not introduce hardware redundancy to the system.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2018, 25, 4; 675-687
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
Application of fuzzy logic to fault diagnosis of analog parts in electronic embedded systems
Autorzy:
Czaja, Z.
Załęski, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157610.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
diagnostyka uszkodzeń
BIST
logika rozmyta
mikrokontrolery
elektroniczne systemy wbudowane
fault diagnosis
fuzzy logic
microcontrollers
electronic embedded systems
Opis:
W pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora logiki rozmytej.
This paper presents employing the fuzzy modeling for faults diagnostic in analog parts of electronic mixed-signal embedded systems utilizing soft and hardware resources of microcontrollers that control these systems. The article introduces additionally the way of creating the fault dictionary, characterizes main parameters of fuzzy faults detection and localisation models and describes the manner of operating on the fuzzy soft decision processor.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 735-738
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1
A fault diagnosis of multi-section filters based on the IEEE1149.1 test bus
Autorzy:
Czaja, Z.
Bartosiński, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/152339.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
magistrala IEEE1149.1
diagnostyka uszkodzeń
mikrokontroler
układ analogowy
IEEE1149.1 test bus
microcontroller
fault diagnosis
analog circuit
Opis:
Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w pierwszej w kolejności uszkodzonej sekcji filtra.
A new solution of the JTAG BIST for self-testing of analog parts based on multi-section higher-order filters in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a fault diagnosis method based on transformation of voltage samples of the time responses of the next section of the filter on a square impulse into identification curves placed in a measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization of the first faulty section of the filter. Thanks to use of the proposed fault diagnosis method, there is no need for expanding the JTAG BIST by any additional components. It follows from the fact that the square pulse stimulating the tested circuit is set only at the input of the first section of the filter. The ADC SCANSTA476 samples two times the time responses at outputs of all sections. Thanks to this, the JTAG BIST needs only one pin of the BCT8244A, and up to 8 inputs pins connected to the analog multiplexer of the ADC of the SCANSTA476.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 9, 9; 745-748
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na klasyfikatorach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi
Fault diagnosis of analog multi-stage filters based on two-center basis function neural classifiers
Autorzy:
Kowalewski, M.
Czaja, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156722.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
klasyfikator neuronowy
mikrokontroler
układ analogowy
neural classifier
microcontroller
analog circuit
Opis:
Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do lokalizacji uszkodzeń w wielosekcyjnych torach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerem. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz metody detekcji i lokalizacji uszkodzeń toru analogowego z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie wielosekcyjnego toru analogowego złożonego z trzech filtrów dolnoprzepustowych 2-go rzędu o strukturze Sallena-Keya.
The aim of the paper is usage of a classifier with Two-Center Basis Functions for localization of faults in multi-stage filters implemented in electronic embedded systems controlled with microcontrollers. The main idea of self-testing approach is development of a BIST with a set of analog switches located between individual stages of a tested filter. Thanks to multiplexers used in general purpose input/output lines in microcontrollers, a single line can be the output of an excitation signal (eg. a square impulse) or the input of a measured signal applied to an analog-to-digital converter through the analog multiplexer. Details of the measurement procedure as well methods of detection and localization of faults in analog circuits with use of the TCBF classifier implemented in the microcontroller program code are discussed. The construction and a method of obtaining parameters of the TCBF classifier on an exemplary filter consisting of three 2nd order low-pass filters based on the Sallen-Key topology are presented.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 9, 9; 733-736
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zakon krzyżacki w Prusach i Inflantach. Podziały administracyjne i kościelne w XIII–XVI wieku, pod red. R. Czai i A. Radzimińskiego, oprac: M. Arszyński, M. Biskup, R. Czaja, B. Jähnig, K. Militzer, Z. H. Nowak, A. Radzimiński, J. Tandecki, Wydawnictwo Naukowe Uniwersytetu Mikołaja Kopernika, Toruń 2013, ss. 573.
Autorzy:
Białuński, Grzegorz
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1365111.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Instytut Północny im. Wojciecha Kętrzyńskiego w Olsztynie
Opis:
Omówienie publikacji: Zakon krzyżacki w Prusach i Inflantach. Podziały administracyjne i kościelne w XIII–XVI wieku, pod red. R. Czai i A. Radzimińskiego, oprac: M. Arszyński, M. Biskup, R. Czaja, B. Jähnig, K. Militzer, Z. H. Nowak, A. Radzimiński, J. Tandecki, Wydawnictwo Naukowe Uniwersytetu Mikołaja Kopernika, Toruń 2013, ss. 573.
Źródło:
Komunikaty Mazursko-Warmińskie; 2015, 288, 2; 343-346
0023-3196
2719-8979
Pojawia się w:
Komunikaty Mazursko-Warmińskie
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Chłopiec z Leśnik, chłopiec z Czarnkowa
Autorzy:
Czaja, Marcin
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/942878.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Związek Karaimów Polskich. Karaimska Oficyna Wydawnicza Bitik
Źródło:
Awazymyz. Pismo historyczno-społeczno-kulturalne Karaimów; 2010, 1 (26); 12-13
1733-7585
Pojawia się w:
Awazymyz. Pismo historyczno-społeczno-kulturalne Karaimów
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Postulaty zmian ustawowych regulacji ograniczających korzystanie z niektórych uprawnień emerytalnych
Autorzy:
Czaja-Hliniak, Irena
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/476661.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Krakowska Akademia im. Andrzeja Frycza Modrzewskiego
Źródło:
Studia Prawnicze: rozprawy i materiały; 2007, 5; 255-267
1689-8052
2451-0807
Pojawia się w:
Studia Prawnicze: rozprawy i materiały
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-15 z 47

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies