Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "ring LFSR" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Sygnaturowy słownik diagnostyczny o niewielkich rozmiarach wykorzystywany w testowaniu połączeń
Small-size signature-based diagnostic dictionary for testing of interconnections
Autorzy:
Garbolino, T.
Gucwa, K.
Hławiczka, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156683.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
testowanie połączeń
liniowy rejestr pierścieniowy R-LFSR
słownik diagnostyczny
interconnect test
ring LFSR
diagnostic dictionary
Opis:
Przedstawiono nowy sposób redukcji rozmiaru sygnaturowego słownika diagnostycznego (SSD) służącego do detekcji i diagnostyki uszkodzeń statycznych i opóźnieniowych w połączeniach. Testowana magistrala złożona z n linii jest dzielona na b k bitowych fragmentów. Każdy z ww. fragmentów magistrali jest testowany przy użyciu oddzielnego 2k bitowego rejestru pierścieniowego R-LFSR. Procedura testująca obejmuje cztery fazy, w których na przemian pracują parzyste oraz nieparzyste rejestry. Zaproponowane tutaj rozwiązanie pozwala znacznie zmniejszyć wielkość SSD.
The paper is devoted to a new technique enabling the substantial reduction of the size of a diagnostic dictionary used for detection, localization and identification of static and delay faults in interconnections that are tested with use of ring linear feedback shift registers (R-LFSR). The proposed method assumes that the bus under test comprises n lines and is structured into b fragments of the size of k lines per each fragment. The method also assumes that each of the aforementioned fragments is tested by means of a separate R-LFSR with its length of 2k bits. The example of such a solution is presented in Fig. 1. Moreover, the test procedure is subdivided into four phases in which odd and even R-LFSRs work alternately. Operation modes for individual registers during subsequent phases and their seeds are summarized in Table 1. The proposed way of subdivision of the test procedure makes it possible to get rid of the mutual interference between two adjacent R LFSRs in case of occurring a short-circuit between the feedback lines of these neighbouring registers. Such interactions were the drawback of the previous methods and presented the impediment that prevented the fault dictionary from having its size reduced [2]. The solution that is suggested in this study enables substantially diminishing the dictionary, where its actual size is determined by the multiplicity of r defects within each k-bit part of the connecting bus, even when the bus width n >> k [3, 4].
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 1, 1; 52-54
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies