- Tytuł:
-
Szacowanie czasu użytkowania superkondensatorów na podstawie przyspieszonych testów starzeniowych z wykorzystaniem modeli stochastycznych
Supercapacitor life time estimation based on accelerated degradation test and stochastic models - Autorzy:
-
Tarczyński, W.
Kopka, R. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/377223.pdf
- Data publikacji:
- 2016
- Wydawca:
- Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
- Tematy:
-
superkondensator
przyśpieszone testy starzeniowe
procesy degradacji
stochastyczne modele różniczkowe
niezawodność - Opis:
-
W artykule przedstawiono sposób szacowania rozkładu funkcji niezawodności superkondensatorów
z zastosowaniem przyśpieszonych testów starzeniowych. Przyśpieszenie
procesu starzenia zrealizowano poprzez przyjęcie wyższego napięcia pracy kondensatora,
a jego niezawodność określono na podstawie pomiaru zmian wartości szeregowej
rezystancji zastępczej. Rozkład funkcji niezawodności wyznaczono z wykorzystaniem stochastycznych
modeli różniczkowych. Parametry modeli wyznaczono na podstawie obserwacji
zmian parametrów kondensatora na początku testowania. W celu wyeliminowania
wpływu innych czynników przyspieszających procesy starzenia, kondensator był
umieszczony w komorze temperaturowej zapewniającej stała temperaturę.
W artykule opisano budowę stanowiska pomiarowego, algorytm prowadzenia badań,
procedurę szacowania stopnia niezawodności oraz uzyskane na jej podstawie wyniki.
Paper presents the procedure of estimating the reliability distribution of supercapacitors based on accelerated aging tests. Acceleration of the aging process was implemented through the higher operating voltage of the capacitor, and their reliability was determined by measuring changes in capacitance and equivalent series resistance. Distribution of reliability function was determined using stochastic differential models. Model parameters were derived based on the observed changes of the reliability parameters. In order to eliminate the influence of the other accelerating factors the capacitor are placed in a chamber at a constant temperature. The article describes the test setup, measuring procedure and the estimation method. - Źródło:
-
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2016, 86; 229-240
1897-0737 - Pojawia się w:
- Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł