Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "thickness measurement" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-5 z 5
    Tytuł:
    Corrosion assessment using ultrasound
    Ocena korozji przy użyciu ultradźwięków
    Autorzy:
    Magda, P.
    Stepinski, T.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/328412.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
    Tematy:
    corrosion
    thickness measurement
    C-scan
    korozja
    pomiar grubości
    Opis:
    Measurement and determination of the corrosion in the material is an important aspect of the structure safety. For that purpose article presents amplitude and time-of-flight C-scan method for thickness evaluation with single ultrasonic transducer. Test was performed using immersion setup with automated two-axis scanner.
    Pomiar i ocena korozji materiału jest istotnym aspektem dla zachowania bezpieczeństwa konstrukcji. Artykuł przedstawia dwie metody, C-scan amplitudowy i time-of-flight do pomiaru grubości przy użyciu jednego ultradźwiękowego przetwornika. Pomiar został dokonany w trybie zanurzeniowym przy użyciu dwu-osiowego skanera.
    Źródło:
    Diagnostyka; 2015, 16, 1; 15-17
    1641-6414
    2449-5220
    Pojawia się w:
    Diagnostyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Fabrication of Multilayer Cu/Ni Systems with Nanometric Layers by Electrolysis Method
    Autorzy:
    Spilka, M.
    Babilas, R.
    Ratuszek, W.
    Kowalska, J.
    Matus, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/353254.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    Cu/Ni multilayer systems
    galvanic method
    thickness measurement
    surface morphology
    topography
    Opis:
    The paper presents research results of multilayer systems composed of alternate Cu/Ni layers. The layers thickness obtained by the galvanic treatment was determined by using the transmission electron microscopy and X-ray diffraction method in the grazing incidence diffraction geometry. The surface morphology was observed using scanning electron microscope with EDS microanalysis. Observation of the surface topography of systems using the atomic force microscope was also carried out.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2018, 63, 4; 2067-2073
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Determination of the thickness of BN layers on the Al2O3 substrate by FT-IR spectroscopy
    Wyznaczanie grubości warstw BN na podłożu Al2O3 za pomocą spektroskopii FT-IR
    Autorzy:
    Możdżonek, Małgorzata
    Caban, Piotr A.
    Gaca, Jarosław
    Wójcik, Marek
    Piątkowska, Anna
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1831402.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
    Tematy:
    h-BN layers
    ATR
    IRR
    XRR
    thickness measurement
    Al2O3
    warstwy h-BN
    pomiar grubości
    Opis:
    Hexagonal boron nitride (h-BN) is an attractive material for applications in electronics. The technology of devices based on BN requires non-destructive and fast methods of controlling the parameters of the produced layers. Boron nitride layers of different thickness were grown on sapphire substrates (Al2O3) using the MOCVD method. The obtained films were characterized by FT-IR spectroscopy using IRR and ATR techniques and by the XRR and SEM methods. We showed that by analyzing the ATR or reflectance spectrum in the range of 600-2500 cm-1 we can measure the thickness of a BN layer on the Al2O3 substrate. Our measuring method allows measuring the layers with a thickness from ~2 nm to approx. 20 nm.
    Heksagonalny azotek boru (h-BN) jest atrakcyjnym materiałem do zastosowań w elektronice. Technologia wytwarzania urządzeń z zastosowaniem warstw h-BN wymaga nieniszczących i szybkich metod kontroli parametrów produkowanych warstw. Warstwy azotku boru o różnej grubości wyhodowano na podłożach szafirowych metodą MOCVD. Otrzymane warstwy scharakteryzowano za pomocą spektroskopii FT-IR z użyciem technik IRR i ATR oraz metodami XRR i SEM. Pokazaliśmy, że analizując widmo ATR lub odbicia w zakresie 600-2500 cm-1 można zmierzyć grubość warstwy BN na podłożu Al2O3. Nasza metoda pomiarowa pozwala na pomiar warstw o grubości od ~2 nm do ok. 20 nm.
    Źródło:
    Materiały Elektroniczne; 2020, T. 48, nr 1-4, 1-4; 15-20
    0209-0058
    Pojawia się w:
    Materiały Elektroniczne
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Measurement of Silver Nanolayer Absorption by the Body in an in Vivo Model of Inflammatory Gastrointestinal Diseases
    Autorzy:
    Siczek, K.
    Pawlak, W.
    Zatorski, H.
    Fichna, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/221074.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    silver nanolayer
    measurement of layer thickness
    in vivo animal model
    Opis:
    Layers of silver particles are used in the studies on pathophysiology and treatment of diseases, both in pre-clinical and clinical conditions. Silver layers can be formed using different techniques and on different substrates. Deposition by magnetron sputtering on glass beads was used in this study. Silver absorption by the body was estimated by calculating the difference in thickness of the silver nanolayer deposited on a bead and measured before and after application of the bead in an animal model of gastrointestinal inflammation. Recommendations for the minimal thickness of silver nanolayer deposited on glass beads were worked out for further studies.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2016, 23, 1; 133-142
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Uncertainty in stratiform cloud optical thickness inferred from pyranometer measurements at the sea surface
    Autorzy:
    Rozwadowska, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/48954.pdf
    Data publikacji:
    2004
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Oceanologii PAN
    Tematy:
    Monte Carlo model
    cloud model
    pyranometer
    measurement
    sea surface
    cloud optical thickness
    Opis:
    The relative ‘plane-parallel’ error in a mean cloud optical thickness retrieved from ground-based pyranometer measurements is estimated. The plane-parallel error is defined as the bias introduced by the assumption in the radiative transfer model used in cloud optical thickness retrievals that the atmosphere, including clouds, is horizontally homogeneous on the scale of an individual retrieval. The error is estimated for the optical thickness averaged over the whole domain, which simulates the mean cloud optical thickness obtained from a time series of irradiance measurements. The study is based on 3D Monte Carlo radiative transfer simulations for non-absorbing, all-liquid, layer clouds. Liquid water path distributions in the clouds are simulated by a bounded cascade fractal model. The sensitivity of the error is studied with respect to the following factors: averaging time of irradiance used in an individual retrieval, mean cloud optical thickness, cloud variability, cloud base height and solar zenith angle. In the simulations presented in this paper, the relative bias in the domain averaged cloud optical thickness retrieved from pyranometer measurements varies from +1% for optically thin clouds to nearly –20%. The highest absolute value of the relative bias is expected for thick and variable clouds with high bases (e.g. 1 km) and retrievals based on long-term mean irradiances (averaging time of the order of several tens of minutes or hours). The bias can be diminished by using short-term irradiance averages, e.g. of one minute, and by limiting retrievals to low-level clouds.
    Źródło:
    Oceanologia; 2004, 46, 2
    0078-3234
    Pojawia się w:
    Oceanologia
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-5 z 5

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies