Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "standard error" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    A modified robust confidence interval for the population mean of distribution based on deciles
    Autorzy:
    Abu-Shawiesh, Moustafa Omar Ahmed
    Sinsomboonthong, Juthaphorn
    Kibria, Bhuiyan Mohammad Golam
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2034111.pdf
    Data publikacji:
    2022-03-15
    Wydawca:
    Główny Urząd Statystyczny
    Tematy:
    robust confidence interval
    decile mean
    decile mean standard deviation
    decile mean standard error
    Monte Carlo simulation
    Opis:
    The confidence interval is an important statistical estimator of population location and dispersion parameters. The paper considers a robust modified confidence interval, which is an adjustment of the Student’s t confidence interval based on the decile mean and decile standard deviation for estimating the population mean of a skewed distribution. The efficiency of the proposed interval estimator is evaluated on the basis of an extensive Monte Carlo simulation study. The coverage ratio and average width of the proposed confidence interval are compared with certain existing and widely used confidence intervals. The simulation results show that, in general, the proposed interval estimator’s performance is highly effective. For illustrative purposes, three real-life data sets are analyzed, which, to a certain extent, support the findings obtained from the simulation study. Thus, we recommend that practitioners use the robust modified confidence interval for estimating the population mean when the data are generated by a normal or skewed distribution.
    Źródło:
    Statistics in Transition new series; 2022, 23, 1; 109-128
    1234-7655
    Pojawia się w:
    Statistics in Transition new series
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Video Streaming Framework
    Autorzy:
    Buchowicz, A.
    Galiński, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/307895.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    error resilience and concealment
    H.264/AVC standard
    media delivery over IP networks
    video coding
    Opis:
    The framework for testing video streaming techniques is presented in this paper. Short review of error resilience and concealments tools available for the H.264/AVC standard is given. The video streaming protocols and the H.264 payload format are also described. The experimental results obtained with the framework are presented in this paper too.
    Źródło:
    Journal of Telecommunications and Information Technology; 2011, 3; 102-108
    1509-4553
    1899-8852
    Pojawia się w:
    Journal of Telecommunications and Information Technology
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Estimating the noise-related error in continuous-time integrator-based ADCs
    Autorzy:
    Gosselin, P.
    Koukab, A.
    Kayal, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/398023.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
    Tematy:
    noise
    white noise
    flicker noise
    error
    accuracy
    standard deviation
    variance
    integrator-based ADC
    incremental
    Sigma-Delta
    szum
    szum biały
    fliker-szum
    błąd
    dokładność
    odchylenie standardowe
    wariancja
    ADC
    Opis:
    From first-order incremental ΣΔ converters to controlled-oscillator-based converters, many ADC architectures are based on the continuous-time integration of the input signal. However, the accuracy of such converters cannot be properly estimated without establishing the impact of noise. In fact, noise is also integrated, resulting in a random error that is added to the measured value. Since drifting phenomena may make simulations and practical measurements unable to ensure longterm reliability of the converters, a theoretical tool is required. This paper presents a solution to compute the standard deviation of the noise-generated error in continuous-time integrator-based ADCs, under the assumption that a previous measure is used to calibrate the system. In addition to produce a realistic case, this assumption allows to handle a theoretical issue that made the problem not properly solvable. The theory is developed, the equations are solved in the cases of pure white noise, pure flicker noise and low-pass filtered white noise, and the implementation issues implied by the provided formulas are addressed.
    Źródło:
    International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2016, 7, 2; 54-59
    2080-8755
    2353-9607
    Pojawia się w:
    International Journal of Microelectronics and Computer Science
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A novel Wiener process model with measurement errors for degradation analysis
    Analiza degradacji z zastosowa niem nowego modelu procesu Wienera uwzględniającego błędy pomiarowe
    Autorzy:
    Wang, Z.
    Li, J.
    Zhang, Y.
    Fu, H.
    Liu, C.
    Krishnaswamy, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301209.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    performance degradation
    independent increment process
    Wiener process model
    linear mean function
    linear standard deviation function
    measurement error
    obniżenie charakterystyk
    proces o przyrostach niezależnych
    model procesu Wienera
    funkcja średniej liniowej
    funkcja liniowego odchylenia standardowego
    błąd pomiaru
    Opis:
    Degradation analysis can be used to assess reliability for complex systems and highly reliable products, because few or even no failures are expected in a reasonable life test span. In order to further our study on degradation analysis, an independent increment random process method with linear mean and standard deviation functions is presented to model practical degradation procedures. It is essentially a Wiener process method. Since measurement errors are often created by imperfect instruments, procedures and environments during degradation investigation, the measurement error is incorporated into the independent increment random process. Furthermore, statistical inferences of this model are discussed, and close forms of a product’s median life and percentile of the failure time distribution (FTD) are also derived. The proposed method is illustrated and verified in a comprehensive simulation study and two practice applications for storage disks and Infrared light-emitting diodes. Meanwhile, the time-transformed Wiener process model with measurement error is considered as a reference method. Comparisons show that the proposed model can provide reasonable results, even in considerably small sample size circumstance.
    Analizę degradacji można stosować do oceny niezawodności wysoce niezawodnych złożonych systemów i produktów, ponieważ w ich przypadku istnieje bardzo niskie lub zerowe prawdopodobieństwo wystąpienia uszkodzenia w trakcie badania trwałości w przyjętym okresie eksploatacji. W artykule przedstawiono nowo opracowane podejście do modelowania procesu degradacji wykorzystujące metodę procesu o przyrostach niezależnych oraz pojęcia funkcji średniej liniowej i funkcji liniowego odchylenia standardowego. Zasadniczo jest to metoda oparta na procesie Wienera. Ponieważ badania degradacji często wiążą się z błędami pomiarowymi wynikającymi z niedoskonałości stosowanych narzędzi, procedur i warunków badawczych, opisywany proces o przyrostach niezależnych uwzględnia błędy pomiaru. Ponadto, w pracy omówiono wnioski statystyczne, jakie można wyciągnąć na podstawie przedstawionego modelu oraz wyprowadzono wzory ogólne na średnią długość życia produktu oraz na percentyl rozkładu czasu do uszkodzenia. Proponowaną metodę zilustrowano i zweryfikowano na podstawie kompleksowego badania symulacyjnego oraz przykładów praktycznego zastosowania modelu w odniesieniu do dysków pamięci masowej oraz diod podczerwieni. W artykule przedstawiono także model procesu Wienera z transformowanym czasem uwzględniający błąd pomiaru, który posłużył za model referencyjny. Porównania pokazują, że proponowany model może dawać poprawne wyniki, nawet przy bardzo małej liczebności próby.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2016, 18, 3; 396-405
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies