Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "nanofiltration polymeric membranes" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Scanning electron microscopy (SEM) in the analysis of the structure of polymeric nanofiltration membranes
Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM) w analizie struktury polimerowych membran nanofiltracyjnych
Autorzy:
Kowalik-Klimczak, A.
Bednarska, A.
Grądkowski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/258006.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
scanning electron microscopy
nanofiltration
polymeric membranes
skaningowa mikroskopia elektronowa
nanofiltracja
membrana polimerowa
Opis:
The authors examined the possible use of a scanning electron microscope (SEM) for polymeric nanofiltration membranes testing. The analysis of results allowed us to conclude that SEM technique is useful for the determination of the construction of “skin” and the support layer of nanofiltration polymeric membranes and that Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS, EDX) provides “average” data from both layers.
W pracy zweryfikowano możliwość zastosowania skaningowego mikroskopu elektronowego do badania polimerowych membran nanofiltracyjnych. Analiza uzyskanych wyników pozwoliła na stwierdzenie, że SEM może być pomocna w określaniu budowy warstw naskórkowej i wzmacniającej polimerowych membran nanofiltracyjnych, a technika EDX dostarcza „uśrednionych” danych obejmujących obie warstwy.
Źródło:
Problemy Eksploatacji; 2016, 1; 119-128
1232-9312
Pojawia się w:
Problemy Eksploatacji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Assessment of the possibilities of using atomic force microscopy (AFM) for characterisation of polymeric nanofiltration membrane surfaces
Ocena możliwości wykorzystania mikroskopu sił atomowych w badaniach powierzchni polimerowych membran nanofiltracyjnych
Autorzy:
Kowalik-Klimczak, A.
Gierycz, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/257281.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
nanofiltration
polymeric membranes
surface roughness
mikroskopia sił atomowych
nanofiltracja
membrany polimerowe
chropowatość powierzchni
Opis:
In this study, the possibility of using an atomic force microscopy to analyse the surface structure of the polymeric nanofiltration membranes was investigated. Analysis of the obtained results allowed one to conclude that the size of the scanned surface directly affects the measurement result of both the average and root-mean-square roughness of tested membranes. Therefore, it is necessary to compare the results obtained for the same size of the scanned surface.
W pracy zbadano możliwość zastosowania mikroskopu sił atomowych do analizy struktury powierzchni polimerowych membran nanofiltracyjnych. Analiza uzyskanych wyników pozwoliła na stwierdzenie, że wielkość skanowanej powierzchni bezpośrednio wpływa na wynik pomiaru zarówno chropowatości średniej arytmetycznej, jak i kwadratowej testowanych membran. Konieczne jest zatem porównywanie wyników uzyskanych dla takich samych wielkości skanowanej powierzchni.
Źródło:
Problemy Eksploatacji; 2014, 3; 17-25
1232-9312
Pojawia się w:
Problemy Eksploatacji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies