Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "metrological control" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    The Technique of without dismantling control of metrological performance of industrial measurement devices
    Bezdemontażowa kontrola metrologiczna przemysłowych układów pomiarowych
    Autorzy:
    Ogirko, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/154607.pdf
    Data publikacji:
    2003
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    bezdemontażowy
    kontrola metrologiczna
    pomiary
    wzorcowy
    obwód pomiarowy
    without dismantling
    metrological control
    measurement
    reference
    measuring circuit
    Opis:
    Industrial devices of measurement are in the heavy conditions of the operation. These factors can influence essentially on their metrological performance. Available calibrators are not suitable for realization of the metrological control without disconnection of measuring circuit. It is suggested to implement without dismantling metrological control without the breach of measuring circuit for taking into consideration the maximal amount of factors affects on metrological performance. It is considered a number of the functional schemes of reference devices for performance of the metrological control by way of parallel measurement or reproduction of informative parameter of transducers, including passive parameters, for example - resistance.
    Przemysłowe układy pomiarowe zazwyczaj pracują w skomplikowanych warunkach: szeroki zakres temperatur, niedokładne zasilanie, duży poziom zakłóceń. Wymienione czynniki mogą spowodować istotne zmiany charakterystyk metrologicznych. Również negatywny wpływ na dokładność może mieć podłączenie do innych układów systemu. Ponieważ wykorzystywane do kontroli metrologicznej kalibratory wymagają demontażu obwodu pomiarowego, proponuje się wykonanie takiej kontroli bez demontażu systemu pomiarowego w celu uwzględnienia maksymalnej ilości czynników wpływających. Rozpatrzono szereg schematów funkcyjnych układów wzorcowych dla prowadzenia kontroli metrologicznej przez równoległe pomiary lub odtwarzanie parametrów informacyjnych przetworników, w tym przetworników biernych, na przykład rezystancji.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2003, R. 49, nr 7-8, 7-8; 47-52
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Disassembly-free metrological control of analog-to-digital converter parameters
    Autorzy:
    Bubela, Tetiana
    Kochan, Roman
    Więcław, Łukasz
    Yatsuk, Vasyl
    Kuts, Victor
    Yatsuk, Jurij
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2173896.pdf
    Data publikacji:
    2022
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    metrological support
    analog-to-digital converter
    non-disassembly control
    cyber-physical system
    nonlinearity
    additive component of error
    ACE
    multiplicative component of error
    Opis:
    The authors update the issue disassembly-free control and correction of all components of the error of measuring channels with multi-bit analog-to-digital converters (ADCs). The main disadvantages of existing methods for automatic control of the parameters of multi-bit ADCs, in particular their nonlinearity, are identified. Methods for minimizing instrumental errors and errors caused by limited internal resistances of closed switches, input and output resistances of active elements are investigated. The structures of devices for determining the multiplicative and nonlinear components of the error of multi-bit ADCs based on resistive dividers built on single-nominal resistors are proposed and analyzed. The authors propose a method for the correction of additive, multiplicative and nonlinear components of the error at each of the specified points of the conversion range during non-disassembly control of the ADC with both types of inputs. The possibility of non-disassembly control, as well as correction of multiplicative and nonlinear components of the error of multi-bit ADCs in the entire range of conversion during their on-site control is proven. ADC error correction procedures are proposed. These procedures are practically invariant to the non-informative parameters of active structures with resistive dividers composed of single-nominal resistors. In the article the prospects of practical implementation of the method of error correction during non-dismantling control of ADC parameters using the possibilities provided by modern microelectronic components are shown. The ways to minimize errors are proposed and the requirements to the choice of element parameters for the implementation of the proposed technical solutions are given. It is proved that the proposed structure can be used for non-disassembly control of multiplicative and nonlinear components of the error of precision instrumentation amplifiers.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2022, 29, 4; 669--684
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies