Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "gain accuracy" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Low-power open loop multiply-by-two amplifier with gain-accuracy improved by local-feedback
Autorzy:
Gama, R.
Galhardo, A.
Goes, J.
Paulino, R.
Neves, R.
Horta, N.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397851.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
ADC
przetwornik analogowo-cyfrowy
pomnożyć przez dwa
mała moc
przepustowy czas
pozyskiwanie dokładności
ADC (analog to digital converter)
multiply by two
low power
time interleaved
gain accuracy
Opis:
This paper proposes the complete electrical design of a new multiply-by-two amplifier to be readily used in ultra high-speed medium resolution pipeline ADC stages. It is based in a switched-capacitor open-loop structure but with the novelty of having the gain accuracy improved by using an active amplifier with local feedback. Simulation results demonstrate that, with a very low-power dissipation and without employing any digital self-calibration or gain-control techniques, the circuit exhibits, over PVT corner and device mismatches, a dynamic performance and a gain-accuracy compatible with 6-bit level.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2010, 1, 1; 19-24
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Improving the contouring accuracy of a HSC linear motor milling machine
Autorzy:
Pandilov, Z.
Durakbasa, N.
Dukovski, V.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/99668.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Wrocławska Rada Federacji Stowarzyszeń Naukowo-Technicznych
Tematy:
contouring accuracy
linear motor machine
position loop gain
sampling period
Opis:
In recent years, instrumentation circular profile tests have been specified to assess the contouring accuracy of CNC machine tools. Such an instrumentation type test is the HEIDENHAIN grid encoder system, which is particularly appropriate for dynamic measurements, especially at high feed rates. In this paper influence of the position loop gain and sampling period on the contouring accuracy are effectively studied.
Źródło:
Journal of Machine Engineering; 2011, 11, 4; 130-137
1895-7595
2391-8071
Pojawia się w:
Journal of Machine Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies