Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "FIB" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-6 z 6
Tytuł:
Fabrication of electrochemical nanoelectrode for sensor application Rusing focused ion beam technology
Autorzy:
Łaszcz, A.
Nogala, W.
Czerwinski, A.
Ratajczak, J.
Kątcki, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/778764.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie. Wydawnictwo Uczelniane ZUT w Szczecinie
Tematy:
FIB nanotechnology
nanosensor
electrochemistry
Opis:
The capabilities and applications of the focused ion beam (FIB) technology for detection of an electrochemical signal in nanoscale area are shown. The FIB system, enabling continuous micro- and nanofabrication within only one equipment unit, was used to produce a prototype of electrochemical nanometer-sized electrode for sensor application. Voltammetric study of electrochemically active compound (ferrocenemethanol) revealed the diffusion limiting current (12 pA), corresponding to a disc (planar) nanoelectrode with about 70 nm diameter of contact area. This size is in a good accordance with the designed contact-area (50 nm × 100 nm for width × thickness) of the FIB-produced nanoelectrode. It confi rms that produced nanoelectrode is working properly in liquid solution and may enable correct measurements in nanometer-sized regions.
Źródło:
Polish Journal of Chemical Technology; 2014, 16, 3; 40-44
1509-8117
1899-4741
Pojawia się w:
Polish Journal of Chemical Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Observation of spheroidal graphite in ductile cast iron by TEM
Charakterystyka grafitu w żeliwie sferoidalnym techniką transmisyjnej mikroskopii elektronowej
Autorzy:
Hara, T.
Maekawa, T
Terayama, K
Kawabata, T.
Ikeno, S.
Matsuda, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/354792.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
ductile cast iron
spheroidal graphite
TEM
FIB method GRAPHITE
grafit sferoidalny
technika FIB
transmisyjna mikroskopia elektronowa
Opis:
The microstructure of spheroidal graphites in ductile cast iron (FCD450) was investigated by TEM using cross sectional TEM samples prepared by FIB method. The spheroidal graphite consisted of many small areas, and all of these areas were indexed as the graphite structure and just carbon peak was detected from there.
Mikrostruktura sferoidalnych wydzieleń grafitu w żeliwie sferoidalnym (FCD450) badana była przy użyciu transmisyjnej mikroskopii elektronowej i cienkich folii przygotowanych technika FIB. Grafit sferoidalny składał się z wielu małych obszarów i stwierdzono, że wszystkie te obszary mają strukturę grafitu i wykryto tylko pik od wegla.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2013, 58, 2; 431-432
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
FIB Method of Sectioning of III-V Core-Multi-Shell Nanowires for Analysis of Core/Sell Interfaces by High Resolution TEM
Autorzy:
Kret, S.
Kaleta, A.
Bilska, M.
Kurowska, B.
Siusys, A.
Dąbrowski, J.
Sadowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1033031.pdf
Data publikacji:
2017-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
nanowires
HRTEM
STEM
EDS
FIB
GaAs
GaAlAs
Opis:
The core-multishell wurtzite structure (In,Ga)As-(Ga,Al)As-(Ga,Mn)As semiconductor nanowires have been successfully grown on GaAs(111)B substrates using MBE technique. The nanowires cores were grown with gold eutectic catalyser in vapour-liquid-solid growth mode. The double shell overgrowth, on the side facets of nanowires, was performed using lower substrate temperature (about 400°C, and 230°C, for (Ga,Al)As, and (Ga,Mn)As shell growth, respectively). The polytypic ordering, defects, chemistry and geometric perfection of the core and the shells have been analysed at atomic level by advanced transmission electron microscope techniques with the use of axial and longitudinal section of individual nanowires prepared by focused ion beam. High quality cross-sections suitable for quantitative transmission electron microscope analysis have been obtained and enabled analysis of interfaces between the core and the shells with near atomic resolution. All investigated shells are epitaxial without misfit dislocations at the interface. Some of the shells thicknesses are not symmetric, which is due to the shadowing effects of neighbouring nanowires and directional character of the elemental fluxes in the MBE growth process.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2017, 131, 5; 1332-1335
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Contribution of electron tomography to development of innovative materials for clean energy systems and aeronautics
Wkład tomografii elektronowej do rozwoju innowacyjnych materiałów dla niskoemisyjnych systemów energetycznych i lotnictwa
Autorzy:
Kruk, A.
Czyrska-Filemonowicz, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/352236.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
TEM
STEM-HAADF
EFTEM
FIB-SEM
tomography
tomografia
Opis:
The development of innovative materials for clean energy systems and aeronautics requires use of modern research methods to characterize the structure on the level from micro- to nanoscale. Modern two-dimensional imaging techniques recently available in electron microscopes allow use of tomographic methods to characterize the structure of materials. Application of modern three dimensional imaging techniques such as electron tomography allows accurate qualitative and quantitative measurement of the structure elements in the micro- and nanoscale. The electron tomography studies have been carried out for three-dimensional visualization and metrology of different materials for clean energy systems and aeronautics. Electron tomography results provided quantitative data about shape, size and distribution of the particles, complementary to those obtained by means of quantitative TEM metallography.
Rozwój innowacyjnych materiałów dla niskoemisyjnych systemów energetycznych i lotnictwa wymaga zastosowania nowoczesnych metod badawczych w celu scharakteryzowania struktury na poziomie od mikro- do nanoskali. Nowoczesne dwuwymiarowe techniki obrazowania od niedawna dostępne w mikroskopach elektronowych, umożliwiają zastosowanie metod tomograficznych do scharakteryzowania struktury materiałów. Zastosowanie nowoczesnych technik trójwymiarowego obrazowania, takich jak tomografia elektronowa umożliwia dokładny jakościowy i ilościowy pomiar elementów mikrostruktury w mikro- i nanoskali. Badania metodami tomografii elektronowej przeprowadzone zostały w celu trójwymiarowej wizualizacji i metrologii elementów mikrostruktury róznych materiałów konstrukcyjnych dla systemów niskoemisyjnej energetyki i lotnictwa. Badania metodami tomografii elektronowej dostarczaja danych ilościowych dotyczacych kształtów, wielkości i rozkładu przestrzennego cząstek i są one uzupełnieniem do danych uzyskiwanych za pomocą metod ilościowej analizy metalograficznej przy wykorzystaniu transmisyjnej mikroskopii elektronowej.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2013, 58, 2; 387-392
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
STEM-EDX and FIB-SEM Tomography of ALLVAC 718Plus Superalloy
Autorzy:
Kruk, A.
Cempura, G.
Lech, S.
Czyrska-Filemonowicz, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/354670.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
TEM
SEM
STEM-EDX tomography
FIB-SEM tomography
Allvac 718Plus
Opis:
Allvac 718Plus (718Plus) is a high strength, corrosion resistant nickel- based superalloy used for application in power generation, aeronautics and aerospace industry. The 718Plus microstructure consists of a γ matrix with γ’-Ni3(Al,Ti) and some δ- Ni3Nb phases as well as lamellar particles (η-Ni3Ti, η*-Ni6AlNb or Ni6(Al,Ti)Nb) precipitated at the grain boundaries. The primary strengthening mechanism for this alloy is a precipitation hardening, therefore size and distribution of precipitates are critical for the performance of the alloy. The aim of this study was to characterize precipitates in the 718Plus superalloy using Scanning Transmission Electron Microscope combined with Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (STEM-EDX) and Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM). The STEM-EDX and FIB-SEM tomography techniques were used for 3D imaging and metrology of the precipitates. Transmission electron microscopy and EDX spectroscopy were used to reveal details of the 718Plus microstructure and allow determine chemical composition of the phases. The study showed that electron tomography techniques permit to obtain complementary information about microstructural features (precipitates size, shape and their 3D distribution) in the reconstructed volume with comparison to conventional particle analysis methods, e.g. quantitative TEM and SEM metallography.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2016, 61, 2A; 535-542
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Classification of internal damages of the sample with a layer based on acoustic emission and microscopic observations
Klasyfikacja uszkodzeń wewnętrznych próbki z warstwą za pomocą metody emisji akustycznej i obserwacji mikroskopowych
Autorzy:
Piątkowska, A.
Kucharski, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/329430.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
Tematy:
emisja akustyczna
indentacja
pękanie
dekohezja
FIB
acoustic emission
indentation
cracks
decohesion
Opis:
An acoustic emission (AE) method was used to detect internal damages of diamond-likecarbon (DLC) thin layer deposited on silicon substrate. The AE signals were recorded during the entire indentation test using a broadband piezoelectric microsensor with measuring range 80Hz-1950kHz. Depending on the indenter's load, observations of surface by scanning electron microscopy (SEM) did not reveal any damage or showed single small cracks in the Vickers impression area. Therefore, it was assumed that the majority of the AE pulses originate from internal damages. Using the method of Focused Ion Beam (FIB) ion milling, indenter impression cross sections were performed. In this way, internal damages caused by indentation, such as decohesion of DLC-layer, DLC-layer cracking and the Si-substrate cracking, were revealed. As a result of microscopic and AE signal data comparison, it was possible to identify the type of failure and to describe the progress of damage during indentation. The results will be helpful in the selection of parameters during hardness tests of layered materials and in the analysis of the strength properties of the samples with layers.
W niniejszej pracy metoda pomiarów emisji akustycznej (EA) została zastosowana do detektowania wewnętrznych uszkodzeń cienkiej warstwy DLC nałożonej na krzemowe podłoże. Uszkodzenia realizowane były w teście indentacji, a rejestracji sygnałów EA dokonywano podczas całego procesu obciążania i odciążania wgłębnika Vickersa. W zależności od wielkości maksymalnego obciążenia na powierzchni odcisków obserwowano za pomocą mikroskopu skaningowego brak bądź występowanie małych pęknięć warstwy DLC. Zarejestrowane sygnały EA pochodziły głównie z uszkodzeń wewnętrznych, które były ujawnianie za pomocą trawienia wiązką jonów. Zaobserwowano uszkodzenia różnego rodzaju, takie jak dekohezja i pęknięcia lateralne warstwy i/lub podłoża. Za pomocą parametrów sygnału EA możliwe było określenie rodzaju oraz zasięgu wewnętrznych uszkodzeń.
Źródło:
Diagnostyka; 2012, 4(64); 49-53
1641-6414
2449-5220
Pojawia się w:
Diagnostyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-6 z 6

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies