Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Wojcieszak, Ł." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Inclusiveness as an attribute of development from the aspect of intellectual property protection
Autorzy:
Kaczmarska, B.
Gierulski, W.
Wojcieszak, Ł.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/340092.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Zarządzania Produkcją
Tematy:
innovative technologies
inventions
commercialization
inclusiveness
technologie innowacyjne
wynalazki
komercjalizacja
globalność
Opis:
The level of technology that constitutes the resources of individual countries is an important attribute of development. It is therefore necessary to create new solutions and to empower enterprises with new innovative technologies, preferably derived from endogenous sources. People who are well-educated and young are the most creative and their ideas constitute the beginning of the commercialization processes. The protection of intellectual property facilitates the implementation of these processes, whose outcomes include products that in many cases demonstrate the features of inclusiveness. This paper presents the importance of the actions of patent offices in areas related to the protection of intellectual property with regards to development that brings universal benefits.
Źródło:
Zarządzanie Przedsiębiorstwem; 2018, 21, 2; 6-13
1643-4773
Pojawia się w:
Zarządzanie Przedsiębiorstwem
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Study of structural and optical properties of TiO2:(Eu, Pd) thin films deposited by magnetron sputtering
Badanie właściwości strukturalnych i optycznych cienkich warstw TiO2:(Eu, Pd) wytwarzanych metodą rozpylania magnetronowego
Autorzy:
Kaczmarek, D.
Domaradzki, J.
Prociow, E. L.
Wojcieszak, D.
Michalec, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/192413.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
TiO2
cienkie warstwy
warstwa cienka
rozpylanie magnetronowe
thin films
magnetron sputteing
Opis:
In this study the results on TiO2 thin films doped with europium and palladium at the amount of 0.9 at. % and 5.8 at. % respectively have been presented. For thin films deposition the high energy (HE) magnetron sputtering method was used. Some samples were subjected to the post-processed annealing. X-Ray Diffraction (XRD) results have shown that after deposition nanocrystalline TiO2 - rutile structure was obtained. After additional annealing at 800°C average crystallites sizes increased about twofold (from 9 to 16 nm). The XRD results were confirmed using atomic force microscope. Optical properties of thin films were examined using optical transmission method. They have shown that doping with Eu and Pd has decreased the transmission level by about 15% and shifted absorption edge to the longer wavelength range (from 330 to 450 nm) compared to pure TiO2. The width of optical bandgap of TiO2:(Eu, Pd) thin film decreased to ca. 1.7 eV, i.e. twofold, when compared to 3.35 eV of undoped-TiO2. The photoluminescence results have shown that examined thin film has strong red luminescence from standard Eu3+ emission lines.
W pracy przedstawiono wyniki badań cienkich warstw TiO2 domieszkowanych europem i palladem, w ilości odpowiednio 0,9 % at. i 5,8 % at. Do nanoszenia cienkich warstw zastosowano wysokoenergetyczny proces (High Energy) rozpylania magnetronowego. Wybrane próbki poddano dodatkowemu poprocesowemu wygrzewaniu. Wyniki dyfrakcji rentgenowskiej (X-Ray Difrraction - XRD) wykazały, że bezpośrednio po naniesieniu otrzymano nanokrystaliczną warstwę TiO2 o strukturze rutylu. Po dodatkowym wygrzewaniu w temperaturze 800°C średnia wielkość krystalitów wzrosła około dwukrotnie (z 9 do 16 nm). Wyniki badań XRD zostały potwierdzone za pomocą badań wykonanych za pomocą mikroskopu sił atomowych. Właściwości optyczne cienkich warstw określono na podstawie wyników badań metodą transmisji światła. Uzyskane wyniki wykazały, że domieszkowanie Eu i Pd spowodowało spadek przezroczystości warstwy o ~ 15% i przesunięcie krawędzi absorpcji optycznej w stronę dłuższych fal (z 330 do 450 nm) w porównaniu do warstwy niedomieszkowanego TiO2. Szerokość optycznej przerwy zabronionej dla cienkiej warstwy TiO2:(Eu, Pd) po naniesieniu wynosiła 1,7 eV i była około dwukrotnie mniejsza w porównaniu do 3,35 eV dla warstwy TiO2. Wyniki badań foto-luminescencji pokazały, że badana warstwa wykazuje silną czerwoną luminescencję odpowiadającą standardowym linią emisyjnym Eu3+.
Źródło:
Materiały Elektroniczne; 2008, T. 36, nr 3, 3; 117-127
0209-0058
Pojawia się w:
Materiały Elektroniczne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies