Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Stephan, W." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Genetic variation of F1 hybrids from controlled crosses between Pinus montana var.rostrata and Pinus sylvestris in morphological needle traits
Autorzy:
Bobowicz, M A
Stephan, B.R.
Prus-Glowacki, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2041217.pdf
Data publikacji:
2001
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
F1 hybrid
multivariate analysis
Pinus sylvestris
genetics
needle
hybridization
hybrid
cross
morphology
Pinus mugo
Pinus montana
genetic variation
Źródło:
Journal of Applied Genetics; 2001, 42, 4; 449-466
1234-1983
Pojawia się w:
Journal of Applied Genetics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Experimental Investigation of Few-Nucleon Dynamics at Medium Energies
Autorzy:
Khatri, G.
Bodek, K.
Ciepał, I.
Kalantar-Nayestanaki, N.
Kistryn, St.
Kłos, B.
Kozela, A.
Magiera, A.
Mazumdar, I.
Messchendorp, J.
Parol, W.
Rozpędzik, D.
Skwira-Chalot, I.
Stephan, E.
Wrońska, A.
Zejma, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1402633.pdf
Data publikacji:
2015-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
21.30.-x
24.70.+s
25.10,+s
13.75.Cs
Opis:
An experiment, with unpolarized deuteron beam of 160 MeV impinging on liquid hydrogen and liquid deuterium targets, was carried out using BINA detector at KVI, in Groningen, the Netherlands. Data were collected for the purpose of obtaining high precision differential cross-section for the deuteron break-up reaction. The elastic scattering data were also collected alongside. We present here the methods applied in analysis of data collected in the backward part of the detector.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2015, 127, 5; 1529-1530
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Hard X-ray Microscopy with Elemental, Chemical and Structural Contrast
Autorzy:
Schroer, C.
Boye, P.
Feldkamp, J.
Patommel, J.
Schropp, A.
Samberg, D.
Stephan, S.
Burghammer, M.
Schöder, S.
Riekel, C.
Lengeler, B.
Falkenberg, G.
Wellenreuther, G.
Kuhlmann, M.
Frahm, R.
Lützenkirchen-Hecht, D.
Schroeder, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1539040.pdf
Data publikacji:
2010-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.37.Yz
41.40.th
Opis:
We review hard X-ray microscopy techniques with a focus on scanning microscopy with synchrotron radiation. Its strength compared to other microscopies is the large penetration depth of hard x rays in matter that allows one to investigate the interior of an object without destructive sample preparation. In combination with tomography, local information from inside of a specimen can be obtained, even from inside special non-ambient sample environments. Different X-ray analytical techniques can be used to produce contrast, such as X-ray absorption, fluorescence, and diffraction, to yield chemical, elemental, and structural information about the sample, respectively. This makes X-ray microscopy attractive to many fields of science, ranging from physics and chemistry to materials, geo-, and environmental science, biomedicine, and nanotechnology. Our scanning microscope based on nanofocusing refractive X-ray lenses has a routine spatial resolution of about 100 nm and supports the contrast mechanisms mentioned above. In combination with coherent X-ray diffraction imaging, the spatial resolution can be improved to the 10 nm range. The current state-of-the-art of this technique is illustrated by several examples, and future prospects of the technique are given.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2010, 117, 2; 357-368
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies