Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "high-speed scanning" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Multifunction measuring methodology for monitoring the cutting zone with dynamic phenomenon in turning of superalloys applying thermovision and high-speed scanning
Metodyka pomiarów wielofunkcyjnych w monitorowaniu strefy skrawania z wykorzystaniem zjawisk dynamicznych w procesie toczenia nadstopów z zastosowaniem termowizji i szybkiego skanowania
Autorzy:
Sajgalik, M.
Czán, A.
Svitana, M.
Ščotka, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/175917.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
cutting zone
multifunction measuring
thermovision
high-speed scanning
strefa skrawania
pomiary wielofunkcyjne
termowizja
szybkie skanowanie
Opis:
Processes in a cutting zone are so complicated and dynamic, that their description is performed by specifically created models. As the models have faults and deviations, it is necessary to improve them so that these deviations become as little as possible or completely abolished and focus on the area of micro-cutting. Examining new ways should be based on the previous research and it is necessary to know the details of the contemporary knowledge. In examining the cutting zone one could widely use nondestructive methods (such as thermovision and high-speed scanning).
Procesy zachodzące w strefie skrawania cechują się dużą dynamiką i złożonością. Stąd są najczęściej definiowane za pomocą specjalnie tworzonych modeli. Jednak same modele z reguły mają usterki i uproszczenia. Z tego względu więc niezbędna jest korekta modeli, dla zmniejszenia skali błędów lub ich całkowitego wyeliminowania. W trakcie poszukiwania nowych metod w opracowaniu modeli należy stosować współczesne możliwości badawcze strefy. Obecnie charakteryzacja strefy skrawania jest prowadzona za pomocą metod nieniszczących, m.in. termowizji i szybkiego skanowania.
Źródło:
Advances in Manufacturing Science and Technology; 2013, 37, 3; 17-31
0137-4478
Pojawia się w:
Advances in Manufacturing Science and Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
New tool microscopy technique
Autorzy:
Rybka, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/951236.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
VS120 system
high speed scanning system
differential interference contrast microscopy
virtual microscopy
virtual slide system
Źródło:
BioTechnologia. Journal of Biotechnology Computational Biology and Bionanotechnology; 2015, 96, 1
0860-7796
Pojawia się w:
BioTechnologia. Journal of Biotechnology Computational Biology and Bionanotechnology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Interferometer-based scanning probe microscope for high-speed, long-range, traceable measurements
Mikroskop z sondą skanującą na bazie interferometru do szybkich spójnych pomiarów małych przemieszczeń o dużym zakresie
Autorzy:
Vorbringer-Dorozhovets, N.
Manske, E.
Jäger, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153193.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
nanopositioning and nanomeasuring machine
metrological scanning probe microscope
SPM
AFM
maszyna nanopozycjonująca i nanopomiarowa
metrologiczny mikroskop z sondą skanującą
Opis:
The specialty of the metrological SPM-head is the combined deflection detection system for simultaneous acquisition of bending, torsion and position of the cantilever with one measuring beam. The deflection system comprises a beam deflection and an interferometer in such a way that measurements of the cantilever displacement are traceable to the SI unit metre. Integrated into a NPM machine scans with a resolution of 0.1 nm over a range of 25 mm × 25 mm are possible.
W artykule przedstawiono wyniki dotyczące opracowanej i zrealizowanej w Ilmenau University of Technology (Niemcy) maszyny Nano-pozycjonującej (NPM), która zapewnia nanometrową rozdzielczość oraz niepewność 3D pozycjonowania oraz pomiaru w zakresie 25 mm × 25 mm × 5 mm. Jednym ze składowych elementów tej maszyny, od którego zależą jej własności metrologiczne, jest mikroskop z sondą skanującą (SPM) na bazie interferometru, którego koncepcję przedstawiono na (rys. 1). Wykonana według tej koncepcji głowica metrologicznego SPM została zintegrowana z NPM maszyny (rys. 2). Osobliwością głowicy SPM jest system dla jednoczesnej akwizycji ugięcia, skręcania i pozycji belki wspornikowej tylko z jednej wiązki światła (rys. 1). Zostały wykonane badania dokładności pozycjonowania i pomiaru przy różnych szybkościach skanowania obiektu badanego od 1 µm/s do 1 mm/s. Przykładowe wyniki skanowania przedstawiono na rys. 3, 4. W celu wyznaczania jakości tych wyników oraz kalibracji SPM został wykorzystany zestaw wzorców wysokości skokowych z Physikalisch-Technische Bundesanstalt – PTB (rys. 6), oraz wykonane w specjalny sposób wzorce testowych wskaźników odniesienia rozstawionych na stosunkowo dużych odległościach (rys. 7). Uzyskane z SPM wyniki pomiarów wzorców wysokości oraz niepewności tych wyników wykazały bardzo dobrą zbieżność z wartościami wielkości tych wzorców (tab. 1). Wyznaczona powtarzalność wyników jest na poziomie poniżej 0.2 nm. Bardzo dobre wyniki uzyskano przy pomiarach testowych wskaźników odniesienia, powtarzalność wyników pomiaru centrów współrzędnych wskaźników wynosi poniżej 5 nm (tab. 2).
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 2, 2; 69-72
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies