Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "measuring instrument capability" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Application Of Bias Randomization In Evaluation Of Measuring Instrument Capability
Autorzy:
Fotowicz, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220973.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
measurement uncertainty
bias randomization
measuring instrument capability
Opis:
The paper deals with the problem of bias randomization in evaluation of the measuring instrument capability. The bias plays a significant role in assessment of the measuring instrument quality. Because the measurement uncertainty is a comfortable parameter for evaluation in metrology, the bias may be treated as a component of the uncertainty associated with the measuring instrument. The basic method for calculation of the uncertainty in modern metrology is propagation of distributions. Any component of the uncertainty budget should be expressed as a distribution. Usually, in the case of a systematic effect being a bias, the rectangular distribution is assumed. In the paper an alternative randomization method using the Flatten-Gaussian distribution is proposed.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 4; 513-520
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies