Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Sofienko, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Kinetics of Charge Transport in Wide-Band Semiconductors at the Detection of X-Ray Radiation
Autorzy:
Degoda, V.
Sofienko, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1550473.pdf
Data publikacji:
2010-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
64.70.kg
68.55.ag
07.77.Ka
Opis:
As a result of absorption of X-ray quantum in a semiconductor, the generation of electron-hole pairs takes place in a small volume (diameter < 0.5 μm). Their surplus energy is lost due to the scattering on phonons of the crystal lattice. Spatial distribution of the charge carriers makes the form of current pulse on electrodes of the crystal complicated when an external electric field is applied. We present a logical chart of construction of basic kinetic model of X-ray conductivity (XRC) in semiconductors that uses the successive in time calculation of the spatial distribution of free charge carriers and the diffusive-drift model of motion of free carriers in a solid. The basic form of current pulse in an external circle was obtained in the analytical kind for the case of an ideal semiconductor, e.g. that does not contain deep traps and recombination centers, as well as for the case of a crystal with dominant shallow or deep traps of electrons and holes.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2010, 117, 1; 155-160
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies