Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Wu, H." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Theoretical Studies of the Spin Hamiltonian Parameters and Local Structures for the Two Tetragonal $Cu^{2+}$ Centers in $Ca(OH)_2$
Autorzy:
Zhang, H.
Wu, S.
Zhang, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1493658.pdf
Data publikacji:
2011-09
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
76.30.Fc
Opis:
The spin Hamiltonian parameters (g factors $g_{∥ },$ $g_{⊥}$ and the hyperfine structure constants $A_{∥ },$ $A_{⊥}$) and the local structures for the two tetragonal $Cu^{2+}$ centers I and II in $Ca(OH)_2$ are theoretically studied from the perturbation formulae of these parameters for a $3d^9$ ion under tetragonally elongated octahedra. The $[Cu(OH)_6]^{4-}$ clusters on the substitutional $Ca^{2+}$ site are found to suffer the relative elongations by about 0.083 Å and 0.065 Å for centers I and II, respectively, along the $C_4$ axis due to the Jahn-Teller effect. The above tetragonal elongations may entirely depress the original trigonal distortion of the host $Ca^{2+}$ site in $Ca(OH)_2$. The calculated spin Hamiltonian parameters based on the above Jahn-Teller elongations show good agreement with the experimental results. The EPR spectra and the local structures for the two centers are compared with one another.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 3; 507-511
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Generalized integrated importance measure for system performance evaluation: application to a propeller plane system
Uogólniona miara zintegrowanej ważności komponentów jako narzędzie oceny wydajności systemu: zastosowanie w odniesieniu do układu śmigłowca
Autorzy:
Dui, H.
Chen, L.
Wu, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301830.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
wydajność systemu
miara ważności
rozkład Weibulla
szybkość przejścia
system performance
importance measure
Weibull distribution
transition rate
Opis:
Miara zintegrowanej ważności (IIM) pozwala oceniać szybkość zmian wydajności systemu powstałych w wyniku przejścia elementu systemu z jednego stanu do drugiego. IIM pozwala rozważać scenariusze, w których szybkość przejścia elementu z jednego stanu do drugiego jest stała. Jest to jednak sprzeczne z założeniem degradacji, zgodnie z którym wydajność systemu obniża się, w związku z czym, szybkość przejścia może z upływem czasu ulegać zwiększeniu. Rozkład Weibulla opisuje żywotność danego elementu, co wykorzystuje się w wielu różnych zastosowaniach technicznych do modelowania złożonych zbiorów danych. W przedstawionej pracy, rozszerzono IIM uzyskując nową miarę ważności, która pozwala rozważać scenariusze, w których szybkość przejścia elementu z jednego stanu do drugiego w wyniku degradacji jest zależną od czasu funkcją rozkładu Weibulla. Przyjęto, że warunkowy rozkład prawdopodobieństwa elementu przebywającego w pewnym stanie jest rozkładem Weibulla, gdzie dany jest kolejny stan do którego ma przejść dany element. Badania nad nową miarą ważności umożliwiają identyfikację najważniejszych elementów podczas trzech różnych okresów czasu życia systemu, co odpowiada charakterystyce rozkładów Weibulla. Dla ilustracji, wyprowadzono pewne właściwości probabilistyczne i zastosowano rozszerzoną miarę ważności do analizy przykładu rzeczywistego układu śmigłowca.
The integrated importance measure (IIM) evaluates the rate of system performance change due to a component changing from one state to another. The IIM simply considers the scenarios where the transition rate of a component from one state to another is constant. This may contradict the assumption of the degradation, based on which system performance is degrading and therefore the transition rate may be increasing over time. The Weibull distribution describes the life of a component, which has been used in many different engineering applications to model complex data sets. This paper extends the IIM to a new importance measure that considers the scenarios where the transition rate of a component degrading from one state to another is a time-dependent function under the Weibull distribution. It considers the conditional probability distribution of a component sojourning at a state is the Weibull distribution, given the next state that component will jump to. The research on the new importance measure can identify the most important component during three different time periods of the system lifetime, which is corresponding to the characteristics of Weibull distributions. For illustration, the paper then derives some probabilistic properties and applies the extended importance measure to a real-world example (i.e., a propeller plane system).
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2017, 19, 2; 279-286
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Advanced Characterization of Material Properties on the Nanometer Scale Using Atomic Force Microscopy
Autorzy:
Fenner, M.
Wu, S.
Yu, J.
Huber, H.
Kienberger, F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1490089.pdf
Data publikacji:
2012-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
77.55.-g
07.79.-v
68.37.Ps
68.37.Uv
07.57.Pt
Opis:
We report recent advances in material characterization on the nanometer scale using scanning microwave microscopy. This combines atomic force microscopy and a vector network analyzer using microwave tip sample interaction to characterize dielectric and electronic material properties on the nanometer scale. We present the methods for calibration as well as applications. Scanning microwave microscopy features calibrated measurements of: (1) capacitance with attofarad sensitivity. For calibration a well characterized array of capacitors (0.1 fF to 10 fF) is used. The method is applied to determine the dielectric properties of thin organic films, (2) Semiconductor dopant density. Calibration is performed by imaging the cross-section of a standard sample with differently doped layers (dopant stair case) from $10^{16}$ atoms/$cm^3$ to $10^{20}$ atoms/$cm^3$.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2012, 121, 2; 416-419
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Investigations on the EPR Parameters of $KMgF_3$:$Cr^{+}$
Autorzy:
Kuang, M.
Wu, S.
Hu, X.
Li, G.
Zu, H.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1365348.pdf
Data publikacji:
2014-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.10.Dg
76.30.Fc
Opis:
The electron paramagnetic resonance parameters (i.e., g factor, hyperfine structure constant and superhyperfine parameters) of $KMgF_3$:$Cr^{+}$ are theoretically investigated from the perturbation formulae of these parameters for an octahedral $3 d^5$ cluster. As for the calculations of g factor and hyperfine structure constant, both the contributions from the crystal-field and charge transfer mechanisms are included based on the cluster approach. The metal to ligand charge transfer contribution to the g-shift Δg ( ≈ g-2.0023) is the same (negative) in sign and much larger in magnitude as compared to the crystal-field one. The conventional argument that the charge transfer contributions to zero-field splittings are negligible for $3 d^5$ ions in fluorides is no longer suitable for Δg analysis of $KMgF_3$:$Cr^{+}$ due to the dominant second-order charge transfer perturbation term. The charge transfer contribution to hyperfine structure constant exhibits the same sign and about 4% of the crystal-field one. The unpaired spin densities of the fluorine 2s, 2pσ and 2pπ orbitals are quantitatively acquired from the relationships with the relevant molecular orbital coefficients using the uniform model. The present treatments are superior to the previous calculations of directly fitting the experimental superhyperfine parameters.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 5; 1224-1228
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Genetic diversity and relationship of Hunan province of China local tree peonies based on SSR markers
Autorzy:
Zhang, M.-H.
Jin, X.-L.
Wen, Y.-F.
Shen, S.
Wen-Xing
Wu, S.
Lu, J.-H.
Ye-Ye
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/12665369.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Uniwersytet Przyrodniczy w Lublinie. Wydawnictwo Uniwersytetu Przyrodniczego w Lublinie
Tematy:
China
Hunan Province
plant cultivation
tree peony
Paeonia suffruticosa
ornamental plant
genetic diversity
genetic relationship
SSR marker
Opis:
Paeonia sect. Moutan is a wide known ornamental plant in the world. The objective of this study was to provide the theoretical basis for scientific preservation and utilization of tree peony resources of Hunan province of China. Simple sequence repeat (SSR) markers were applied to reveal the genetic diversity and relationship of 21 tree peony resources and 45 domestic and foreign tree peony cultivars. Clear bands, the size of which ranged from 115 bp to 379 bp, were detected with 14 primers. In total, 90 alleles were detected and the number of alleles detected with one primer varied between 5 and 13; the number of effective alleles ranged from 1.183 to 2.070; the polymorphism ratio of each locus was 100%. The observed heterozygosity, which ranged from 0.120 to 0.851 with an average of 0.532, was larger than the expected one, which ranged from 0.090 to 0.470 with an average of 0.300. Shannon index ranged from 0.137 to 0.695 and fixation index ranged from −0.332 to −0.869. The results show abundant genetic diversity in tree peony of Hunan province and SSR markers distinguishing homonymous tree peony resources successfully.
Źródło:
Acta Scientiarum Polonorum. Hortorum Cultus; 2019, 18, 4; 213-223
1644-0692
Pojawia się w:
Acta Scientiarum Polonorum. Hortorum Cultus
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies