Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "lifetime" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Wzrost i właściwości optyczne kryształu BaGd2 (MoO4)4 domieszkowanego Er3+
    Growth and optical properties of Er3+-doped BaGdcrystal 2 (MoO4)4
    Autorzy:
    Han, S.
    Wang, J.
    Zhang, H.
    Pan, S.
    Xv, H.
    Wang, Y.
    Shen, C.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/142191.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Przemysłu Chemicznego. Zakład Wydawniczy CHEMPRESS-SITPChem
    Tematy:
    Wytwarzanie kryształów
    ciepło właściwe
    widmo
    czas trwania fluorescencji
    crystal growth
    specific heat
    spectrum
    fluorescence lifetime
    Opis:
    Pojedynczy kryształ BaGd2(MoO4)4 domieszkowany 1% at. Er3+ wyhodowano metodą Czochralskiego. Omówiono szczegóły procedury otrzymywania i wzrostu kryształu. Kryształ ma doskonałą płaszczyznę poślizgu (010), a jego łupliwość czyni go przydatnym jako ośrodek czynny w mikrolaserach. Zmierzono widmo absorpcyjne w zakresie światła widzialnego i bliskiej podczerwieni (NIR) w temperaturze pokojowej. W zakresie od 380 do 1600 nm występuje kilka intensywnych pików absorpcyjnych. Zmierzono również widmo fluorescencyjne wzbudzane za pomocą lampy ksenonowej. Zaobserwowano intensywny pik emisyjny NIR 1536 nm. Czasy trwania fluorescencji 4I13/2 oraz 4I11/2 wyznaczone za pomocą dopasowania krzywej wykładniczej wyniosły odpowiednio 5,85 ms i 112,62 μs. Ciepło właściw Er3+ BaGd2(MoO4)4 w 25°C wynosi 0,471 J g-1 K-1. Na podstawie zmierzonych widm obliczono parametry optyczne na podstawie teorii Judda-Ofelta (J–O).
    A 1 at % Er3+ doped BaGd2(MoO4)4 single crystal was grown by the Czochralski method. Details on the preparation and growth procedures were discussed. The crystal has a perfect (010) cleavage plane, and the cleavage character makes the crystal suitable as a gain medium for microchip lasers. The absorption spectrum in the visible and near-infrared (NIR) regions was measured at room temperature. There are several strong absorption peaks in the range from 380 to 1600 nm. The fluorescence spectrum excited by a Xenon lamp was also measured. A strong NIR emission peak located at 1536 nm was observed. The fluorescence lifetimes of 4I13/2 and 4I11/23+:BaGd2(MoO4)4 at 25°C is 0.471 J g-1 K-1. Using the measured spectra, the optical parameters were calculated using the J–O theory.
    Źródło:
    Chemik; 2013, 67, 9; 763-770
    0009-2886
    Pojawia się w:
    Chemik
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Lifetime prediction method for electron multiplier based on accelerated degradation test
    Metoda prognozowania cyklu życia powielacza elektronów oparta na przyspieszonych badaniach degradacji
    Autorzy:
    Wang, Y.
    Zhang, C.
    Chen, X.
    Tan, Y.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301960.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    electron multiplier
    accelerated degradation test
    lifetime prediction
    reliability
    powielacz elektronów
    przyspieszone badanie degradacji
    prognozowanie cyklu życia
    niezawodność
    Opis:
    Electron multiplier (EM) is a kind of highly reliable and long-lifetime vacuum electronic device applied widely in spectrometry, space exploration and atom frequency standard. It is a critical device which might constrain the related technology. A challenge remains for researcher and engineer how to predict the life span of EM. Firstly, degradation mechanism of EM is investigated. It shows that the secondary emission ratios of each multiplier electrode reduces gradually with operating time, which results in the degradation of the key performance index of EM, i.e. the gain of electric current. So an accelerated degradation test (ADT) methodology using dual stresses is proposed to predict the life span of EM. Secondly, the ADT plan with dual stresses is designed and carried out by the corresponding test system established. Finally, the data analysis procedure is presented, and its validity is investigated by model verification. The presented method can sharply reduce testing time and cost because of using accelerated stress which can accelerate degradation process of EM. This method can also provide a new way to lifetime and reliability prediction for other products with long lifetime and high reliability.
    Powielacz elektronów (EM) to elektroniczne urządzenie próżniowe o wysokiej niezawodności i długim cyklu życia, które znajduje szerokie zastosowanie w spektrometrii i badaniach przestrzeni kosmicznej, a także w atomowych wzorcach częstotliwości. Jest to urządzenie krytyczne, które może stanowić ograniczenie dla technologii, w której jest wykorzystywane. Wyzwaniem dla naukowców i inżynierów pozostaje pytanie, jak przewidzieć żywotność EM. W pierwszej kolejności w artykule zbadano mechanizm degradacji EM. Badanie pokazało, że współczynniki emisji wtórnej elektrody powielacza maleją stopniowo wraz z upływem czasu pracy, co prowadzi do degradacji kluczowego wskaźnika wydajności EM, to znaczy wzmocnienia prądu elektrycznego. W oparciu o ten fakt, zaproponowano metodę prognozowania żywotności EM zasadzającą się na metodologii przyspieszonych badań degradacji (ADT) z wykorzystaniem podwójnych naprężeń. Następnie zaprojektowano i zrealizowano plan ADT z podwójnymi naprężeniami za pomocą odpowiedniego systemu testowego. Na koniec przedstawiono procedurę analizy danych, a ich wiarygodność zbadano poprzez weryfikację modelu. Przedstawiona metoda może znacznie zredukować czas i koszty badań dzięki wykorzystaniu przyspieszonych naprężeń, które mogą przyspieszyć proces degradacji EM. Metoda ta może również umożliwić nowy sposób przewidywania niezawodności i cyklu życia produktów o długim cyklu życia i wysokiej niezawodności.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2014, 16, 3; 484-490
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Lifetime prediction of self-lubricating spherical plain bearings based on physics-of-failure model and accelerated degradation test
    Prognozowanie czasu pracy samosmarujących łożysk ślizgowych w oparciu o model fizyki uszkodzeń oraz przyspieszone badania degradacji
    Autorzy:
    Wang, Y.
    Fang, X.
    Zhang, C.
    Chen, X.
    Lu, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/300754.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    accelerated degradation test
    self-lubricating spherical plain bearing
    lifetime prediction
    physicsof-failure model
    przyspieszone badanie degradacji
    samosmarujące łożysko ślizgowe
    prognozowanie czasu pracy
    model fizyki uszkodzeń
    Opis:
    Due to small friction coefficient and no need for lubrication during operation, self-lubricating spherical plain bearings (SSPBs) have been widely used in operation and transmission systems in aerospace, nuclear power plants, and ship equipment and they are key components of these systems. SSPBs failure will directly affect the operational reliability and safety of the equipment; therefore, it is necessary to accurately predict the service life of SSPBs to define reasonable maintenance plans and replacement cycles and to ensure reliability and safety of vital equipment. So far, lifetime prediction of SSPB has been primarily based on empirical formulae established by most important bearing manufacturers. However, these formulae are lack of strong theoretical basis; the correction coefficients are difficult to determine, resulting in low accuracy of lifetime prediction. In an accelerated degradation test (ADT), the load is increased to accelerate the SSPB wear process. ADT provides a feasible way for accurate lifetime prediction of SSPB in a short period. In this paper, wear patterns are studied and methods of wear analysis are presented. Then, physics-offailure model which considers SSPB wear characteristics, structure parameters and operation parameters is established. Moreover, ADT method for SSPB is studied. Finally, lifetime prediction method of SSPBs based on physics-of-failure model and ADT is established to provide a theoretical method for quick and accurate lifetime prediction of SSPBs.
    W związku z niskim współczynnikiem tarcia oraz brakiem konieczności smarowania podczas pracy,samosmarujące łożyska ślizgowe (self-lubricating spherical bearings, SSPB) znajdują szerokie zastosowanie w układach pracy oraz układach przełożeń urządzeń w przemyśle lotniczym, elektrowniach jądrowych, oraz na statkach, stanowiąc kluczowe elementy tych układów. Uszkodzenie łożyska SSPB ma bezpośredni wpływ na niezawodność eksploatacyjną oraz bezpieczeństwo sprzętu; dlatego też istnieje konieczność precyzyjnego prognozowania resursu łożysk SSPB, pozwalającego na odpowiednie planowanie konserwacji oraz cykli wymiany , które ma na celu zapewnienie niezawodności i bezpieczeństwa kluczowego sprzętu. Dotychczas czas pracy łożysk SSPB prognozowano przede wszystkim w oparciu o wzory empiryczne podawane przez największych producentów łożysk. Wzory te, jednak, nie mają solidnej podstawy teoretycznej; trudno jest dla nich określić współczynniki korygujące, co zmniejsza trafność prognozowania czasu pracy. W przyspieszonych badaniach degradacji zwiększa się obciążenie celem przyspieszenia procesu zużycia łożysk SSPB. Badania przyspieszone umożliwiają trafne przewidywanie czasu pracy łożysk SSPB w krótkim okresie czasu. W przedstawionej pracy analizowano wzorce zużycia badanych łożysk oraz przedstawiono metody analizy zużycia. Następnie opracowano model fizyki uszkodzeń, który uwzględnia charakterystyki zużycia, parametry konstrukcyjne oraz parametry eksploatacyjne omawianych łożysk ślizgowych. Ponadto rozpatrywano możliwość zastosowania badań przyspieszonych dla tego typu łożysk. W wyniku przeprowadzonych badań, opracowano metodę prognozowania czasu pracy łożysk SSPB opartą na modelu fizyki uszkodzeń oraz badaniach przyspieszonych, która pozwala na szybkie i trafne prognozowanie czasu pracy samosmarujących łożysk ślizgowych.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2016, 18, 4; 528-538
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies