Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Zhang, Chen" wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-7 z 7
    Tytuł:
    Wave propagation in piezoelectric rings with rectangular cross-sections
    Autorzy:
    Zhang, X.
    Wang, Y.
    Chen, H.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/279995.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Polskie Towarzystwo Mechaniki Teoretycznej i Stosowanej
    Tematy:
    piezoelectric rings
    orthogonal polynomial
    guided wave
    dispersion curves
    Opis:
    The ring ultrasonic transducers are widely used in the ocean engineering and medical fields. This paper employs an extended orthogonal polynomial approach to solve the guided wave propagation in two-dimensional structures, i.e. piezoelectric rings with rectangular cross- -sections. The extended polynomial approach can overcome the drawbacks of the conven- tional orthogonal polynomial approach which can be used to solve wave propagation in one-dimensional structures. Through numerical comparison with the available results for a rectangular aluminum bar, the validity of the present approach is illustrated. The dispersion curves and displacement and electric potential distributions of various rectangular piezo- electric rings are calculated, and the effects of different radius to thickness ratios, width to height ratios and polarizing directions on the dispersion curves are illustrated.
    Źródło:
    Journal of Theoretical and Applied Mechanics; 2015, 53, 3; 673-682
    1429-2955
    Pojawia się w:
    Journal of Theoretical and Applied Mechanics
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System reliability demonstration with equivalent data from component accelerated testing based on reliability target transformation
    Stwierdzanie niezawodności systemu na podstawie równoważnych danych z przyspieszonych badań elementów składowych w oparciu o transformację celu niezawodnościowego
    Autorzy:
    Luo, W.
    Zhang, C.
    Chen, X.
    Wang, Y.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301742.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    reliability demonstration
    accelerated testing
    equivalent binomial component data
    reliability target transformation
    Bayesian attribute acceptance sampling plan
    stwierdzanie niezawodności
    badania przyspieszone
    równoważne dane dwumienne dla części składowych
    transformacja celu niezawodnościowego
    bayesowski planwyrywkowej kontroli odbiorczej systemu wg
    zadanych charakterystyk
    Opis:
    The reliability demonstration test (RDT) programs in general proceed at various levels, including component, subsystem, and system in the verification and validation phase of the product life cycle. The system reliability demonstration within feasible duration becomes a considerable issue because of the marketplace demands for decreased development time and cost. A method based on reliability target transformation is proposed to accomplish the system reliability demonstration with the data from the RDT of the components. In order to shorten the test time, the RDT plan for component under the accelerated condition is first designed. Then, the reliability target of the system with different lifetimes required by the producer and the consumer is transferred to the target with the same specified mission time, which should meet the time constraint of the system level test. Next, the lower limit confidence of component reliability at the system mission time are estimated and converted to the equivalent binomial component data by the curve fitting method, then they are synthesized to the equivalent binomial system data by the Bayesian method. Finally, the system reliability demonstration is considered. The system classical attribute acceptance sampling plan at the mission time is used to make decisions using the equivalent binomial system data. If the decision cannot be made, the system Bayesian attribute acceptance sampling plan will be designed with the equivalent data as the prior parameters and the complementary system test will be conducted.
    Ogólnie, oprogramowanie do badań stwierdzających niezawodność (RDT) można stosować na różnych poziomach, w tym na poziomie elementu składowego, podsystemu i systemu, w fazie weryfikacji i walidacji cyklu życia produktu. Stwierdzenie niezawodności systemu w realnym terminie staje się ważkim problemem ze względu na wymogi rynku co do zmniejszenia czasu i kosztów rozwoju. W prezentowanej pracy zaproponowano metodę opartą na transformacji celu niezawodnościowego, wedle której niezawodność systemu stwierdza się na podstawie danych z RDT części składowych. Aby skrócić czas testowania, w pierwszej kolejności tworzy się plan RDT dla części składowej w warunkach przyspieszonych. Następnie cel niezawodnościowy systemu przy różnych czasach pracy wymaganych przez producenta, jak i konsumenta, zostaje przetransponowany na cel o tym samym określonym czasie użytkowania, który powinien spełniać ograniczenie czasowe dla badań na poziomie systemu. Następnie szacuje się dolne granice przedziałów ufności dla niezawodności komponentów w określonym czasie eksploatacji systemu oraz przekształca się je na równoważne dane dwumienne dla części składowych z wykorzystaniem metody dopasowywania krzywych; dalej, są one syntetyzowane do równoważnych dwumiennych danych dotyczących systemu z zastosowaniem metody Bayesa. Pozwala to na stwierdzenie niezawodności systemu. Decyzje podejmuje się na podstawie równoważnych danych dwumiennych dotyczących systemu z wykorzystaniem klasycznego planu wyrywkowej kontroli odbiorczej systemu według zadanych charakterystyk dla określonego czasu użytkowania. Jeżeli decyzja nie może zostać podjęta w ten sposób, konstruuje się bayesowski plan wyrywkowej kontroli odbiorczej systemu wg. zadanych charakterystyk, gdzie dane równoważne stanowią parametry a priori, oraz przeprowadza się uzupełniające badania systemu.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2013, 15, 4; 356-363
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Lifetime prediction method for electron multiplier based on accelerated degradation test
    Metoda prognozowania cyklu życia powielacza elektronów oparta na przyspieszonych badaniach degradacji
    Autorzy:
    Wang, Y.
    Zhang, C.
    Chen, X.
    Tan, Y.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301960.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    electron multiplier
    accelerated degradation test
    lifetime prediction
    reliability
    powielacz elektronów
    przyspieszone badanie degradacji
    prognozowanie cyklu życia
    niezawodność
    Opis:
    Electron multiplier (EM) is a kind of highly reliable and long-lifetime vacuum electronic device applied widely in spectrometry, space exploration and atom frequency standard. It is a critical device which might constrain the related technology. A challenge remains for researcher and engineer how to predict the life span of EM. Firstly, degradation mechanism of EM is investigated. It shows that the secondary emission ratios of each multiplier electrode reduces gradually with operating time, which results in the degradation of the key performance index of EM, i.e. the gain of electric current. So an accelerated degradation test (ADT) methodology using dual stresses is proposed to predict the life span of EM. Secondly, the ADT plan with dual stresses is designed and carried out by the corresponding test system established. Finally, the data analysis procedure is presented, and its validity is investigated by model verification. The presented method can sharply reduce testing time and cost because of using accelerated stress which can accelerate degradation process of EM. This method can also provide a new way to lifetime and reliability prediction for other products with long lifetime and high reliability.
    Powielacz elektronów (EM) to elektroniczne urządzenie próżniowe o wysokiej niezawodności i długim cyklu życia, które znajduje szerokie zastosowanie w spektrometrii i badaniach przestrzeni kosmicznej, a także w atomowych wzorcach częstotliwości. Jest to urządzenie krytyczne, które może stanowić ograniczenie dla technologii, w której jest wykorzystywane. Wyzwaniem dla naukowców i inżynierów pozostaje pytanie, jak przewidzieć żywotność EM. W pierwszej kolejności w artykule zbadano mechanizm degradacji EM. Badanie pokazało, że współczynniki emisji wtórnej elektrody powielacza maleją stopniowo wraz z upływem czasu pracy, co prowadzi do degradacji kluczowego wskaźnika wydajności EM, to znaczy wzmocnienia prądu elektrycznego. W oparciu o ten fakt, zaproponowano metodę prognozowania żywotności EM zasadzającą się na metodologii przyspieszonych badań degradacji (ADT) z wykorzystaniem podwójnych naprężeń. Następnie zaprojektowano i zrealizowano plan ADT z podwójnymi naprężeniami za pomocą odpowiedniego systemu testowego. Na koniec przedstawiono procedurę analizy danych, a ich wiarygodność zbadano poprzez weryfikację modelu. Przedstawiona metoda może znacznie zredukować czas i koszty badań dzięki wykorzystaniu przyspieszonych naprężeń, które mogą przyspieszyć proces degradacji EM. Metoda ta może również umożliwić nowy sposób przewidywania niezawodności i cyklu życia produktów o długim cyklu życia i wysokiej niezawodności.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2014, 16, 3; 484-490
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Flotation separation of scheelite from calcite using sodium polyacrylate as depressant
    Autorzy:
    Zhang, Y.
    Chen, R.
    Li, Y.
    Wang, Y.
    Luo, X.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/110896.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
    Tematy:
    scheelite
    calcite
    flotation
    sodium polyacrylate
    selective depression
    Opis:
    The depressing properties of sodium polyacrylate (PA-Na) for calcite from scheelite were studied by microflotation experiments, zeta potentials, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and density functional theory (DFT) calculation. Flotation results revealed that the selective depression effect of PA-Na was better than that of sodium silicate (Na2SiO3), and PA-Na can depress calcite more effectively than scheelite. The flotation recovery of scheelite and calcite kept at about 75% and 15% respectively at the pulp pH 9.3~9.6 and PA-Na concentration from 37.5 mg/dm3 to 50 mg/dm3. The zeta potentials of the minerals were significantly altered and the zeta potential of calcite became more negative than scheelite. XPS analysis deduced the occurrence of chemisorption between PA-Na and mineral surfaces, and the chemisorption of PA-Na on calcite was stronger than on scheelite. The results from DFT calculation demonstrated that the absolute value of the adsorption energy in the presence of PA-Na on the surface of calcite {104} was larger than on the surface of scheelite {111}. With the combination of the analysis, it could be concluded that calcite was more easily depressed than scheelite, and this finding remarkably matched with the microflotation experimental results. Furthermore, by using PA-Na as depressant, the flotation separation of scheelite from calcite can be achieved by controlling the flotation pH and PA-Na dosage.
    Źródło:
    Physicochemical Problems of Mineral Processing; 2018, 54, 2; 505-516
    1643-1049
    2084-4735
    Pojawia się w:
    Physicochemical Problems of Mineral Processing
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Lifetime prediction of self-lubricating spherical plain bearings based on physics-of-failure model and accelerated degradation test
    Prognozowanie czasu pracy samosmarujących łożysk ślizgowych w oparciu o model fizyki uszkodzeń oraz przyspieszone badania degradacji
    Autorzy:
    Wang, Y.
    Fang, X.
    Zhang, C.
    Chen, X.
    Lu, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/300754.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    accelerated degradation test
    self-lubricating spherical plain bearing
    lifetime prediction
    physicsof-failure model
    przyspieszone badanie degradacji
    samosmarujące łożysko ślizgowe
    prognozowanie czasu pracy
    model fizyki uszkodzeń
    Opis:
    Due to small friction coefficient and no need for lubrication during operation, self-lubricating spherical plain bearings (SSPBs) have been widely used in operation and transmission systems in aerospace, nuclear power plants, and ship equipment and they are key components of these systems. SSPBs failure will directly affect the operational reliability and safety of the equipment; therefore, it is necessary to accurately predict the service life of SSPBs to define reasonable maintenance plans and replacement cycles and to ensure reliability and safety of vital equipment. So far, lifetime prediction of SSPB has been primarily based on empirical formulae established by most important bearing manufacturers. However, these formulae are lack of strong theoretical basis; the correction coefficients are difficult to determine, resulting in low accuracy of lifetime prediction. In an accelerated degradation test (ADT), the load is increased to accelerate the SSPB wear process. ADT provides a feasible way for accurate lifetime prediction of SSPB in a short period. In this paper, wear patterns are studied and methods of wear analysis are presented. Then, physics-offailure model which considers SSPB wear characteristics, structure parameters and operation parameters is established. Moreover, ADT method for SSPB is studied. Finally, lifetime prediction method of SSPBs based on physics-of-failure model and ADT is established to provide a theoretical method for quick and accurate lifetime prediction of SSPBs.
    W związku z niskim współczynnikiem tarcia oraz brakiem konieczności smarowania podczas pracy,samosmarujące łożyska ślizgowe (self-lubricating spherical bearings, SSPB) znajdują szerokie zastosowanie w układach pracy oraz układach przełożeń urządzeń w przemyśle lotniczym, elektrowniach jądrowych, oraz na statkach, stanowiąc kluczowe elementy tych układów. Uszkodzenie łożyska SSPB ma bezpośredni wpływ na niezawodność eksploatacyjną oraz bezpieczeństwo sprzętu; dlatego też istnieje konieczność precyzyjnego prognozowania resursu łożysk SSPB, pozwalającego na odpowiednie planowanie konserwacji oraz cykli wymiany , które ma na celu zapewnienie niezawodności i bezpieczeństwa kluczowego sprzętu. Dotychczas czas pracy łożysk SSPB prognozowano przede wszystkim w oparciu o wzory empiryczne podawane przez największych producentów łożysk. Wzory te, jednak, nie mają solidnej podstawy teoretycznej; trudno jest dla nich określić współczynniki korygujące, co zmniejsza trafność prognozowania czasu pracy. W przyspieszonych badaniach degradacji zwiększa się obciążenie celem przyspieszenia procesu zużycia łożysk SSPB. Badania przyspieszone umożliwiają trafne przewidywanie czasu pracy łożysk SSPB w krótkim okresie czasu. W przedstawionej pracy analizowano wzorce zużycia badanych łożysk oraz przedstawiono metody analizy zużycia. Następnie opracowano model fizyki uszkodzeń, który uwzględnia charakterystyki zużycia, parametry konstrukcyjne oraz parametry eksploatacyjne omawianych łożysk ślizgowych. Ponadto rozpatrywano możliwość zastosowania badań przyspieszonych dla tego typu łożysk. W wyniku przeprowadzonych badań, opracowano metodę prognozowania czasu pracy łożysk SSPB opartą na modelu fizyki uszkodzeń oraz badaniach przyspieszonych, która pozwala na szybkie i trafne prognozowanie czasu pracy samosmarujących łożysk ślizgowych.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2016, 18, 4; 528-538
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Telomerase enhances osteogenic ifferentiation of sheep bone marrow mesenchymal stem cells (BMSCs) by up-regulating PI3K/Akt pathway in vitro
    Autorzy:
    Zhu, X.
    Zhou, L.
    Liu, Z.
    Chen, X.
    Wei, L.
    Zhang, Z.
    Liu, Y.
    Zhu, Y.
    Wang, Y.
    Yang, X.
    Han, Y.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2087304.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    bone marrow mesenchymal stem cells
    telomerase
    proliferation
    osteogenic differentiation
    PI3K/Akt signalling pathway
    Źródło:
    Polish Journal of Veterinary Sciences; 2020, 23, 3; 359-372
    1505-1773
    Pojawia się w:
    Polish Journal of Veterinary Sciences
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    The Microstructural Evolution in HMX Based Plastic-bonded Explosive During Heating and Cooling Process: an in situ Small-angle Scattering Study
    Autorzy:
    Yan, G.
    Tian, Q.
    Liu, J.
    Fan, Z.
    Sun, G.
    Zhang, C.
    Wang, Y.
    Chen, B.
    Gong, J.
    Zhou, X.
    Yang, Z.
    Nie, F.
    Li, J.
    Li, X.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/358618.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Przemysłu Organicznego
    Tematy:
    SANS
    SAXS
    HMX-PBX
    thermal damages
    phase transition
    Opis:
    The thermal damage in octahydro-1,3,5,7-tetranitro-1,3,5,7-tetrazocine (HMX) based plastic-bonded explosive (PBX) was investigated using in situ small-angle neutron and X-ray scattering techniques. The microstructural evolution was quantitatively characterized by the model fitting parameters of total interfacial surface area (Sv) and void volume distribution. The Sv of HMX-PBX decreased markedly above 100 °C, indicating the movement of binder into the voids. After subsequent cooling to room temperature, the scattering intensity increased significantly with increasing storage time, and a new population of voids with average diameter of 20 nm was observed, accompanied by the gradual phase transition of HMX from δ- to β-phase. The experimental results implied that serious damage within the HMX-PBX was developed during storage after heating.
    Źródło:
    Central European Journal of Energetic Materials; 2016, 13, 4; 916-926
    1733-7178
    Pojawia się w:
    Central European Journal of Energetic Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-7 z 7

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies