Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "H30" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Magnetoresistive Properties of Manganite-Based Heterojunctions
Autorzy:
Devenson, J.
Vengalis, B.
Lisauskas, V.
Oginskis, A.
Anisimovas, F.
Ašmontas, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1807945.pdf
Data publikacji:
2009-06
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.70.-i
71.30.+h
73.50.-h
Opis:
Hole-doped $La_{2/3}Ba_{1/3}MnO_{3}$ (LBaMO), $La_{2/3}Ca_{1/3}MnO_{3}$ (LCaMO) and $La_{2/3}Ce_{1/3}MnO_{3}$ (LCeMO) thin films were grown heteroepitaxially on 0.1 wt.% Nb-doped $SrTiO_{3}(100)$ (STON) substrates by magnetron sputtering. The prepared LBaMO/STON, LCaMO/STON, LCeMO/STON heterostructures demonstrated nonlinear rectifying current-voltage characteristics. Negative magnetorestance values have been indicated at low bias, meanwhile bias-dependent magnetoresistance has been measured at positive bias voltage values U > U_d where U_d is the interfacial potential, corresponding to a steep current increase at a forward bias.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 115, 6; 1130-1132
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Growth and Investigation of Heterostructures Based on Multiferroic $BiFeO_3$
Autorzy:
Vengalis, B.
Devenson, J.
Oginskis, A.
Butkutė, R.
Maneikis, A.
Steikūnienė, A.
Dapkus, L.
Banys, J.
Kinka, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1813484.pdf
Data publikacji:
2008-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.30.+h
73.43.Qt
75.47.Lx
Opis:
We report heteroepitaxial growth of multiferroic $BiFeO_3$ thin films by RF magnetron sputtering on lattice-matched $SrTiO_3$ substrates, as well as preparation and electrical properties of the heterostructures formed by growing $BiFeO_3$ thin films on highly conductive $LaNiO_3$ films and n-Si substrates. Nonlinear and rectifying current-voltage (I-U) characteristics were revealed for the heterojunctions in a wide temperature range (T=78-300 K).
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 3; 1095-1098
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Synthesis and Electrical Properties of La-Pr-Mn-O Thin Films and Heterostructures
Autorzy:
Butkutė, R.
Anisimovas, F.
Oginskis, A. K.
Steikūnienė, A.
Devenson, J.
Vengalis, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2047223.pdf
Data publikacji:
2007-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.70.-i
71.30.+h
73.50.-h
75.70.Pa
Opis:
In this paper we report the results of synthesis and study of both ceramic samples and thin films of electronically doped La$\text{}_{0.7}$Pr$\text{}_{0.3}$MnO$\text{}_{3}$ and related heterostructures composed of La$\text{}_{0.7}$Pr$\text{}_{0.3}$MnO$\text{}_{3}$ and p-type La$\text{}_{0.67}$Ca$\text{}_{0.33}$MnO$\text{}_{3}$. The ceramic La$\text{}_{0.7}$Pr$\text{}_{0.3}$MnO$\text{}_{3}$ samples were prepared by a conventional solid state reaction technique. Single phase La$\text{}_{0.7}$Pr$\text{}_{0.3}$MnO$\text{}_{3}$ thin films and La$\text{}_{0.7}$Pr$\text{}_{0.3}$MnO$\text{}_{3}$/La$\text{}_{0.67}$ Ca$\text{}_{0.33}$MnO$\text{}_{3}$ heterostructures were grown on lattice-matched perovskite NdGaO$\text{}_{3}$ substrates by pulsed laser deposition. Electron doping was indicated both for ceramic La$\text{}_{0.7}$Pr$\text{}_{0.3}$MnO$\text{}_{3}$ samples and thin films from thermopower data. Both ceramic samples and thin films of La$\text{}_{0.7}$Pr$\text{}_{0.3}$MnO$\text{}_{3}$ demonstrated resistivity of about 10 mΩ cm at 300 K and semiconductor-like resistance vs. temperature behavior with cooling down to 78 K. Meanwhile, the resistance of the La$\text{}_{0.7}$Pr$\text{}_{0.3}$MnO$\text{}_{3}$/La$\text{}_{0.67}$Ca$\text{}_{0.33}$MnO$\text{}_{3}$ interface showed an anomalous peak at 185 K. A series of post-deposition annealing experiments demonstrated a crucial role of annealing temperature and ambience on both electrical and magnetic properties of La$\text{}_{0.7}$Pr$\text{}_{0.3}$MnO$\text{}_{3}$ material and the heterostructures.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2007, 111, 1; 111-115
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Growth and Investigation of $p-La_{2//3}Ca_{1//3}MnO_3$/n-Si Heterostructures
Autorzy:
Anisimovas, F.
Butkutė, R.
Devenson, J.
Maneikis, A.
Stankevič, V.
Pyragas, V.
Vengalis, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1813391.pdf
Data publikacji:
2008-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.30.+h
73.43.Qt
75.47.Lx
81.15.Fg
Opis:
We report the fabrication and investigation of p-n diode structures based on thin hole-doped $La_{2//3}Ca_{1//3}MnO_3$ films grown on n-type silicon substrates. $La_{2//3}Ca_{1//3}MnO_3$ films with typical thickness of about 400 nm were prepared using pulsed laser deposition. Reflection high-energy electron diffraction measurements revealed polycrystalline quality of $La_{2//3}Ca_{1//3}MnO_3$ thin films on Si substrates. The surface roughness of $La_{2//3}Ca_{1//3}MnO_3$ films investigated by atomic force microscopy was found to be in the range of 25÷30 nm. Studies of electrical properties showed that $La_{2//3}Ca_{1//3}MnO_3$/Si heterostructures exhibit nonlinear asymmetric I-V characteristics both at room temperature and at 78 K. Furthemore, it was shown that these I-V dependences are sensitive to magnetic field, especially at lower voltages.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 3; 997-1000
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies