Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Urban, Arkadiusz." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-8 z 8
    Tytuł:
    Kryzys prezydencki -- kryzys legalizmu 1954-1972 : rozłam polityczny 1950-1972
    Autorzy:
    Urban, Arkadiusz.
    Powiązania:
    Materiały do dziejów polskiego uchodźstwa niepodległościowego T. 3, Kierownictwo obozu niepodległościowego na obczyźnie 1945-1990 / kom. red. Edward Szczepanik (przewodniczący), Józef Jasnowski, Zdzisław Wałaszewski, Ludwik Maik Londyn, 1995 S. 80-110
    Współwytwórcy:
    Szczepanik, Edward. Redakcja
    Jasnowski, Józef. Redakcja
    Wałaszewski, Zdzisław. Redakcja
    Maik, Ludwik. Redakcja
    Szkuta, Aleksander. Redakcja
    Tematy:
    Anders, Władysław (1892-1970)
    Zaleski, August (1883-1972)
    Arciszewski, Tomasz
    Raczyński Edward
    Rząd Rzeczypospolitej Polskiej na uchodźstwie 1950-1972 r.
    Tymczasowa Rada Jedności Narodowej
    Rada Trzech
    Dostawca treści:
    Bibliografia CBW
    Artykuł
    Tytuł:
    Pomiar czasu ekspozycji w miernikach promieniowania rentgenowskiego
    Measurement of exposure duration in the X-ray analyser
    Autorzy:
    Urban, Arkadiusz
    Czubla, Albin
    Knyziak, Adrian
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/88863.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Główny Urząd Miar
    Tematy:
    pomiar czasu ekspozycji
    promieniowanie X
    aparat rentgenowski
    exposure time measurement
    X-ray
    X-ray machine
    X-ray multimeter
    Opis:
    W artykule opisano problematykę pomiarów przedziałów czasu równych czasowi ekspozycji promieniowania X. Pokazano zależność niepewności pomiaru od metody pomiarowej oraz od sposobu działania źródła promieniowania rentgenowskiego. Przedstawiono wpływ zakresu przedziału czasu mierzonego przez miernik na błąd pomiaru.
    The main idea of the article is a description of problems of X-ray exposure time measurement. The content describes two types of X-ray machines. Among the two X-ray machine types, continuous type with shutter is more suitable for long time measurement, and pulse type is better for short time measurements. The differences between mode of operation of different X-ray sources and it’s impact on uncertainty of measurement of exposure time are presented. It also discusses the impact of different resolution settings of device under calibration on uncertainty measurement.
    Źródło:
    Metrologia i Probiernictwo : biuletyn Głównego Urzędu Miar; 2020, 1 (24); 15-20
    2300-8806
    Pojawia się w:
    Metrologia i Probiernictwo : biuletyn Głównego Urzędu Miar
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wzorcowanie funkcji pomiaru czasu ekspozycji w miernikach promieniowania rentgenowskiego
    Calibration of exposure duration in the X-ray analyser
    Autorzy:
    Urban, Arkadiusz
    Czubla, Albin
    Knyziak, Adrian
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/268140.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    wzorcowanie miernika promieniowania X
    pomiar czasu ekspozycji
    promieniowanie X
    aparat rentgenowski
    calibration
    exposure time measurement
    X-ray
    X-ray machine
    X-ray multimeter
    Opis:
    W artykule opisano problematykę pomiarów przedziałów czasu równych czasowi ekspozycji promieniowania X. Pokazano zależność niepewności pomiaru od metody pomiarowej oraz od sposobu działania źródła promieniowania rentgenowskiego. Przedstawiono wpływ zakresu przedziału czasu mierzonego przez miernik na wielkość błędu.
    Main idea of the article is a description of problems of X-ray exposure time measurement. Content describes two types of X-ray machines. Among the two X-ray machine types, continuous type with shutter is more suitable for long time measurement, and pulse type is better for short time measurements. The article discuss differences between mode of operation of different X-ray sources and it’s impact on uncertainty of measurement of exposure time. It also discuss impact of different resolution settings of device under calibration on uncertainty measurement.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2019, 66; 91-94
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-8 z 8

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies